一种TDI探测器图像的校正方法及装置制造方法及图纸

技术编号:41180466 阅读:19 留言:0更新日期:2024-05-07 22:14
本发明专利技术提供一种TDI探测器图像的校正方法及装置,至少包括如下步骤:TDI探测器开机运行后,获取基准图像以及TDI探测器升温过程中不同时刻的时刻图像;根据所述基准图像和所述时刻图像确定温漂补偿值;根据所述温漂补偿值对待校正图像进行处理得到校正图像。本发明专利技术通过对升温过程中温漂的补偿,从而提高校正后的图像质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及x射线探测器成像,特别是涉及一种tdi探测器图像的校正方法及装置。


技术介绍

1、x射线数字成像是对工件质量进行检测的一种常规无损检测技术。在实际应用中,由于探测器上电冷启动后,硬件温度会逐渐上升到热平衡温度,导致探测器图像灰度逐渐上升,从而使图像灰度变高,影响图像的校正效果。针对这一问题,一般通过研究了探测器的温度变化量与探测器图像灰度值变化量的相关关系,根据函数关系对数据进行曲线拟合,然后利用温度变化量反向调整探测器图像灰度值的方法。但对于高功耗的tdi探测器是很难研究温度与本底值的规律,主要原因在于:(1)tdi探测器功耗大,开机后瞬间温度变化快;(2)tdi探测器温漂严重且图像信噪比很高,拟合误差会导致校正效果不好。


技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点,本专利技术的目的在于提供一种tdi探测器图像的校正方法及装置,用于解决现有技术中tdi探测器从开机到热稳定过程中,探测器本底值随硬件温度变化导致图像失校正的问题。

2、为实现上述目的及其他相关目的,本专利技术提供一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种TDI探测器图像的校正方法,其特征在于,至少包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的TDI探测器图像的校正方法,其特征在于,所述基准空图像为T0时刻对应的空场图像。

3.根据权利要求2所述的TDI探测器图像的校正方法,其特征在于,所述时刻图像为TDI探测器升温直至稳定过程中不同时刻对应的空场图像。

4.根据权利要求3所述的TDI探测器图像的校正方法,其特征在于,根据所述基准图像和所述时刻图像确定温漂补偿值的过程包括:

5.根据权利要求4所述的TDI探测器图像的校正方法,其特征在于,时刻图像的灰度差值为时刻图像的灰度值与基准图像的灰度...

【技术特征摘要】

1.一种tdi探测器图像的校正方法,其特征在于,至少包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的tdi探测器图像的校正方法,其特征在于,所述基准空图像为t0时刻对应的空场图像。

3.根据权利要求2所述的tdi探测器图像的校正方法,其特征在于,所述时刻图像为tdi探测器升温直至稳定过程中不同时刻对应的空场图像。

4.根据权利要求3所述的tdi探测器图像的校正方法,其特征在于,根据所述基准图像和所述时刻图像确定温漂补偿值的过程包括:

5.根据权利要求4所述的tdi探测器图像的校正方法,其特征在于,时刻图像的灰度差值为时刻图像的灰度值与基准图像的灰度值之间的差值。

6.根据权利要求5所述的tdi探测器图像的校正方法,其特征在于,根据所述温漂补偿值对待校...

【专利技术属性】
技术研发人员:曾晓东林言成彭士恒张楠
申请(专利权)人:上海奕瑞光电子科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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