用于测量机加工工具的状态的工具装置以及方法制造方法及图纸

一种工具装置(1)，用于通过切削、铣削、钻孔或研磨来机加工工件(4)，该工具装置包括用于检测在机加工期间工具装置(1)的状态的传感器(20)，其中传感器(20)可连接到接收单元(40)，接收单元将数据传输到分析单元(50)，用于分析接收到的数据。传感器(20)被构造为光纤传感器(20)，其包括至少一条光纤(26)，光纤为可连接光源(30)发射的光束提供了入射光路(22)和反射光路(24)，并且光纤的远端位于工具装置(1)的表面(14，74)中，使得可以测量光路长度。

Tool device and method for measuring the state of machining tools

【技术实现步骤摘要】
用于测量机加工工具的状态的工具装置以及方法
本专利技术涉及一种能够在机加工过程期间测量诸如研磨工具和/或切削工具的机加工工具的状态的工具装置和方法。本专利技术专注于测量工具磨损。
技术介绍
在机加工过程中，由于工件和一个或多个工具边缘之间的切削动作，使用机加工工具时总是会以某种磨损而结束。特别地，机加工工具影响生产率、机加工操作的经济性以及机加工的产品的质量。已经进行了许多尝试以实现一种自动系统来测量工具磨损，这移除了对手动检查的需要，并减少了用于测量磨损的时间。已经开发出几种不同的方法来监测工具的状况，诸如监测用于切削、铣削或钻孔或研磨工具的切削刀片(cuttinginsert)、即可替换和/或可转位刀片的状况，并且预测工具磨损以优化刀具的更替间隔或修整间隔，因为在实际废弃工具之前已经知道工具寿命时。特别地，工具磨损可以描述为在切削或研磨期间由于工具材料的逐渐损失或变形而导致的工具形状从其原始形状的改变。例如，对于切削工具而言，磨损已知为刀片的主刀腹(flank)、副刀腹和/或端面的刀腹面磨损。可以根据直接和间接传感器中使用的传感器来划分工具本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种工具装置(1)，用于通过切削、铣削、钻孔或研磨来机加工工件(4)，所述工具装置包括：/n传感器(20)，用于在机加工期间检测所述工具装置(1)的状态，/n其中所述传感器(20)能够连接到接收单元(40)，所述接收单元将数据传输到用于分析接收到的数据的分析单元(50)，/n其特征在于，/n所述传感器(20)被构造为光纤传感器(20)，所述光纤传感器包括至少一条光纤(26)，所述光纤为能连接的光源(30)所发射的光束提供入射光路(22)和反射光路(24)，并且所述光纤的远端位于所述工具装置(1)的表面(14，74)中，以允许测量光路长度。/n

【技术特征摘要】
20181212 CH 01531/181.一种工具装置(1)，用于通过切削、铣削、钻孔或研磨来机加工工件(4)，所述工具装置包括：
传感器(20)，用于在机加工期间检测所述工具装置(1)的状态，
其中所述传感器(20)能够连接到接收单元(40)，所述接收单元将数据传输到用于分析接收到的数据的分析单元(50)，
其特征在于，
所述传感器(20)被构造为光纤传感器(20)，所述光纤传感器包括至少一条光纤(26)，所述光纤为能连接的光源(30)所发射的光束提供入射光路(22)和反射光路(24)，并且所述光纤的远端位于所述工具装置(1)的表面(14，74)中，以允许测量光路长度。


2.根据权利要求1所述的工具装置(1)，其中，所述光纤传感器(20)是干涉式光纤传感器。


3.根据权利要求2所述的工具装置(1)，其中，所述干涉式光纤传感器使用两个光束之间的干涉，所述两个光束通过不同的光路(22，24)传播，所述光路由单条光纤(26)或两条不同的光纤(26)提供。


4.根据权利要求2或3所述的工具装置(1)，其中，所述干涉式光纤传感器是低相干干涉传感器。


5.根据前述权利要求中任一项所述的工具装置(1)，其中，所述工具装置(1)被构造为用于研磨工件(4)的研磨工具(2)，并且其中，所述至少一条光纤(26)的远端位于所述研磨工具(2)的磨料表面(14)中。


6.根据权利要求5所述的工具装置(1)，其中，所述光纤传感器(20)确定在多个反射器处反射的两个光束之间的光学相位差，由此，由所述至少一条光纤(26)的远端提供一个反射器。


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【专利技术属性】
技术研发人员：S·舒尔茨，M·梅尔，L·维斯，
申请(专利权)人：阿加森机械制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：瑞士;CH