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集成于MCU的开盖检测电路和基于MCU的开盖检测方法技术
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下载集成于MCU的开盖检测电路和基于MCU的开盖检测方法的技术资料
文档序号:24612383
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一种集成于MCU的开盖检测电路和电能表控制芯片,基于电表的电能存储设备独立供电工作,实时时钟模块和其他模块都可以低功耗运行,其功率低,保证在交流电断电的时候,只有电能存储设备供电的情况下,还能通过MCU的开盖检测电路进行电表开盖检测;另外,...
该专利属于深圳市锐能微科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市锐能微科技有限公司授权不得商用。
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