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本申请公开了一种用于对非接触姿态测量设备进行标定的标定系统及方法。其中，非接触姿态测量设备包括用于测量与被测物体的姿态相关的姿态信息的光学准直装置和用于测量与光学准直装置的姿态相关的姿态信息的姿态测量装置，并且标定系统包括：姿态调整设备，用...
该专利属于天津时空经纬测控技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津时空经纬测控技术有限公司授权不得商用。

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