圆度检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种圆度检测装置及方法，圆度检测装置包括旋转工作台、驱动机构及测量机构。旋转工作台用于安装工件，驱动机构用于带动旋转工作台旋转。测量机构包括尺寸测量组件、控制器及显示器，尺寸测量组件用于采样测得工件的多组数据，控制器通过数据能够绘制二维平面图，并计算出工件的直径及圆度。启动驱动机构，驱动机构驱动旋转工作台旋转一周，进而带动安装于旋转工作台的工件旋转一周。在旋转的过程中，尺寸测量组件对工件进行采样测得若干组数据，控制器通过尺寸测量组件测得的数据绘制出二维平面图，并通过控制器计算出工件的直径及圆度。通过旋转工作台、驱动机构及测量机构的共同作用，便可测量工件的圆度，结构简单，测量精度高。

Roundness detection device and method

【技术实现步骤摘要】
圆度检测装置及方法
本专利技术涉及检测设备
，特别是涉及一种圆度检测装置及方法。
技术介绍
定子铁芯是构成电机磁通回路和固定定子线圈的重要部件，拼块式定子铁芯是一种常见的定子铁芯，其通过紧固件将若干个冲片压紧组合成一个整体，以提高材料的利用率，并实现自动绕线及高效拼装。拼块式定子铁芯在压紧组合的过程中，需要对其直径及圆度进行检测，若直径或圆度与标准值存在误差，会影响电机性能，导致电机的噪音增大、脉动增大等。传统的圆度测量方法是采用两点法、三坐标、偏摆仪等，检测效率低、劳动强度大，并且容易出现操作误差，检测精度低。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种圆度检测装置及方法，减小测量误差，提高检测精度及效率，降低劳动强度。一种圆度检测装置，包括：旋转工作台，所述旋转工作台用于安装工件；驱动机构，所述驱动机构用于带动所述旋转工作台进行旋转；测量机构，所述测量机构包括尺寸测量组件、显示器及控制器，所述控制器分别与所述尺寸测量组件、所述显示器通信连接，所述尺寸测量组件用于采样测得所述工件在某一高度处的多组数据，所述控制器通过所述数据能够绘制二维平面图，并计算得出所述工件的直径及圆度。上述圆度检测装置至少具有以下优点：上述方案提供一种圆度检测装置，需要对工件进行直径及圆度进行检测时，启动驱动机构，驱动机构驱动旋转工作台旋转一周，进而带动安装于旋转工作台的工件旋转一周。在工件旋转的过程中，尺寸测量组件对工件进行采样测得若干组数据，控制器通过尺寸测量组件测得的数据绘制出二维平面图，并通过控制器计算出工件的直径及圆度。本方案的圆度检测装置通过旋转工作台、驱动机构、尺寸测量组件及控制器的共同作用，便可测量得出工件的直径及圆度，结构简单、误差小，并且能够提高测量精度及效率，降低劳动强度。在其中一个实施例中，所述尺寸测量组件包括第一感测件及第二感测件，所述第一感测件设于所述工件的一侧，所述第二感测件相对地设于所述工件的另一侧。在其中一个实施例中，所述第一感测件与所述第二感测件平行设置。在其中一个实施例中，所述第一感测件包括第一发射器及第一接收器，所述第一发射器用于设置在所述工件的一侧，所述第一接收器用于相对地设置在所述工件的另一侧；所述第一发射器包括第一光源，所述第一接收器包括第一CMOS传感器及通过接口与所述第一CMOS传感器连接的第一镜头，所述第一光源发射的光经所述工件遮挡能够投影于所述第一镜头。在其中一个实施例中，所述第二感测件包括第二发射器及第二接收器，所述第二发射器用于设置在所述工件的一侧，所述第二接收器用于相对设置在所述工件的另一侧；所述第二发射器包括第二光源，所述第二接收器包括第二CMOS传感器及通过接口与所述第二CMOS传感器连接的第二镜头，所述第二光源发射的光经所述工件遮挡能够投影于所述第二镜头。在其中一个实施例中，所述第一发射器与所述第一接收器用于设在所述工件高度方向的中部，所述第二发射器与所述第二接收器用于设在所述工件高度方向的中部。在其中一个实施例中，所述驱动机构包括减速电机及齿轮组件，所述减速电机通过所述齿轮组件连接所述旋转工作台。在其中一个实施例中，圆度检测装置还包括固定架，所述固定架设有安装孔，所述旋转工作台可旋转地设于所述安装孔内，所述尺寸测量组件设于所述固定架。一种圆度检测方法，包括：标准工件旋转一周，获取标准工件某一高度位置处的多组采样数据，根据多组采样数据得到标准工件的二维平面图，并计算得出标准工件的直径；被测工件旋转一周，获取被测工件与标准工件同一高度位置处的多组采样数据，根据多组采样数据得出被测工件的二维平面图；将被测工件的二维平面图与标准工件的二维平面图进行对比，根据标准工件的二维平面图，对被测工件的多组采样数据进行自动补偿校正；对被测工件补偿校正后的二维平面图进行数据采集，计算得出被测工件的直径，进而计算得出被测工件的圆度。上述圆度检测方法至少具有以下优点：上述方案提供一种圆度检测方法，先获取标准工件在某一高度位置处的多组采样数据，根据采样数据得出标准工件的二维平面图。获取被测工件在同一高度位置处的多组采样数据，根据采样数据得到被测工件的二维平面图。通过将被测工件的二维平面图与标准工件的二维平面图进行对比，并对被测工件的多组采样数据进行自动补偿校正，根据补偿校正后的采样数据计算被测工件的直径及圆度，这样使得测量精度高，误差小。在其中一个实施例中，对被测工件的多组采样数据进行补偿校正的方法包括：剔除被测工件的二维平面图中与标准工件的二维平面图趋势相异的数据点，补偿被测工件的二维平面图中与标准工件的二维平面图趋势相同的数据点。附图说明图1为本专利技术一实施例的圆度检测装置的结构示意图；图2为本专利技术一实施例的圆度检测装置的计算示意图；图3为本专利技术一实施例的圆度检测装置的工作流程图；图4为本专利技术一实施例的圆度检测方法的工作流程图。附图说明：10、旋转工作台，20、驱动机构，21、减速电机，22、齿轮组件，30、尺寸测量组件，31、第一感测件，311、第一发射器，3111、第一光源，312、第一接收器，3121、第一CMOS传感器，3122、第一镜头，32、第二感测件，321、第二发射器，3211、第二光源，322、第二接收器，3221、第二CMOS传感器，3222、第二镜头，40、控制器，50、固定架，60、工件。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似改进，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是通信连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种圆度检测装置，其特征在于，包括：/n旋转工作台，所述旋转工作台用于安装工件；/n驱动机构，所述驱动机构用于带动所述旋转工作台进行旋转；/n测量机构，所述测量机构包括尺寸测量组件、显示器及控制器，所述控制器分别与所述尺寸测量组件、所述显示器通信连接，所述尺寸测量组件用于采样测得所述工件在某一高度处的多组数据，所述控制器通过所述数据能够绘制二维平面图，并计算得出所述工件的直径及圆度。/n

