图像校正方法及图像校正的触发方法技术

本发明专利技术提供一种图像校正方法及图像校正的触发方法，包括：开机预热，软硬件连接后进入校正界面，在校正界面触发图像校正信号，或者软硬件连接后直接触发图像校正信号；采集一张第一图像，若存在已有校正模板，则采用已有校正模块对第一图像进行图像校正得到第二图像，若不存在则自动生成校正模板；对第二图像进行图像质量评价，若符合图像质量的要求则结束，若不符合则自动生成校正模板；基于第一图像生成增益校正模板和/或缺陷校正模板，利用增益校正模板和/或缺陷校正模板对第一图像进行校正，完成校正后结束。本发明专利技术采用一键校正或零键校正实现，操作便捷；且可基于一张图像生成校正模板，省时省力，且不影响校正后的图像质量。

【技术实现步骤摘要】
图像校正方法及图像校正的触发方法
本专利技术涉及平板探测领域，特别是涉及一种图像校正方法及图像校正的触发方法。
技术介绍
平板探测器是上个世纪开始诞生的X射线影像新型检测技术，以成像速度快、分辨率高等特点著称，广泛应用于医疗检测、无损检测、安检、反恐等领域。但在平板探测器成像过程中，受X射线管辐照光场均匀性、像素坏点、暗场噪声等因素影响，降低了图像质量，需要进行校正。目前大多采用采集多张图像的方法进行增益校正和缺陷校正，校正效果好，图像质量高，但存在需要采集图像的数量较多、X射线辐照要求多、缺陷模板计算过程复杂等缺点，费时费力；还有一部分采用一张图校正的方法，虽方便快捷，但是校正后图像噪声比多张图校正后图像的噪声大幅提高，平板探测器的NED(噪声等效剂量)、NPS(噪声功率谱)、DQE(探测量子效率)等关键评价指标下降。因此，在保证图像质量的前提下，提高工作效率，节约成本，已成为本领域技术人员亟待解决的问题之一。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种图像校正方法及图像校正的触发方法，用于解决现有技术中图像校正不能兼顾工作效率和图像质量的问题。为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种图像校正方法，所述图像校正方法至少包括：11)采集一张第一图像，若存在已有校正模板，则直接采用所述已有校正模块对所述第一图像进行图像校正得到第二图像；若不存在所述已有校正模板，则执行步骤13)；12)对所述第二图像进行图像质量评价，若符合所述图像质量的要求，则结束；若不符合所述图像质量的要求，则执行步骤13)；13)基于所述第一图像生成增益校正模板和/或缺陷校正模板，利用所述增益校正模板和/或所述缺陷校正模板对所述第一图像进行校正，完成校正后结束。可选地，所述已有校正模板包括已有增益校正模板和/或已有缺陷校正模板。可选地，所述图像质量包括均匀性及噪声中至少一个。可选地，步骤13)中包括增益校正时，生成所述增益校正模板的方法包括：将所述第一图像与探测器像素响应耦合，以此得到所述增益校正模板。更可选地，生成所述增益校正模板的方法还包括：在耦合前对所述第一图像进行滤波的步骤。更可选地，所述滤波的方法包括：高斯滤波、中值滤波、均值滤波及方波滤波中任意一种。可选地，步骤13)中包括缺陷校正时，生成所述缺陷校正模板的方法包括：对所述第一图像进行感兴趣区域的划分，对所述感兴趣区域中的坏点进行标记，得到所述缺陷校正模板。更可选地，判断坏点的方法包括：求取各感兴趣区域的均值及标准差，将各感兴趣区域内像素值偏离均值设定倍数标准差以外的像素判定为坏点。可选地，步骤13)中包括增益校正及缺陷校正时，先执行增益校正然后执行缺陷校正。为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术还提供一种图像校正的触发方法，所述图像校正的触发方法至少包括：21)开机预热，软硬件连接后进入校正界面，在所述校正界面触发图像校正信号；或者软硬件连接后直接触发图像校正信号；22)采用上述图像校正方法完成图像的校正，结束校正流程。可选地，生成新的校正模板后将新的校正模板下载至探测器。如上所述，本专利技术的图像校正方法及图像校正的触发方法，具有以下有益效果：1、本专利技术的图像校正方法及图像校正的触发方法可采用一键校正或零键校正实现，操作便捷。2、本专利技术的图像校正方法及图像校正的触发方法可基于一张图像生成增益校正模板，省时省力，且不影响校正后的图像质量。附图说明图1显示为本专利技术的图像校正方法的流程示意图。图2显示为本专利技术的图像校正的触发方法的流程示意图。元件标号说明11、12、13步骤131a、132a步骤131b、132b步骤21、22步骤具体实施方式以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。请参阅图1～图2。