【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及试验设备，具体为一种电子元器件的高温试验箱。
技术介绍
1、发光二极管作为一种新型的照明光源，具有高效、节能、寿命长等优点，在室内和室外照明领域得到广泛应用。然而，led的使用寿命和性能会受到温度的影响，尤其在高温环境下，led的性能容易出现退化，从而导致使用寿命缩短、亮度下降等问题。
2、因此在led生产加工的过程中，为考察产品质量，需要利用高温试验箱模拟使用环境，对led的使用寿命进行检测。但是现在的高温试验箱由于结构和形状限制，往往难以在加热的初始阶段难以保证箱内各处温度的均匀性，造成每个led样品受热的温度和时长存在区别，最终检测的结果存在差异性，实验结果可参考性差。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种电子元器件的高温试验箱，以达到快速且均匀控制箱内温度、保证元器件处于同样环境温度中、提高试验结果准确性的目的，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种电子元器件的高温试验箱，包括箱体，所述箱体上设置有试验腔以及密封门，且试验腔中活动设置有分隔板，通过分隔板在试验腔中形成独立加热腔，所述分隔板的底部设置有集气座，且集气座通过通管连接在热风箱上，所述分隔板上设置有连通座与集气座连通，且连通座上插接有支撑管，且支撑管顶部设置有中心座，所述中心座上通过支架安装有球形摆架，且球形摆架的球形与中心座重合，所述球形摆架上沿球面设置有放置座，所述支撑管通过驱动结构进行转动驱动，所述分隔板上设置有中
3、优选的，所述密封门铰接在箱体上，通过密封门进行试验腔的封闭，所述分隔板在箱体中设置有至少两个，所述分隔板的侧面设置有密封圈，且集气座位于分隔板的底部，所述热风箱挂接在箱体的外壁上，且通管采用软管。
4、优选的，所述连通座设置有朝上的插槽，且支撑管底端连接在插槽中，所述中心座上设置有出气口，且支撑管与中心座连通。
5、优选的，所述支撑管上设置有稳定脚，且稳定脚的底部设置有滑块，所述分隔板上设置有环形轨，且滑块连接在环形轨中，所述支撑管上设置有外齿圈，且分隔板上通过驱动轴安装有驱动齿轮，且驱动齿轮与外齿圈啮合。
6、优选的，所述中心风箱位于分隔板顶面的中心位置，且支撑架上设置有上轴承和下轴承，且中心轴和侧轴连接在双轴承中。
7、优选的，所述风叶竖直排列设置在中心轴上，且扰流板竖直排列在侧轴上，所述通孔分布设置在扰流板上，所述扰流板位于试验腔的角落位置。
8、优选的，所述皮带传动副包括有主带轮和副带轮，且主带轮连接在中心轴的底部，且副带轮连接在侧轴的底部，且主带轮和副带轮通过皮带连接，所述皮带传动副位于分隔板的空腔中。
9、优选的，所述底座水平设置在试验腔中，且升降控制结构包括有设置在底座上的x形铰接架，所述x形铰接架的底端设置有螺母座，且x形铰接架的顶部设置有推杆，所述螺母座连接在双向丝杆上，且推杆活动连接在底槽中。
10、优选的，所述螺母座滑动安装在底座上，且螺母座对称设置有两个，两个螺母座分别设置在双向丝杆的两个反向螺纹上，所述双向丝杆通过电机驱动，所述底槽连接在集气座的底面上。
11、与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
12、1. 本专利技术的高温试验箱箱体中设置有试验腔，能够在试验腔中进行led的高温试验，并且试验腔通过分隔板进行分隔，能够形成更小的独立腔体，以更为均匀的进行独立控温，快速的完成升温工作，持续的进行均匀高温试验，提高试验结果的准确性。
13、2. 本专利技术通过热风箱产生热气流，从通管送入到集气座中，将led组件在球形摆架均匀的摆放好之后，可以将支撑管插入到与集气座连通的连通座中，进而使得热气流从连通座进入到支撑管中，从中心座的位置出去，由于led组件是均匀放置在球形摆架的球面上的，每个led组件距离中心座的距离都是基本相同的，能够在均匀的温度环境下完成升温，保证试验结果的一致性，降低误差。
14、3. 由于球形摆架设置有多个，为避免相互之间的影响，本专利技术将球形摆架设置成转动式结构，通过驱动轴带动驱动齿轮转动，可以通过与外齿圈的啮合带动支撑管转动，进而使得整个球形摆架转动，尽量保证每个led所处的温度环境相同，同时，在分隔板的中部设置有中心风箱，中心风箱同样与热风箱连通，进行升温时，可以通过中心风箱产生气流，该气流能促进试验腔内空气的流通，使得温度更为均匀，气流作用在风叶上，使得中心轴转动，而中心轴通过皮带传动副与侧轴连接，能够带动侧轴转动，侧轴处于试验腔的拐角位置，其上带有通孔的扰流板转动时，能够扰动热气流，减少加热死角，使得试验腔中的温度快速的达到均匀和恒定。
15、4. 本专利技术的球形摆架采用可拆式结构，其利用支撑管进行连接，试验时将其插入到连通座中，试验完成之后则将其拔出，方便进行led样品的放置，并且球形摆架是放在分隔板上的，在进行试验时，可以将两个相邻的分隔板相互靠近，缩小独立加热腔的空间，使得温度控制更为简单，并且为避免影响到球形摆架的安装和拆卸，将分隔板设置为升降结构，可以通过升降控制结构进行高度调整，改变独立加热腔的大小，进而方便球形摆架的拿取。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种电子元器件的高温试验箱，包括箱体（1），其特征在于：所述箱体（1）上设置有试验腔（2）以及密封门（3），且试验腔（2）中活动设置有分隔板（4），通过分隔板（4）在试验腔（2）中形成独立加热腔，所述分隔板（4）的底部设置有集气座（5），且集气座（5）通过通管（6）连接在热风箱（7）上，所述分隔板（4）上设置有连通座（8）与集气座（5）连通，且连通座（8）上插接有支撑管（9），且支撑管（9）顶部设置有中心座（10），所述中心座（10）上通过支架（11）安装有球形摆架（12），且球形摆架（12）的球形与中心座（10）重合，所述球形摆架（12）上沿球面设置有放置座（13），所述支撑管（9）通过驱动结构进行转动驱动，所述分隔板（4）上设置有中心风箱（20），且分隔板（4）上通过支撑架（21）转动安装有中心轴（22）和侧轴（23），所述中心轴（22）处于中心风箱（20）的出风口方向上，且中心轴（22）上设置有风叶（24），所述侧轴（23）上设置有带有通孔（26）的扰流板（25），且中心轴（22）和侧轴（23）通过皮带传动副（27）进行连接，所述试验腔（2）中设置有底座（30），且底座
