芯片检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种芯片检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，所述芯片检测方法包括：获取待检测芯片的第一图像；调整所述第一图像的角度以获取第二图像，所述第二图像中待检测芯片的设定列引脚沿设定的方向排列；修正所述第二图像中的引脚反光区域以获取第三图像；根据所述第三图像携带的引脚参数信息获取待检测芯片的引脚检测结果。本发明专利技术通过调整所述第一图像的角度，降低了图片拍摄时芯片位置的偏差导致外观检测结果错误的风险；并通过修正所述第二图像中的引脚区域，有效避免了反光区域中的倒影引脚对引脚长度检测结果的影响。因此，本发明专利技术实现了一种检测效率高、出错率低的芯片外观自动检测方法。

Chip detection method, device, electronic equipment and computer-readable storage medium

【技术实现步骤摘要】
芯片检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质
本专利技术涉及芯片制造
，特别是涉及一种芯片检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。
技术介绍
随着中国半导体行业的快速发展，芯片被广泛应用于笔记本电脑、平板电脑、智能穿戴设备当中，因此人们对芯片制造商的要求也越来越高。其中，芯片的外观就是一个重要的评价指标，因为芯片封装的水平是决定芯片质量和可靠性的重要因素，使用者可以根据芯片封装后的外观在一定程度上了解芯片制造商的制造水平。但是，随着芯片生产速度的不断加快，每天有大量的芯片被需要进行封装和外观检测。目前，常用的芯片外观检测方法是封装工人使用显微镜对每个芯片上的引脚和字符进行检查和筛选，但这种人工检测的方法需要耗费大量的劳动力，而且检测效率低、出错率高，很难满足现在快速扩大的芯片制造需求。
技术实现思路
基于此，有必要针对芯片外观的检测效率低、出错率高的问题，提供一种芯片检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。一种芯片检测方法，包括：获取待检测芯片的第一图像；调整所述第一图像的角度以获取第二图像，所述第二图像中待检测芯片的设定列引脚沿设定的方向排列；修正所述第二图像中的引脚反光区域以获取第三图像；根据所述第三图像携带的引脚参数信息获取待检测芯片的引脚检测结果。在其中一个实施例中，所述根据所述第三图像携带的引脚参数信息获取待检测芯片的引脚检测结果，包括：获取所述第三图像携带的所述引脚参数信息；根据所述引脚参数信息和预设的引脚参数阈值获取待检测芯片的引脚检测结果；其中，所述引脚参数信息包括引脚数量、引脚宽度、引脚长度和引脚间距中的至少一种。在其中一个实施例中，所述获取所述第三图像携带的所述引脚参数信息，包括：对所述第三图像进行二值化处理获取二值化图像；根据所述二值化图像获取所述引脚参数信息。在其中一个实施例中，所述待检测芯片包括两列引脚，定义第一列引脚中的最左侧引脚为第一目标引脚，定义第二列引脚中的最右侧引脚为第二目标引脚，所述修正所述第二图像中的引脚反光区域以获取第三图像，包括：获取所述第二图像中的第一目标引脚的第一坐标(x1，y1)和所述第二目标引脚的第二坐标(x2，y2)；修改所述第二图像中的待归零像素点的灰度值为0以获取所述第三图像；其中，所述待归零像素点为纵坐标小于y1或大于y2的像素点。在其中一个实施例中，所述待检测芯片检测方法还包括：根据预设的字符模板图像对所述第三图像进行裁剪以获取第四图像，所述第四图像与所述字符模板图像相匹配；获取所述字符模板图像与所述第四图像之间的相似度；根据所述相似度和预设的相似度阈值获取待检测芯片的字符检测结果。在其中一个实施例中，所述根据预设的字符模板图像对所述第三图像进行裁剪以获取第四图像，包括：对所述第三图像进行第一裁剪操作获取字符区域图像；根据所述字符模板图像对所述字符区域图像进行第二裁剪操作以获取目标字符图像，所述目标字符图像中包括与所述字符模板图像相匹配的所述字符图形；根据所述字符模板图像对所述目标字符图像进行第三裁剪操作以获取所述第四图像，所述第四图像的尺寸与所述字符模板图像的尺寸相同。在其中一个实施例中，所述字符模板图像中的像素点与所述第四图像中的像素点一一对应，所述获取所述字符模板图像与所述第四图像之间的相似度，包括：获取所述字符模板图像中每个像素点的第一灰度值；获取所述第四图像中每个像素点的第二灰度值；根据相对应像素点的所述第一灰度值和所述第二灰度值获取灰度偏差值；根据每个像素点的所述灰度偏差值获取所述相似度。在其中一个实施例中，所述第二图像中待检测芯片的设定列引脚沿水平方向排列，定义所述设定列引脚中的最左侧引脚为第三目标引脚，定义所述设定列引脚中的最右侧引脚为第四目标引脚，所述调整所述第一图像的角度以获取第二图像，包括：获取所述第三目标引脚的第三坐标和所述第四目标引脚的第四坐标；根据所述第三坐标和所述第四坐标，获取所述第三坐标引脚和所述第四坐标引脚之间的连线与水平方向之间的夹角；根据所述夹角旋转所述第一图像获取所述第二图像。一种芯片检测装置，包括：初始图像获取模块，用于获取待检测芯片的第一图像；角度调整模块，用于调整所述第一图像的角度以获取第二图像，所述第二图像中的待检测芯片的设定列引脚的排列方向为水平方向；反光处理模块，用于修正所述第二图像中的引脚反光区域以获取第三图像；引脚检测模块，用于根据所述第三图像携带的引脚参数信息获取待检测芯片的引脚检测结果。在其中一个实施例中，所述芯片检测装置还包括：字符检测模块，用于根据预设的字符模板图像对所述第三图像进行裁剪以获取第四图像，所述第四图像中的字符图形与所述字符模板图像相匹配；获取所述字符模板图像与所述第四图像之间的相似度；根据所述相似度获取待检测芯片的字符检测结果。一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如上述的检测方法的步骤。一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的方法的步骤。上述芯片检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，所述芯片检测方法包括：获取待检测芯片的第一图像；调整所述第一图像的角度以获取第二图像，所述第二图像中待检测芯片的设定列引脚沿设定的方向排列；修正所述第二图像中的引脚反光区域以获取第三图像；根据所述第三图像携带的引脚参数信息获取待检测芯片的引脚检测结果。本专利技术通过调整所述第一图像的角度，降低了图片拍摄时芯片位置的偏差导致外观检测结果错误的风险；并通过修正所述第二图像中的引脚区域，有效避免了反光区域中的倒影引脚对引脚长度检测结果的影响。因此，本专利技术实现了一种检测效率高、出错率低的芯片外观自动检测方法。附图说明图1为一实施例的芯片检测方法的流程图；图2为一实施例的待检测芯片的设定摆放位置的示意图；图3为一实施例的第一图像中的待检测芯片的实际摆放位置的示意图；图4为一实施例的引脚反光区域的示意图；图5为一实施例的所述调整所述第一图像的角度以获取第二图像的流程图；图6为一实施例的第三目标引脚603和第四目标引脚604的示意图；图7为一实施例的所述修正所述第二图像中的引脚反光区域以获取第三图像的流程图；图8为一实施例的第一目标引脚601和第二目标引脚602的示意图；图9为一实施例的第三图像的示意图；图10为一实施例的所述根据所述第三图像携带的引脚参数信息获取待检测芯片的引脚检测结果的流程图；图11为一实施例的引脚参数信息的示意图；图12为一实施的所述获取所述第三图像携带的所述引脚参数信息的流程图；图13为一实施例的所述根本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片检测方法，包括：/n获取待检测芯片的第一图像；/n调整所述第一图像的角度以获取第二图像，所述第二图像中待检测芯片的设定列引脚沿设定的方向排列；/n修正所述第二图像中的引脚反光区域以获取第三图像；/n根据所述第三图像携带的引脚参数信息获取待检测芯片的引脚检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测方法，包括：
获取待检测芯片的第一图像；
调整所述第一图像的角度以获取第二图像，所述第二图像中待检测芯片的设定列引脚沿设定的方向排列；
修正所述第二图像中的引脚反光区域以获取第三图像；
根据所述第三图像携带的引脚参数信息获取待检测芯片的引脚检测结果。


