集成于MCU的开盖检测电路和基于MCU的开盖检测方法技术

一种集成于MCU的开盖检测电路和电能表控制芯片，基于电表的电能存储设备独立供电工作，实时时钟模块和其他模块都可以低功耗运行，其功率低，保证在交流电断电的时候，只有电能存储设备供电的情况下，还能通过MCU的开盖检测电路进行电表开盖检测；另外，上述的方法和电路通过检测开关检测引脚的电平状态变化并以预设规则确定是否有开盖或者闭盖事件发生，设置预设规定可以避免干扰信号对开关检测引脚的误触发，记录错误的开盖或闭盖的事件，提高开盖检测的准确性。

Cover opening detection circuit integrated in MCU and cover opening detection method based on MCU

【技术实现步骤摘要】
集成于MCU的开盖检测电路和基于MCU的开盖检测方法
本专利技术属于电表
，尤其涉及一种具有独立供电的实时时钟电路的开盖检测电路的电能表控制芯片、集成于MCU的开盖检测电路以及基于MCU的开盖检测方法。
技术介绍
电能表的实体外壳是防止篡改的第一道防线，其设计必须包含某种可检测电表外壳何时被打开的装置，以便提醒服务提供商电能表可能受到了篡改攻击，所以一般的智能电表上都有一个开盖检测设计。当电能表上盖被打开后，电能表内开表盖检测开关触发，电能表记录开表盖事件，在电能表及采集终端事件记录采集规则中，电能表开盖事件属于用电信息采集系统事件记录中电能表事件的1级紧急事件，其意义为包括用户有疑似窃电行为发生的事件、采集策略为主动上报至主站系统。传统的电表开盖检测方式，都是通过CPU检测开盖行为并记录开盖时间，或者通过CPU上报开盖事件到主站系统，该方案的特点是在交流电断电而仅依靠电池供电的情况下，需要频繁唤醒CPU来检测开盖事件。默认情况下CPU处于休眠状态，每当检测到按键有动作时都需要唤醒CPU，通过CPU判断是否有开盖事件产生，进而记录本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成于MCU的开盖检测电路，所述MCU可用电能存储设备供电，其特征在于，包括：/n实时时钟模块，用于提供实时时间；/n开盖检测模块，与所述MCU的开盖检测引脚连接，用于检测所述开盖检测引脚的电平状态变化并以预设规则确定是否有开盖或者闭盖事件发生，并用于输出指示开盖或者闭盖事件的检测信号；/n开盖记录模块，与所述开盖检测模块和所述实时时钟模块连接，用于接收所述检测信号并获取当前时间戳以记录当前的开盖或者闭盖事件。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成于MCU的开盖检测电路，所述MCU可用电能存储设备供电，其特征在于，包括：
实时时钟模块，用于提供实时时间；
开盖检测模块，与所述MCU的开盖检测引脚连接，用于检测所述开盖检测引脚的电平状态变化并以预设规则确定是否有开盖或者闭盖事件发生，并用于输出指示开盖或者闭盖事件的检测信号；
开盖记录模块，与所述开盖检测模块和所述实时时钟模块连接，用于接收所述检测信号并获取当前时间戳以记录当前的开盖或者闭盖事件。


2.如权利要求1所述的集成于MCU的开盖检测电路，其特征在于，还包括接口模块，所述接口模块与所述开盖记录模块连接，用于发送所述开盖或者闭盖事件。


3.如权利要求1所述的集成于MCU的开盖检测电路，其特征在于，所述实时时钟模块包括秒计数器、分计数器、时计数器、日计数器、月计数器、年计数器以及用于设置各计数器计数起点的时间设置单元。


4.如权利要求1所述的集成于MCU的开盖检测电路，其特征在于，所述开盖检测模块包括：
滤波单元，用于配置所述开盖检测引脚的电平状态保持最短时间，以滤除干扰；
累加器，与所述开盖检测引脚连接，用于计算所述开盖检测引脚的电平状态变化后保持在该状态的累加时间；
比较器，与所述开盖检测引脚连接，用于比较所述最短时间与所述累加时间，在所述最短时间与所述累加时间相等时控制所述累加器停止计数；
边沿判断单元，用于在所述最短时间与所述累加时间相等时，比较所述开盖检测引脚当前的电平状态和上一次的电平状态以确认是否开盖或闭盖事件产生。


5.如权利要求1所述的集成于MCU的开盖检测电路，其特征在于，所述开盖记录模块包括两组时间寄...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾培楷，易文，苗书立，赵琮，
申请(专利权)人：深圳市锐能微科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44