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：所述密封门（3）铰接在箱体（1）上，通过密封门（3）进行试验腔（2）的封闭，所述分隔板（4）在箱体（1）中设置有至少两个，所述分隔板（4）的侧面设置有密封圈，且集气座（5）位于分隔板（4）的底部，所述热风箱（7）挂接在箱体（1）的外壁上，且通管（6）采用软管。
3.根据权利要求1所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：所述连通座（8）设置有朝上的插槽，且支撑管（9）底端连接在插槽中，所述中心座（10）上设置有出气口，且支撑管（9）与中心座（10）连通。
4.根据权利要求1所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：所述支撑管（9）上设置有稳定脚（15），且稳定脚（15）的底部设置有滑块（16），所述分隔板（4）上设置有环形轨（14），且滑块（16）连接在环形轨（14）中，所述支撑管（9）上设置有外齿圈（17），且分隔板（4）上通过驱动轴（19）安装有驱动齿轮（18），且驱动齿轮（18）与外齿圈（17）啮合。
5.根据权利要求1所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：所述中心风箱（20）位于分隔板（4）顶面的中心位置，且支撑架（21）上设置有上轴承（28）和下轴承（29），且中心轴（22）和侧轴（23）连接在双轴承中。
6.根据权利要求1所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：所述风叶（24）竖直排列设置在中心轴（22）上，且扰流板（25）竖直排列在侧轴（23）上，所述通孔（26）分布设置在扰流板（25）上，所述扰流板（25）位于试验腔（2）的角落位置。
7.根据权利要求1所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：所述皮带传动副（27）包括有主带轮和副带轮，且主带轮连接在中心轴（22）的底部，且副带轮连接在侧轴（23）的底部，且主带轮和副带轮通过皮带连接，所述皮带传动副（27）位于分隔板（4）的空腔中。
8.根据权利要求1所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：所述底座（30）水平设置在试验腔（2）中，且升降控制结构包括有设置在底座（30）上的X形铰接架（31），所述X形铰接架（31）的底端设置有螺母座（32），且X形铰接架（31）的顶部设置有推杆（34），所述螺母座（32）连接在双向丝杆（33）上，且推杆（34）活动连接在底槽（35）中。
9.根据权利要求8所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：所述螺母座（32）滑动安装在底座（30）上，且螺母座（32）对称设置有两个，两个螺母座（32）分别设置在双向丝杆（33）的两个反向螺纹上，所述双向丝杆（33）通过电机驱动，所述底槽（35）连接在集气座（5）的底面上。
...【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的高温试验箱，包括箱体（1），其特征在于：所述箱体（1）上设置有试验腔（2）以及密封门（3），且试验腔（2）中活动设置有分隔板（4），通过分隔板（4）在试验腔（2）中形成独立加热腔，所述分隔板（4）的底部设置有集气座（5），且集气座（5）通过通管（6）连接在热风箱（7）上，所述分隔板（4）上设置有连通座（8）与集气座（5）连通，且连通座（8）上插接有支撑管（9），且支撑管（9）顶部设置有中心座（10），所述中心座（10）上通过支架（11）安装有球形摆架（12），且球形摆架（12）的球形与中心座（10）重合，所述球形摆架（12）上沿球面设置有放置座（13），所述支撑管（9）通过驱动结构进行转动驱动，所述分隔板（4）上设置有中心风箱（20），且分隔板（4）上通过支撑架（21）转动安装有中心轴（22）和侧轴（23），所述中心轴（22）处于中心风箱（20）的出风口方向上，且中心轴（22）上设置有风叶（24），所述侧轴（23）上设置有带有通孔（26）的扰流板（25），且中心轴（22）和侧轴（23）通过皮带传动副（27）进行连接，所述试验腔（2）中设置有底座（30），且底座（30）上设置有升降控制结构，且升降控制结构与集气座（5）连接进行分隔板（4）的高度控制。
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：所述密封门（3）铰接在箱体（1）上，通过密封门（3）进行试验腔（2）的封闭，所述分隔板（4）在箱体（1）中设置有至少两个，所述分隔板（4）的侧面设置有密封圈，且集气座（5）位于分隔板（4）的底部，所述热风箱（7）挂接在箱体（1）的外壁上，且通管（6）采用软管。
3.根据权利要求1所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：所述连通座（8）设置有朝上的插槽，且支撑管（9）底端连接在插槽中，所述中心座（10）上设置有出气口，且支撑管（9）与中心座（10）连通。
4.根据权利要求1所述的一种电子元器件的高温试验箱，其特征在于：...
【专利技术属性】
技术研发人员：庄伟东，
申请(专利权)人：南京银茂微电子制造有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。