芯片自动验证系统及其方法技术方案

本发明专利技术提供了一种芯片自动验证系统，其用于验证待测装置的信号，包含验证数据端、解码器、参考器以及检测结果装置。验证数据端储存有多组验证电路信息。解码器与验证数据端连接，根据至少一验证电路信息进行解码产生对应的至少一解码后验证电路信息，解码器与待测装置连接，待测装置根据解码后验证电路信息产生实际值。参考器与解码器连接，根据解码后验证电路信息产生期望值。检测结果装置与参考器及待测装置连接，检测结果装置根据期望值及实际值输出待测装置的信号的自动验证结果。

【技术实现步骤摘要】
芯片自动验证系统及其方法
本专利技术是关于一种基于通用验证方法学(UniversalVerificationMethodology)架构下实现自动检测且验证任意单一线路输出电路(OneWireOutputCircuit)输出信号的验证平台。
技术介绍
在芯片设计之后，透过验证测试可帮助设计厂商检测出所设计的芯片问题，由于现在的芯片架构越来越复杂，由于需要的验证电路种类也越来越多，验证花费的时间以及错误率也随之增加。在过去的验证方式中，工程师需要根据待验证电路的特性，以人工方式分别计算出各个验证特性的期待值对应每项参数进行验证，举例而言，目前许多电路会以pulsewidth、cycletime或dutycycle作为带有效信息的信号，例如Clock、PECI、PWM、DelayCellTemperatureSensor…等等，凡输出信号为单一线路输出皆属于此。然而，利用到pulsewidth、cycletime或dutycycle解码信号在电路验证上非常耗时且费工，因为工程师必须手动输入预设的测试参数进入待测装置中。此外，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片自动验证系统，其特征在于，用于验证待测装置的一信号，其包含：/n一验证数据端，储存有多组验证电路信息；/n一解码器，与该验证数据端连接，根据至少一验证电路信息进行解码产生对应的至少一解码后验证电路信息，该解码器与该待测装置连接，该待测装置根据该解码后验证电路信息产生一实际值；/n一参考器，与该解码器连接，根据该解码后验证电路信息产生一期望值；/n一检测结果装置，与该参考器与该待测装置连接，该检测结果装置根据该期望值及该实际值输出该信号的一自动验证结果。/n

【技术特征摘要】
20181226 TW 1071471651.一种芯片自动验证系统，其特征在于，用于验证待测装置的一信号，其包含：
一验证数据端，储存有多组验证电路信息；
一解码器，与该验证数据端连接，根据至少一验证电路信息进行解码产生对应的至少一解码后验证电路信息，该解码器与该待测装置连接，该待测装置根据该解码后验证电路信息产生一实际值；
一参考器，与该解码器连接，根据该解码后验证电路信息产生一期望值；
一检测结果装置，与该参考器与该待测装置连接，该检测结果装置根据该期望值及该实际值输出该信号的一自动验证结果。


2.根据权利要求1所述的芯片自动验证系统，其特征在于，该信号包含该待测装置的一脉冲宽度调变信号的一工作周期。


3.根据权利要求1所述的芯片自动验证系统，其特征在于，还包含一驱动装置，该驱动装置与该解码器以及该待测装置连接，该驱动装置控制该解码器将该解码后验证电路信息传输至该待测装置。


4.根据权利要求1所述的芯片自动验证系统，其特征在于，该解码器根据该验证电路信息产生一感测范围信息，该参考器还根据该感测范围信息决定该期望值。


5.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢景文，
申请(专利权)人：新唐科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71