【技术实现步骤摘要】
非接触姿态测量方法、装置以及存储介质
本申请涉及姿态测量
，特别是涉及一种非接触姿态测量方法、装置以及存储介质。
技术介绍
现有的对物体的姿态进行测量的方式为接触式姿态测量，例如将陀螺仪放置在被测物体上，用以测量被测物体的姿态。然而，在实际的应用场景中，会存在无法直接将陀螺仪放置在被测物体上的情况。因此，需要一种非接触式姿态测量方式，使得在不与被测物体接触的情况下，获取与被测物体相关的姿态信息。但是，在不与被测物体接触的情况下，如何获取与被测物体相关的姿态信息，并且在获取到与被测物体相关的姿态信息的情况下，如何确定被测物体的姿态的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本公开提供了一种非接触姿态测量方法、装置以及存储介质，以至少解决现有技术中存在的在不与被测物体接触的情况下，如何获取与被测物体相关的姿态信息，并且在获取到与被测物体相关的姿态信息的情况下，如何确定被测物体的姿态的技术问题。根据本申请的一个方面，提供了一种非接触姿态测量方法，用于对被测物体的姿态进行测量，包...
【技术保护点】
1.一种非接触姿态测量方法，用于对被测物体的姿态进行测量，其特征在于，包括：/n判定第一光学准直装置(10)与设置于所述被测物体的第一测量面(S1)是否对准，其中在所述第一光学准直装置(10)与所述第一测量面(S1)对准的情况下，所述第一光学准直装置(10)的轴线与所述第一测量面(S1)的法线平行；以及/n在判定所述第一光学准直装置(10)与所述第一测量面(S1)对准的情况下，根据与所述第一光学准直装置(10)的姿态相关的第一测量信息，确定所述被测物体的第一姿态信息。/n
【技术特征摘要】
1.一种非接触姿态测量方法，用于对被测物体的姿态进行测量，其特征在于，包括：
判定第一光学准直装置(10)与设置于所述被测物体的第一测量面(S1)是否对准，其中在所述第一光学准直装置(10)与所述第一测量面(S1)对准的情况下，所述第一光学准直装置(10)的轴线与所述第一测量面(S1)的法线平行；以及
在判定所述第一光学准直装置(10)与所述第一测量面(S1)对准的情况下，根据与所述第一光学准直装置(10)的姿态相关的第一测量信息，确定所述被测物体的第一姿态信息。
2.根据权利要求1所述的非接触姿态测量方法，其特征在于，还包括从所述第一光学准直装置(10)获取第一对准信息，其中所述第一对准信息用于指示所述第一光学准直装置(10)与所述被测物体的第一测量面(S1)之间的对准状态，并且
判定所述第一光学准直装置(10)与所述第一测量面(S1)是否对准的操作，包括：根据所述第一对准信息判定所述第一光学准直装置(10)与所述第一测量面(S1)是否对准。
3.根据权利要求1所述的非接触姿态测量方法，其特征在于，还包括：
判定第二光学准直装置(40)与设置于所述被测物体的第二测量面(S2)是否对准，其中在所述第二光学准直装置(40)与所述第二测量面(S2)对准的情况下，所述第二光学准直装置(40)的轴线与所述第二测量面(S2)的法线平行；以及
在判定所述第二光学准直装置(40)与所述第二测量面(S2)对准的情况下，根据与所述第二光学准直装置(40)的姿态相关的第二测量信息，确定所述被测物体的第二姿态信息。
4.根据权利要求3所述的非接触姿态测量方法，其特征在于，还包括从所述第二光学准直装置(40)获取第二对准信息，其中所述第二对准信息用于指示所述第二光学准直装置(40)与所述被测物体的第二测量面(S2)之间的对准状态，并且
判定所述第二光学准直装置(40)与所述第二测量面(S2)是否对准的操作，包括：根据所述第二对准信息判定所述第二光学准直装置(40)与所述第二测量面(S2)是否对准。
5.根据权利要求2所述的非接触姿态测量方法，其特征在于，所述第一光学准直装置(10)包括：光源(110)；图像采集单元(120)；设置于所述光源(110)前的第一分划板(130)；设置于所述图像采集单元(120)前的第二分划板(140)；以及光学系统，其中
所述光学系统用于将由所述光源(110)发射并且穿过所述第一分划板(130)的光源光投射到所述第一测量面(S1)上，以及将从所述第一测量面(S1)反射回的所述光源光经由所述第二分划板(140)投射到所述图像采集单元(120)，并且
从所述第一光学准直装置(10)获取第一对准信息的操作，包括从所述第一光学准直装置(10)获取所述图像采集单元(120)采集的检测图像作为所述第一对准信息，其中所述检测图像包含所述第一分划板(130)的第一刻线的第一影...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨君，徐唐进，习先强，孙化龙，
申请(专利权)人：天津时空经纬测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12
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