需要说明的是，本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本专利技术的基本构想，遂图式中仅显示与本专利技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。实施例一如图1所示，本实施例提供一种图像校正方法，所述图像校正方法包括：11)采集一张第一图像，若存在已有校正模板，则直接采用所述已有校正模块对所述第一图像进行图像校正得到第二图像；若不存在所述已有校正模板，则执行步骤13)。具体地，将探测器安装于探测系统中，待探测器开机并预热完成后，在使用条件下自动采集一张图像，记为第一图像。所述探测系统包含但不限于医疗系统、DR(DetectionRadar，探测雷达)、CT(ComputedTomography，电子计算机断层扫描)、安检机等使用平板探测器的系统，在此不一一列举。具体地，识别探测器中是否存在已有校正模板；在本实施例中，所述已有校正模板包括已有增益校正模板及已有缺陷校正模板，在实际使用中，所述已有校正模板可以是已有增益校正模板或已有缺陷校正模板中的一种，也可以是其它校正模板，不以本实施例为限。如存在已有校正模板，则基于已有校正模板对所述第一图像进行校正，校正后的图像为第二图像，所述第二图像可作为校正后的图像输出，校正流程结束；如果没有已有校正模板则执行步骤13)以自动生成模板并进行校正。12)对所述第二图像进行图像质量评价，若符合所述图像质量的要求，则结束；若不符合所述图像质量的要求，则执行步骤13)以自动生成模板并进行校正。具体地，对所述第二图像进行图像质量评价，包括但不限于均匀性、噪声，任意可用于评价图像质量的参数均适于本专利技术，在此不一一赘述。13)基于所述第一图像生成增益校正模板和/或缺陷校正模板，利用所述增益校正模板和/或所述缺陷校正模板对所述第一图像进行校正，完成校正后结束。具体地，在不存在已有校正模板或已有校正模板校正后的图像质量不符合要求的情况下，自动生成校正模板；在本实施例中，校正模板包括增益校正模板及缺陷校正模板，在实际使用中，可以仅包括其中一种，也可以包括其他校正模板，不以本实施例为限。具体地，在本实施例中，获取增益校正模板的步骤具体包括：131a)获取所述第一图像，对所述第一图像进行滤波，以得到第三图像。滤波的方法包括但不限于高斯滤波、中值滤波、均值滤波及方波滤波，任意可实现图像滤波的方法均适用于本专利技术。需要说明的是，在所述第一图像质量较好的情况下，滤波的步骤可以省略。132a)将所述第一图像与探测器像素响应耦合，以此得到所述增益校正模板。具体地，在本实施例中，获取缺陷校正模板的步骤具体包本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图像校正方法，其特征在于，所述图像校正方法至少包括：/n11)采集一张第一图像，若存在已有校正模板，则直接采用所述已有校正模块对所述第一图像进行图像校正得到第二图像；若不存在所述已有校正模板，则执行步骤13)；/n12)对所述第二图像进行图像质量评价，若符合所述图像质量的要求，则结束；若不符合所述图像质量的要求，则执行步骤13)；/n13)基于所述第一图像生成增益校正模板和/或缺陷校正模板，利用所述增益校正模板和/或所述缺陷校正模板对所述第一图像进行校正，完成校正后结束。/n

【技术特征摘要】
1.一种图像校正方法，其特征在于，所述图像校正方法至少包括：
11)采集一张第一图像，若存在已有校正模板，则直接采用所述已有校正模块对所述第一图像进行图像校正得到第二图像；若不存在所述已有校正模板，则执行步骤13)；
12)对所述第二图像进行图像质量评价，若符合所述图像质量的要求，则结束；若不符合所述图像质量的要求，则执行步骤13)；
13)基于所述第一图像生成增益校正模板和/或缺陷校正模板，利用所述增益校正模板和/或所述缺陷校正模板对所述第一图像进行校正，完成校正后结束。


2.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于：所述已有校正模板包括已有增益校正模板和/或已有缺陷校正模板。


3.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于：所述图像质量包括均匀性及噪声中至少一个。


4.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于：步骤13)中包括增益校正时，生成所述增益校正模板的方法包括：将所述第一图像与探测器像素响应耦合，以此得到所述增益校正模板。


5.根据权利要求4所述的图像校正方法，其特征在于：生成所述增益校正模板的方法还包括：在耦合前对所述第一图像进行滤波的步骤。


6....

【专利技术属性】
技术研发人员：何承林，
申请(专利权)人：上海奕瑞光电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31