【技术实现步骤摘要】
本申请涉及x射线探测,特别是涉及一种射线探测器及制作方法。
技术介绍
1、x射线探测装置是利用x射线对物体的穿透、差别吸收、感光及荧光作用,将物体各部分的密度分布信息投射到x射线采集和成像装置上,形成相应的影像,从而观察物体内部构造和情况。x射线探测装置由于可以实现对被检测物体的非破坏性探测和评估,在医学、工业、安全领域的无损检测方面有着广泛的应用。
2、作为一种可在室温下工作的γ和x射线探测器材料,碲锌镉(cdznte,以下简称czt)或碲化镉(cdte)因具有较高的原子序数,对高能量的γ和x射线具有较高的探测效率,从而被广泛研究。
3、然而,cdte/czt探测器在实际制备和使用过程中,普遍存在以下问题:一方面,当能量高于晶体材料k-边的x射线入射后,晶体产生的次级x射线可能会在相邻晶体内发生能量沉积,生成响应信号,被相邻像素电极捕获,同时晶体内部产生的电子云在向阳极的漂移运动中,有概率扩散到相邻像素电极,被同时捕获,导致漏计数或多计数,引起“电荷共享”问题。另一方面,受晶体生长工艺的限制,大直径(d≥30m
...【技术保护点】
1.一种射线探测器,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的射线探测器,其特征在于,所述沟槽的宽度为50μm~500μm。
3.根据权利要求1所述的射线探测器,其特征在于,所述沟槽在所述第二主面具有一开口,所述开口的宽度大于所述沟槽的宽度。
4.根据权利要求1所述的射线探测器,其特征在于,所述绝缘层的厚度为0.01μm~10μm。
5.根据权利要求1或4所述的射线探测器,其特征在于,所述绝缘层的材料至少包括二氧化硅、氮化硅或聚酰亚胺中的一种或多种。
6.根据权利要求1所述的射线探测器,其特征在于,所述隔离
...【技术特征摘要】
1.一种射线探测器,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的射线探测器,其特征在于,所述沟槽的宽度为50μm~500μm。
3.根据权利要求1所述的射线探测器,其特征在于,所述沟槽在所述第二主面具有一开口,所述开口的宽度大于所述沟槽的宽度。
4.根据权利要求1所述的射线探测器,其特征在于,所述绝缘层的厚度为0.01μm~10μm。
5.根据权利要求1或4所述的射线探测器,其特征在于,所述绝缘...
【专利技术属性】
技术研发人员:冯刘昊东,罗宏德,金利波,
申请(专利权)人:上海奕瑞光电子科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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