【技术特征摘要】
1.一种圆度检测装置，其特征在于，包括：
旋转工作台，所述旋转工作台用于安装工件；
驱动机构，所述驱动机构用于带动所述旋转工作台进行旋转；
测量机构，所述测量机构包括尺寸测量组件、显示器及控制器，所述控制器分别与所述尺寸测量组件、所述显示器通信连接，所述尺寸测量组件用于采样测得所述工件在某一高度处的多组数据，所述控制器通过所述数据能够绘制二维平面图，并计算得出所述工件的直径及圆度。


2.根据权利要求1所述的圆度检测装置，其特征在于，所述尺寸测量组件包括第一感测件及第二感测件，所述第一感测件设于所述工件的一侧，所述第二感测件相对地设于所述工件的另一侧。


3.根据权利要求2所述的圆度检测装置，其特征在于，所述第一感测件与所述第二感测件平行设置。


4.根据权利要求2或3所述的圆度检测装置，其特征在于，所述第一感测件包括第一发射器及第一接收器，所述第一发射器用于设置在所述工件的一侧，所述第一接收器用于相对地设置在所述工件的另一侧；所述第一发射器包括第一光源，所述第一接收器包括第一CMOS传感器及通过接口与所述第一CMOS传感器连接的第一镜头，所述第一光源发射的光经所述工件遮挡能够投影于所述第一镜头。


5.根据权利要求4所述的圆度检测装置，其特征在于，所述第二感测件包括第二发射器及第二接收器，所述第二发射器用于设置在所述工件的一侧，所述第二接收器用于相对设置在所述工件的另一侧；所述第二发射器包括第二光源，所述第二接收器包括第二CMOS传感器及通过接口与所述第二CMOS传感器连接的第二镜头，所述第二光...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴红兵，罗红飞，王宏，
申请(专利权)人：日立电梯电机广州有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44