用于对非接触姿态测量设备进行标定的标定系统及方法技术方案

本申请公开了一种用于对非接触姿态测量设备进行标定的标定系统及方法。其中，非接触姿态测量设备包括用于测量与被测物体的姿态相关的姿态信息的光学准直装置和用于测量与光学准直装置的姿态相关的姿态信息的姿态测量装置，并且标定系统包括：姿态调整设备，用于调整非接触姿态测量设备的姿态；反射部件，设置有朝向光学准直装置的参考反射面；以及计算设备，与光学准直装置以及姿态测量装置连接，配置用于：根据从光学准直装置接收的第一测量信息确定光学准直装置的第一姿态信息；根据从姿态测量装置接收的第二测量信息确定光学准直装置的第二姿态信息；以及根据第一姿态信息和第二姿态信息，对非接触姿态测量设备进行标定。

【技术实现步骤摘要】
用于对非接触姿态测量设备进行标定的标定系统及方法
本申请涉及标定
，特别是涉及一种用于对非接触姿态测量设备进行标定的标定系统及方法。
技术介绍
现有的对物体的姿态进行测量的方式为接触式姿态测量，例如将陀螺仪放置在被测物体上，用以测量被测物体的姿态。然而，在实际的应用场景中，会存在无法直接将陀螺仪放置在被测物体上的情况。从而提出了一种由光学准直装置和姿态测量装置共同构成的非接触姿态测量设备，其中利用光学准直装置中分划板上的刻线的位置，确定被测物体相对于光学准直装置的姿态，然后通过将光学准直装置设置于姿态测量装置之上，即可通过姿态测量装置测量出光学准直装置的姿态，最后根据被测物体相对于光学准直装置的姿态最终确定被测物体的姿态。在使用上述的非接触姿态测量设备对被测物体的姿态进行测量的过程中，要求光学准直装置的坐标系与姿态测量装置的坐标系始终保持一致，才能够根据被测物体相对于光学准直装置的姿态和姿态测量装置测量出的光学准直装置的姿态运算出被测物体的姿态。但是，在将光学准直装置安装于姿态测量装置上的安装过程中，容易造成光学准直装置的坐标系与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于对非接触姿态测量设备(20)进行标定的标定系统(10)，其中所述非接触姿态测量设备(20)包括光学准直装置(210)和与所述光学准直装置(210)连接的姿态测量装置(220)，并且所述光学准直装置(210)用于测量与被测物体的姿态相关的姿态信息，所述姿态测量装置(220)用于测量与所述光学准直装置(210)的姿态相关的姿态信息，其特征在于，所述标定系统(10)包括：/n姿态调整设备(110)，用于调整所述非接触姿态测量设备(20)的姿态；/n反射部件(120)，设置有朝向所述光学准直装置(210)的参考反射面(S1)；以及/n计算设备(130)，与所述光学准直装置(210)以及所述...

【技术特征摘要】
1.一种用于对非接触姿态测量设备(20)进行标定的标定系统(10)，其中所述非接触姿态测量设备(20)包括光学准直装置(210)和与所述光学准直装置(210)连接的姿态测量装置(220)，并且所述光学准直装置(210)用于测量与被测物体的姿态相关的姿态信息，所述姿态测量装置(220)用于测量与所述光学准直装置(210)的姿态相关的姿态信息，其特征在于，所述标定系统(10)包括：
姿态调整设备(110)，用于调整所述非接触姿态测量设备(20)的姿态；
反射部件(120)，设置有朝向所述光学准直装置(210)的参考反射面(S1)；以及
计算设备(130)，与所述光学准直装置(210)以及所述姿态测量装置(220)连接，并且配置用于：
根据从所述光学准直装置(210)接收的第一测量信息，确定所述光学准直装置(210)的第一姿态信息；
根据从所述姿态测量装置(220)接收的第二测量信息，确定所述光学准直装置(210)的第二姿态信息；以及
根据所述第一姿态信息和所述第二姿态信息，对所述非接触姿态测量设备(20)进行标定。


2.根据权利要求1所述的标定系统(10)，其特征在于，所述光学准直装置(210)包括：光源(211)；图像采集单元(212)；设置于所述光源前的第一分划板(213)；设置于所述图像采集单元(212)前的第二分划板(214)；以及光学系统，其中
所述光学系统用于将由所述光源(211)发射并且穿过所述第一分划板(213)的光源光投射到所述参考反射面(S1)上，以及将从所述参考反射面(S1)反射回的所述光源光经由所述第二分划板(214)投射到所述图像采集单元(212)，并且
根据从所述光学准直装置(210)接收的第一测量信息，确定所述光学准直装置(210)的第一姿态信息的操作，包括：
接收所述图像采集单元(212)采集的检测图像作为所述第一测量信息，其中所述检测图像包含所述第一分划板(213)的第一刻线的第一影像和所述第二分划板(214)的第二刻线的第二影像；
根据所述第一影像与所述第二影像的位置，确定所述光学准直装置(210)与所述参考反射面(S1)的方位角偏差以及俯仰角偏差；以及
根据所述方位角偏差、所述俯仰角偏差以及与所述参考反射面(S1)相关的姿态信息，确定所述光学准直装置(210)的第一姿态信息。


3.根据权利要求1所述的标定系统(10)，其特征在于，根据从所述姿态测量装置(220)接收的第二测量信息，确定所述光学准直装置(210)的第二姿态信息的操作，包括：利用捷联惯导算法，根据所述第二测量信息，确定所述光学准直装置(210)的第二姿态信息。


4.根据权利要求1所述的标定系统(...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨君，习先强，
申请(专利权)人：天津时空经纬测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12