【技术实现步骤摘要】
一种促进基材与涂层扩散的热处理工艺
本专利技术属于半导体设备零部件GS片基材与铝涂层扩散工艺,具体说是通过真空热处理,增强铝层与基材的扩散,通过折弯,扫描电镜和元素分析等方法来判断是否发生扩散。
技术介绍
近年来,随着半导体设备的迅猛发展,对半导体设备的零部件的要求越来越高。GS片是半导体设备常用的零部件,属于半导体设备的消耗品,由于客户端工作条件升级,目前技术成熟的GS片材质已经无法满足使用温度要求和寿命要求,GS片的新原材料及工艺亟待开发。
技术实现思路
针对上述存在的问题,本专利技术GS片采用新的基材加喷铝涂层的材料作为原材料,解决旧版GS片的使用温度低,寿命短的问题。本专利技术采用的方案是:一种增强基材与铝涂层扩散的方法,包括如下步骤:步骤1将带有铝涂层的基材放置在真空环境中做真空保护;步骤2真空环境下升温,做高温热处理;步骤3自然冷却至室温后,取出样品,做折弯,孔隙率和元素分析验证。步骤1中基材采用镍金属与铝涂层产生扩散。步骤1中真空保护是无氧的环境中进行,采用真空保护、惰性气体保护。步骤2热处理温度范围350℃~550℃,恒温热处理时间3~48小时。步骤3中样品热处理后,在加热装置中自然冷却至室温,取出。本专利技术的有益效果是:1.基材表层喷铝,工作温度高达500℃以上,增强材料的导电性。2.铝涂层厚度控制在80μ~150μ,能有效预防材料被腐蚀。3.对带有铝涂层的基材进行真空热处理 ...
【技术保护点】
1.一种增强基材与铝涂层扩散的方法,其特征在于:/n包括如下步骤:/n步骤1将带有铝涂层的基材放置在真空环境中做真空保护;/n步骤2真空环境下升温,做高温热处理;/n步骤3自然冷却至室温后,取出样品,做折弯,孔隙率和元素分析验证。/n
【技术特征摘要】
1.一种增强基材与铝涂层扩散的方法,其特征在于:
包括如下步骤:
步骤1将带有铝涂层的基材放置在真空环境中做真空保护;
步骤2真空环境下升温,做高温热处理;
步骤3自然冷却至室温后,取出样品,做折弯,孔隙率和元素分析验证。
2.如专利要求所述1的一种增强基材与铝涂层扩散的方法,其特征在于:
步骤1中基材采用镍金属与铝涂层产生扩散。
3.如专利要求所述1的一...
【专利技术属性】
技术研发人员:谢华,侯涛,张照宇,张婷,
申请(专利权)人:沈阳富创精密设备有限公司,
类型:发明
国别省市:辽宁;21
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