温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开了一种非接触姿态测量方法、装置以及存储介质。其中，非接触姿态测量方法包括：判定第一光学准直装置与设置于被测物体的第一测量面是否对准，其中在第一光学准直装置与第一测量面对准的情况下，第一光学准直装置的轴线与第一测量面的法线平行；以及...
该专利属于天津时空经纬测控技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津时空经纬测控技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。