一种大功率半导体器件生产用外观检验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种大功率半导体器件生产用外观检验装置，包括工作台，所述工作台顶部外壁开设有矩形开口，且矩形开口的内壁设置输送带，所述矩形开口的两侧内壁均设置有挡板，所述工作台顶部外壁通过螺栓固定有安装罩，且安装罩顶部外壁通过螺栓固定有显示器，所述安装罩的一侧外壁设置有盖板，所述安装罩两侧内壁的两端均通过螺栓固定有弧形结构的电动滑轨，且两个电动滑轨的两侧内壁均设置有检验机构。本实用新型专利技术通过安装罩内电动滑轨驱动的检验机构，检验机构上的高清探头可以将半导体的外观拍摄下来通过显示器显示，通过显示器可直接对半导体的外观进行检验，解决了现有的半导体外观检验效率低的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种大功率半导体器件生产用外观检验装置
本技术涉及半导体
，尤其涉及一种大功率半导体器件生产用外观检验装置。
技术介绍
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种。半导体器件在生产过程中需要对半导体器件的外观进行检验，现有半导体器件大多都是通过人工进行检验的，检验时间长效率低，部分机器检验故障率高难操作。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种大功率半导体器件生产用外观检验装置。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种大功率半导体器件生产用外观检验装置，包括工作台，所述工作台顶部外壁开设有矩形开口，且矩形开口的内壁设置输送带，所述矩形开口的两侧内壁均设置有挡板，所述工作台顶部外壁通过螺栓固定有安装罩，且安装罩顶部外壁通过螺栓固定有显示器，所述安装罩的一侧外壁设置有盖板，所述安装罩两侧内壁的两端均通过螺栓固定有弧形结构的电动滑轨，且两个电动滑轨的两侧内壁均设置有检验机构，所述工作台一侧外壁的一侧通过螺栓固定有控制箱，且工作台靠近控制箱的一侧外壁设置有检修门。r>优选的，所述检验机构包括按安装框，且安装框的两侧内壁通过轴承固定有安装块。优选的，所述安装块的一侧外壁通过螺栓固定有高清探头，且安装块传动轴的一端套接有齿轮。优选的，所述安装框的一侧内壁滑动连接有齿条，且齿条和齿轮相互啮合。优选的，所述安装框底部内壁通过螺栓固定有安装管，且安装管的内壁滑动连接有磁铁。优选的，所述磁铁顶部外壁通过螺栓固定有连接柱，且连接柱顶部外壁连接在齿条上，所述安装管底部内壁通过螺栓固定有电磁铁，且电磁铁和磁铁之间连接有同一个弹簧。优选的，所述电动滑轨和电磁铁均通过导线连接有开关，且开关通过导线连接有控制器。本技术的有益效果为：本大功率半导体器件生产用外观检验装置，通过在工作台上设置安装罩，通过安装罩内电动滑轨驱动的检验机构，检验机构上的高清探头可以将半导体的外观拍摄下来通过显示器显示，通过显示器可直接对半导体的外观进行检验，解决了现有的半导体外观检验效率低的问题。附图说明图1为本技术提出的一种大功率半导体器件生产用外观检验装置的侧视结构示意图；图2为本技术提出的一种大功率半导体器件生产用外观检验装置的安装罩剖视结构示意图；图3为本技术提出的一种大功率半导体器件生产用外观检验装置的工作台俯视结构示意图；图4为本技术提出的一种大功率半导体器件生产用外观检验装置的检验机构结构示意图。图中：1工作台、2控制箱、3检修门、4安装罩、5盖板、6显示器、7输送带、9挡板、10电动滑轨、11检验机构、12安装框、13安装块、14高清探头、15齿轮、16齿条、17连接柱、18弹簧、19磁铁、20电磁铁、21安装管。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。参照图1-4，一种大功率半导体器件生产用外观检验装置，包括工作台1，工作台1顶部外壁开设有矩形开口，且矩形开口的内壁设置输送带7，矩形开口的两侧内壁均设置有挡板9，工作台1顶部外壁通过螺栓固定有安装罩4，且安装罩4顶部外壁通过螺栓固定有显示器6，安装罩4的一侧外壁设置有盖板5，安装罩4两侧内壁的两端均通过螺栓固定有弧形结构的电动滑轨10，且两个电动滑轨10的两侧内壁均设置有检验机构11，工作台1一侧外壁的一侧通过螺栓固定有控制箱2，且工作台1靠近控制箱2的一侧外壁设置有检修门3，检验机构11包括按安装框12，且安装框12的两侧内壁通过轴承固定有安装块13，安装块13的一侧外壁通过螺栓固定有高清探头14，且安装块13传动轴的一端套接有齿轮15，安装框12的一侧内壁滑动连接有齿条16，且齿条16和齿轮15相互啮合，安装框12底部内壁通过螺栓固定有安装管21，且安装管21的内壁滑动连接有磁铁19，磁铁19顶部外壁通过螺栓固定有连接柱17，且连接柱17顶部外壁连接在齿条16上，安装管21底部内壁通过螺栓固定有电磁铁20，且电磁铁20和磁铁19之间连接有同一个弹簧18，电动滑轨10和电磁铁20均通过导线连接有开关，且开关通过导线连接有控制器。工作原理：使用时，将半导体放置在输送带7上，通过输送带7将半导体输送进入安装罩4内，通过两个挡板9的设置保证半导体依次进入安装罩4中，通过电动滑轨10可驱动检验机构11从不同的角度对半导体的外观进行检验，又通过检验机构11中的齿轮和齿条配合来调节探头的角度，高清探头14拍摄到的外观照片直接通过显示器6显示，工作人员可直接观察显示器6。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种大功率半导体器件生产用外观检验装置，包括工作台（1），其特征在于，所述工作台（1）顶部外壁开设有矩形开口，且矩形开口的内壁设置输送带（7），所述矩形开口的两侧内壁均设置有挡板（9），所述工作台（1）顶部外壁通过螺栓固定有安装罩（4），且安装罩（4）顶部外壁通过螺栓固定有显示器（6），所述安装罩（4）的一侧外壁设置有盖板（5），所述安装罩（4）两侧内壁的两端均通过螺栓固定有弧形结构的电动滑轨（10），且两个电动滑轨（10）的两侧内壁均设置有检验机构（11），所述工作台（1）一侧外壁的一侧通过螺栓固定有控制箱（2），且工作台（1）靠近控制箱（2）的一侧外壁设置有检修门（3）。/n

