斜度辅助测量治具制造技术

技术编号:2524375 阅读:211 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种斜度辅助测量治具,用于辅助测量待测物体,该待测物体具有第一平面以及与该第一平面成一特定角度的第一斜面,该治具具有一第二平面以及与该第二平面成上述特定角度的第二斜面。如此,当需要测量该待测物体的第一斜面与第一平面所成的特定角度是否加工精确时,只需将该治具的第二斜面抵触于该第一斜面上,然后利用卡尺卡在该第一、二平面上即可测出该待测物体第一斜面与第一平面所成的特定角度是否加工精确。本实用新型专利技术无需利用如高度规、投影仪、三次元等精密仪器进行测量,而通过普通卡尺即可测量出待测物体加工是否精确,方便了测量的同时,亦可提高测量的精度。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及到一种测量治具,特别涉及一种用于测量待测物体斜度的 斜度辅助测量治具
技术介绍
长期以来塑料模具中,滑块本体与滑块束块所配合的斜面或类似之斜面因 测量误差,而无法加工准到准数。或者需要利用精密仪器(如高度规、投影仪、 三次元等)测数加工,降低了加工效率,增加了加工成本。
技术实现思路
鉴于上述问题,本技术的目的在于提供一种斜度辅助测量治具,其可 方便使用者利用一般测量仪器即可对待测物体进行测试,不仅方便了使用者进 行测试,更可提高测试的精度。为达成上述目的,本技术采用如下技术方案,即一种斜度辅助测量治 具,用于辅助测量待测物体,该待测物体具有第一平面以及与该第一平面成一 特定角度的第一斜面,该治具具有一第二平面以及与该第二平面成上述特定角 度的第二斜面。如此,当需要测量该待测物体的第一斜面与第一平面所成的特定角度是否 加工精确时,只需将该治具的第二斜面抵触于该第一斜面上,然后利用卡尺卡 在该第一、二平面上即可测出该待测物体第一斜面与第一平面所成的特定角度 是否加工精确。较之于先前技术,本技术无需利用如高度规、投影仪、三次元等精密 仪器进行测量,而通过普通卡尺即可测量出待测物体加工是否精确,方危了测 量的同时,亦可提高测量的精度。附图说明图1为本技术斜度辅助测量治具用于测量待测物体的平面示意图。具体实施方式以下结合附图对本技术作进一步详细的说明。,1为斜度辅助测量治具1000用于测量待测物体2000的平面示意图,如 图所示,该待测物体2000具有第一平面2100以及与该第一平面2100成一特定角度的第一斜面2200,该治具1000具有一第二平面1100以及与该第二平面成 上述特定角度的第二斜面1200。如此,需要测量该待测物体2000的第一斜面2200和该第一平面2100所成 的特定角度是否加工精密准确时,即只需将该治具1000之第二斜面1200抵触 于该第一斜面2200上,然后利用卡尺卡在该第一、二平面2100、 1100上进行 测量,从而可以比较精确的测量出该第一斜面2200的加工是否精密准确。以上所述仅为本技术的较佳可行实施例,并非因此局限本技术的 专利范围,故凡是运用本技术说明书及附图内容所作的等效结构变化,均 包含于本技术的保护范围内。权利要求1.一种斜度辅助测量治具,用于辅助测量待测物体,该待测物体具有第一平面以及与该第一平面成一角度的第一斜面,其特征是,该治具具有一第二平面以及与该第二平面成上述角度的第二斜面。专利摘要本技术公开了一种斜度辅助测量治具,用于辅助测量待测物体,该待测物体具有第一平面以及与该第一平面成一特定角度的第一斜面,该治具具有一第二平面以及与该第二平面成上述特定角度的第二斜面。如此,当需要测量该待测物体的第一斜面与第一平面所成的特定角度是否加工精确时,只需将该治具的第二斜面抵触于该第一斜面上,然后利用卡尺卡在该第一、二平面上即可测出该待测物体第一斜面与第一平面所成的特定角度是否加工精确。本技术无需利用如高度规、投影仪、三次元等精密仪器进行测量,而通过普通卡尺即可测量出待测物体加工是否精确,方便了测量的同时,亦可提高测量的精度。文档编号G01B5/24GK201152743SQ20072005994公开日2008年11月19日 申请日期2007年11月23日 优先权日2007年11月23日专利技术者平 万 申请人:佛山市顺德区汉达精密电子科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种斜度辅助测量治具,用于辅助测量待测物体,该待测物体具有第一平面以及与该第一平面成一角度的第一斜面,其特征是,该治具具有一第二平面以及与该第二平面成上述角度的第二斜面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:万平
申请(专利权)人:佛山市顺德区汉达精密电子科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:44[中国|广东]

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