用于在光学计量中提供照明的系统技术方案

技术编号:12311302 阅读:82 留言:0更新日期:2015-11-11 19:29
本发明专利技术针对于用于向用于光学计量的测量头提供照明的系统。在本发明专利技术的一些实施例中,来自多个照明源的照明光束经组合以将处于一或多个选定波长的照明递送到所述测量头。在本发明专利技术的一些实施例中,递送到所述测量头的照明的强度及/或空间相干性被控制。在本发明专利技术的一些实施例中,处于一或多个选定波长的照明是从经配置用于提供处于连续波长范围的照明的宽带照明源递送的。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术一般来说涉及光学计量领域,且更特定来说涉及针对光学计量提供照明的系统。
技术介绍
基于散射计量技术的光学计量系统通常用于表征半导体中的关键装置层。光学计量系统的实例包含但不限于一维光束轮廓反射计量(ID-BPR)系统、二维光束轮廓反射计量(2D-BPR)系统、光谱反射计量系统及光谱椭圆偏振计量系统。前述光学计量系统及为此项技术所习知的其它系统照明样本以执行测量。当前采用各种照明系统来向光学计量系统的测量头提供照明。数个当前所采用照明系统遭受结构或性能缺点。一些当前系统不紧密且需要大数目个光学表面来导引或管理递送到测量头的照明。一些当前系统限于一或多个特定激光波长或不能够向测量头提供处于特定波长范围中的照明。一些当前系统极易受噪声影响,使得驱动光电调制器(例如,普克尔盒(Pockels cell))的电压中的甚至较小量的噪声可导致影响递送到测量头的照明的强度的不可接受量的噪声。一些当前系统缺少从自由空间耦合到光纤的稳定性,因此导致影响递送到测量头的照明的强度的大量噪声。一些当前系统易受由激光点源及/或单模光纤产生的高度空间相干性的激光斑点影响。前述实例图解说明当前为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于向测量头提供照明的系统,其包括:多个照明源,其包含第一照明源、第二照明源、第三照明源、第四照明源、第五照明源及第六照明源;第一折叠镜,其经配置以沿着导引路径反射来自所述第一照明源的照明;第二折叠镜,其经配置以沿着所述导引路径反射来自所述第二照明源的照明;第一二向色组合器,其经配置以沿着所述导引路径透射来自所述第一照明源的照明,所述第一二向色组合器进一步经配置以沿着所述导引路径反射来自所述第三照明源的照明;第二二向色组合器,其经配置以沿着所述导引路径透射来自所述第二照明源的照明,所述第二二向色组合器进一步经配置以沿着所述导引路径反射来自所述第四照明源的照明;第三二向色组合器,其经配置以沿...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:格雷戈里·布雷迪安德烈·V·舒杰葛洛夫劳伦斯·D·罗特德里克·萨乌夫尼斯阿纳托利·夏册梅里尼里亚·贝泽尔穆沙米尔·阿蓝阿纳托利·瓦西列夫詹姆斯·艾伦奥列格·舒列波夫安德鲁·希尔欧哈德·巴沙尔摩西·马科维茨亚龙·伊什沙洛姆利安·瑟拉阿姆农·玛纳森亚历山大·斯维泽尔马克西姆·霍赫洛夫阿维·阿布拉莫夫奥列格·特斯布列维斯基丹尼尔·坎德尔马克·吉诺乌克
申请(专利权)人:科磊股份有限公司
类型:发明
国别省市:美国;US

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