【技术实现步骤摘要】
本专利技术是一种能够精确测量角度或位移量的光栅测量方法及装置，属于自动测量仪器的
光栅技术已广泛用于数控加工设备和测控仪器中，用于自动测量位移测角，以实现加工自动化、测量数字化等等。因为光栅本身的分辨率较低(一般位移的分辨率为10μm，角度为1度)为了满足实用要求，得到较高的分辨率，传统方法是用硬件细分电路将光栅信号进一步细分，但其细分数做不高(做到40细分难度就很大)、电路复杂、频响低、易引入干扰、温漂大及可靠性低等，难以实现高精度测量。近年，也有人提出了软件细分法，但这种方法是用查表的方法，对硬件精度要求苛刻，制作表格需要大量的样本，难度大且复杂，精度受限。为了满足一些高精度测量的需要，国外有的单位采取了在光栅上密集刻线的方法，这种方法需要高精度的、价格昂贵的刻线设备，且合格率低，成本很高，其产品价格昂贵，其应用受限。本专利技术的专利技术目的就是提供一种结构简单、操作方便、可实现精密测量的智能高精度光栅信号测量方法及装置。本专利技术的智能高精度光栅信号测量方法是采用人工神经网络的方法对光栅信号进行学习、泛化，细分，首先对输入样本光栅信号自动进行学...
【技术保护点】
一种智能高精度光栅信号测量方法，其特征在于采用人工神经网络的细分方法对光栅信号进行学习、泛化，细分测量，首先对输入样本光栅信号自动进行学习即进行分析、计算、存储；然后对非样本光栅信号进行泛化即将输入集中样本点的给定邻域映射到输出集中映射点与样本对应的某一邻域；即由神经网络模型实现连续细分测量。
【技术特征摘要】
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