一种型号为ELEMENT GD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台制造技术

本实用新型专利技术属于辉光放电质谱法测试技术领域，尤其是涉及一种型号为ELEMENT GD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台。包括高纯铜样品台本体，所述的高纯铜样品台本体上开有凹槽，所述的凹槽中设有焊锡。优点在于：通过在高纯铜本体开设凹槽，凹槽中放入适量焊锡，可以使小尺寸样品固定在高纯铜样品上，焊锡不会露出样品的下表面，避免了测试时焊锡对样品的影响。

An element GD glow discharge mass spectrometer is used to test small samples

【技术实现步骤摘要】
一种型号为ELEMENTGD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台
本技术涉及辉光放电质谱仪测试
，尤其是涉及一种型号为ELEMENTGD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台。
技术介绍
辉光放电质谱法（GDMS）被认为是目前对固体导电材料直接进行痕量及超痕量元素分析的最有效的手段。由于其可以直接固体进样，近20年来已广泛应用于高淳金属、合金等材料的分析。GDMS不仅具有优越的检测限和宽动态线性范围的优点，而且样品制备简单、元素间灵敏度差异小、基体效应低。GDMS以期优越的分析性能在电子学、化学、冶金、地质以及科学等领域里得到广泛应用，在高纯金属和半导体材料分析中已经显示出它的优越性，发展前景十分广阔。美国热电产型号为ELEMNETGD的辉光放电质谱仪对样品的尺寸有严格的要求，块状样品的测试面直径要20mm~50mm之间，而溅射面只有10mm，所以块状样品直径在10mm~20mm之间的样品则无法测试。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述问题，提供一种设计合理，结构简单，适用于直径在10mm~20mm之间的样品的辉光放电质谱仪测试用样品台。为达到上述目的，本技术采用了下列技术方案：本型号为ELEMENTGD辉光放电质谱仪检测小尺寸样品用样品台包括高纯铜样品台本体，所述的高纯铜样品台本体上开有凹槽，所述的凹槽中设有焊锡。通过在高纯铜样品台上开设凹槽，可以测试小尺寸块状样品；凹槽中放入焊锡，确保小尺寸块状样品能固定在高纯铜凹槽底部，焊锡面不会超过样品下表面，避免了测试时焊锡对块状样品测试的影响。所述的高纯铜样品台本体为两面平行的圆柱体，高纯铜样品台本体表面的直径为25mm~50mm，高纯铜样品台本体的高度为5mm~20mm。在上述的高纯铜样品台中，所述的凹槽为圆柱形槽，凹槽的直径>20mm，凹槽的深度≥3mm。在上述的型号为ELEMENTGD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台中，所述的焊锡和凹槽的内侧壁之间设有间隔空间，所述的间隔空间应满用平面物体压样品时焊锡的延展。与现有的技术相比，本号为ELEMENTGD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台的优点在于：通过在高纯铜样品台本体开设凹槽，可以测试小尺寸的块状样品；放入适量焊锡，确保焊锡融化凝固时能把样品固定在高纯铜样品槽内，在压块状样品时不会超过样品的下表面，避免了焊锡对样品的影响。附图说明图1是本技术的放入块状样品后的结构示意图。其中，1高纯铜样品台本体、2凹槽、3焊锡。具体实施方式以下实施例仅处于说明性目的，而不是想要限制本技术的范围。实施例1。如图1所示，本技术的型号为ELEMENTGD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台包括高纯铜样品台本体1，高纯铜样品台本体1上开有凹槽2。如图1所示，本型号为ELEMENTGD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品包括高纯铜样品台1，高纯铜样品台1上开有凹槽2，凹槽2中设有焊锡。通过在高纯铜样品台本体上开设凹槽2，放入适量焊锡3，可以测试小尺寸块状样品。其中高纯铜样品台本体1表面的直径为25mm~50mm，高纯铜样品台本体1的高度为5mm~20mm。凹槽2为圆柱形槽，凹槽2的直径>20mm，凹槽2的深度≥3mm。本文中所描述的具体实施例仅仅是对本技术作举例说明。本技术所述
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。尽管本文较多地使用了高纯铜样品台本体1、凹槽2、焊锡3等术语，但并不排除使用其他术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本技术的本质；把它们解释成任何一种附加的限制都是与本技术精神相违背的。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种型号为ELEMENT GD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台，其特征在于：由高纯铜样品台本体(1)和焊锡(3)组成，高纯铜样品台本体(1)上开有凹槽(2)，焊锡(3)置于凹槽(2)内；高纯铜样品台本体(1)表面的直径为25mm～50mm，高度为5mm～20mm；凹槽(2)为圆柱形凹槽，直径>20mm，深度≥3mm。/n

【技术特征摘要】
1.一种型号为ELEMENTGD辉光放电质谱仪测试小尺寸样品用样品台，其特征在于：由高纯铜样品台本体(1)和焊锡(3)组成，高纯铜样品台本体(1)上开有凹槽(2)，焊锡(3)置于凹槽(2)内；高纯铜样品台本体(1)表面的直径为25mm～50mm，高度为5...

【专利技术属性】
技术研发人员：李建德，高丽荣，徐艳艳，赵秀芳，王小虎，张意，丰丹丹，蒋丽微，张鹏，张誉文，
申请(专利权)人：国家硅材料深加工产品质量监督检验中心东海研究院，
类型：新型
国别省市：江苏;32