岩体结构面粗糙度系数测量方法技术

本发明专利技术涉及一种岩体结构面粗糙度系数测量方法，包含以下步骤：在工程岩体结构分析的基础上，判断潜在滑移结构面；确定潜在滑移结构面的潜在滑移破坏方向；在所述的潜在滑移方向均匀布置多个测段；采用轮廓曲线仪绘制每一测段的轮廓曲线；测量每一轮廓曲线的起伏幅度Ｒ↓［Ｙｎ］；由公式ＪＲＣ↓［ｎ］＝４９．２１１４ｅ↑［２９Ｌ↓［０］／４５０Ｌ↓［ｎ］］ａｒｃｔａｎ［８Ｒ↓［Ｙｎ］／Ｌ↓［ｎ］］计算粗糙度系数ＪＲＣ↓［ｎ］值；对ＪＲＣ↓［ｎ］值进行统计求得ＪＲＣ↓［ｎ］期望值，即为岩体结构面的粗糙度系数值。本发明专利技术所述的方法使用操作方便，测量速度快，成本低，便于进行统计测量，而且测量结果已经体现了粗糙度系数的尺寸效应影响，同时为定量统计分析具各质异性、各向异性、非均一性和尺寸效应的岩体结构面粗糙度系数提供了有效的手段，具有较大的实施价值和社会经济效益。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及岩体结构面粗糙度系数定向统计测量方法，适用于在野外现场岩体结构面表面直接测量粗糙度系数JRCn值的场合。
技术介绍
在本专利技术作出之前，目前尚没有用于野外现场岩体结构面表面粗糙度系数JRCn测量的方法，适用于室内有直剪试验方法、倾斜试验方法、标准轮廓曲线法、标准参数法等，直剪试验方法和倾斜试验方法只能获得试样尺寸的JRC值，其实质就是由直剪试验或倾斜试验的试验结果，用JRC-JCS模型反算求JRC值；标准轮廓曲线法，以典型表面起伏形态结构面的轮廓曲线作为JRC的经验判断标准，通过实际结构面表面轮廓曲线与标准轮廓曲线的经验对比确定JRC值；标准参数法，通过标准轮廓曲线的粗糙度参数或分维数D与JRC的回归分析，建立了粗糙度参数或分维数D与结构面粗糙度系数的相关公式，用于岩体粗糙度系数的估算，包括表面粗糙度参数法、直线长度与迹线长度比值法、分形分维方法、直边法和修正直边法等。这些技术手续繁琐，计算或估测速度慢，成本高，不适用于具各质异性、各向异性和非均一性的野外现场岩体结构面粗糙度系数JRCn的统计测量。
技术实现思路
本专利技术目的在于提供一种原理简单、操作方便、成本低、测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种岩体结构面粗糙度系数测量方法，其特征在于包含以下顺序步骤：（１）在工程岩体结构分析的基础上，判断潜在滑移结构面；（２）确定潜在滑移结构面的潜在滑移破坏方向；　（３）在所述的潜在滑移方向均匀布置多个测段；（ ４）采用轮廓曲线仪绘制每一测段的轮廓曲线；（５）测量每一轮廓曲线的起伏幅度Ｒ↓［ｙｎ］；（６）由公式ＪＲＣ↓［ｎ］＝４９．２１１４ｅ↑［２９Ｌ↓［０］／４５０Ｌ↓［ｎ］］ａｒｃｔａｎ［８Ｒ↓［Ｙｎ］／Ｌ↓［ｎ］］计算粗糙度系 数ＪＲＣ↓［ｎ］值；（７）对ＪＲＣ↓［ｎ］值进行统计求得ＪＲＣ↓［ｎ］期...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杜时贵，
申请(专利权)人：金华职业技术学院，
类型：发明
国别省市：33[中国|浙江]