2.根据权利要求1所述的芯片检测方法，其特征在于，所述根据所述第三图像携带的引脚参数信息获取待检测芯片的引脚检测结果，包括：
获取所述第三图像携带的所述引脚参数信息；
根据所述引脚参数信息和预设的引脚参数阈值获取待检测芯片的引脚检测结果；
其中，所述引脚参数信息包括引脚数量、引脚宽度、引脚长度和引脚间距中的至少一种。


3.根据权利要求2所述的芯片检测方法，其特征在于，所述获取所述第三图像携带的所述引脚参数信息，包括：
对所述第三图像进行二值化处理获取二值化图像；
根据所述二值化图像获取所述引脚参数信息。


4.根据权利要求1所述的芯片检测方法，其特征在于，所述待检测芯片包括两列引脚，定义第一列引脚中的最左侧引脚为第一目标引脚，定义第二列引脚中的最右侧引脚为第二目标引脚，所述修正所述第二图像中的引脚反光区域以获取第三图像，包括：
获取所述第二图像中的第一目标引脚的第一坐标(x1，y1)和所述第二目标引脚的第二坐标(x2，y2)；
修改所述第二图像中的待归零像素点的灰度值为0以获取所述第三图像；其中，所述待归零像素点为纵坐标小于y1或大于y2的像素点。


5.根据权利要求1所述的芯片检测方法，其特征在于，所述待检测芯片检测方法还包括：
根据预设的字符模板图像对所述第三图像进行裁剪以获取第四图像，所述第四图像与所述字符模板图像相匹配；
获取所述字符模板图像与所述第四图像之间的相似度；
根据所述相似度和预设的相似度阈值获取待检测芯片的字符检测结果。


6.根据权利要求5所述的芯片检测方法，其特征在于，所述根据预设的字符模板图像对所述第三图像进行裁剪以获取第四图像，包括：
对所述第三图像进行第一裁剪操作获取字符区域图像；
根据所述字符模板图像对所述字符区域图像进行第二裁剪操作以获取目标字符图像，所述目标字符图像中包括与所述字符模板图像相匹配的所述字符图形；
根据所述字符模板图像对所述目标字符图像进行第...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏春琪，刘宇航，张伟，门洪达，
申请(专利权)人：广西天微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广西;45