【技术特征摘要】
1.一种大功率半导体器件生产用外观检验装置，包括工作台（1），其特征在于，所述工作台（1）顶部外壁开设有矩形开口，且矩形开口的内壁设置输送带（7），所述矩形开口的两侧内壁均设置有挡板（9），所述工作台（1）顶部外壁通过螺栓固定有安装罩（4），且安装罩（4）顶部外壁通过螺栓固定有显示器（6），所述安装罩（4）的一侧外壁设置有盖板（5），所述安装罩（4）两侧内壁的两端均通过螺栓固定有弧形结构的电动滑轨（10），且两个电动滑轨（10）的两侧内壁均设置有检验机构（11），所述工作台（1）一侧外壁的一侧通过螺栓固定有控制箱（2），且工作台（1）靠近控制箱（2）的一侧外壁设置有检修门（3）。


2.根据权利要求1所述的一种大功率半导体器件生产用外观检验装置，其特征在于，所述检验机构（11）包括按安装框（12），且安装框（12）的两侧内壁通过轴承固定有安装块（13）。


3.根据权利要求2所述的一种大功率半导体器件生产用外观检验装置，其特征在于，所述安装块（13）的一侧外壁通过螺栓固定有高清探头（14）...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄伟东，
申请(专利权)人：南京银茂微电子制造有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32