一种光学零件中心厚度自动检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光学零件中心厚度自动检测装置及方法：包括传送带、抓取机器人测量组件及数据处理单元，测量组件包括测量台及依次设置在测量台的测试光源、横向移台、矩阵CCD，测试光源水平设置且通过升降系统连接于测量台；抓取机器人用于将传送带上的待测产品搬运至横向移台；横向移台用于固定待测工件，横向移台的移动方向平行于矩阵CCD的所在平面；数据处理单元用于控制抓取机器人、测量组件。相对于现有技术，本发明专利技术能够实现光学零件中心厚度的无接触式测量，并且能够实现工件进给、搬运及光学检测，由于采用高精度的进给系统升降系统、横向移台以及高精度的矩阵CCD，因此本发明专利技术的检测精度更高。

An automatic measuring device and method for the center thickness of optical parts

【技术实现步骤摘要】
一种光学零件中心厚度自动检测装置及方法
本专利技术涉及光学零件检测
，具体涉及一种光学零件中心厚度自动检测装置及方法。
技术介绍
光学零件，如镜片、光学镜头在生产完成之后需要对其进行检测，其中心厚度的检测难度比较大，如果采用测量器具直接接触的方式测量，则有可能损坏产品，这是因为测量器具由于精度的原因通常硬度较高，并且棱角比较明显，如果硬度不高、棱角不明显则会因为自身的形变量及形状不规则造成测量上的误差，因此实施无接触测量才是最佳的方案，而无接触测量则需要一套工件传输、放置、检测系统。
技术实现思路
为解决现有技术中的不足，本专利技术提供一种光学零件中心厚度自动检测装置及方法，解决了光学零件检测需要测量器具直接接触的技术问题。为了实现上述目标，本专利技术采用如下技术方案：一种光学零件中心厚度自动检测装置，其特征在于：包括传送带、抓取机器人测量组件及数据处理单元，所述测量组件包括测量台及依次设置在测量台的测试光源、横向移台、矩阵CCD，所述测试光源水平设置且通过升降系统连接于测量台；r>所述抓取机器人用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学零件中心厚度自动检测装置，其特征在于：包括传送带（1）、抓取机器人（3）测量组件及数据处理单元（4），所述测量组件包括测量台（5）及依次设置在测量台的测试光源（6）、横向移台（8）、矩阵CCD（7），所述测试光源（6）水平设置且通过升降系统（61）连接于测量台（5）；/n所述抓取机器人（3）用于将传送带（1）上的待测产品搬运至横向移台（8）；/n所述横向移台（8）用于固定待测工件，横向移台（8）的移动方向平行于矩阵CCD（7）的所在平面；/n所述数据处理单元（4）用于控制抓取机器人（3）、测量组件。/n

【技术特征摘要】
1.一种光学零件中心厚度自动检测装置，其特征在于：包括传送带（1）、抓取机器人（3）测量组件及数据处理单元（4），所述测量组件包括测量台（5）及依次设置在测量台的测试光源（6）、横向移台（8）、矩阵CCD（7），所述测试光源（6）水平设置且通过升降系统（61）连接于测量台（5）；
所述抓取机器人（3）用于将传送带（1）上的待测产品搬运至横向移台（8）；
所述横向移台（8）用于固定待测工件，横向移台（8）的移动方向平行于矩阵CCD（7）的所在平面；
所述数据处理单元（4）用于控制抓取机器人（3）、测量组件。


2.根据权利要求1所述的一种光学零件中心厚度自动检测装置，其特征在于：所述传送带（1）的传送末端还设有用于避免产品脱落的限位（2）。


3.根据权利要求1所述的一种光学零件中心厚度自动检测装置，其特征在于：所述横向移台（8）的两侧设有用于限制产品的挡边（81）。


4.根据权利要求1所述的一种光学零件中心厚度自动检测装置，其特征在于：所述抓取机器人（3）将待测工件竖向放置在横向移台（8）。


5.根据权利要求1所述的一种光学零件中心厚度自动检测装置，其特征在于：所述测试光源（6）是单色红光光源...

【专利技术属性】
技术研发人员：王滔，王志华，高峰，仝若男，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32