一种晶体制备装置制造方法及图纸

技术编号:24442630 阅读:38 留言:0更新日期:2020-06-10 12:21
本申请提供一种晶体制备装置。所述晶体制备装置包括:生长腔体,用于放置籽晶和源材料;加热组件,用于加热所述生长腔体;温度补偿组件,用于在晶体生长过程中提供温度补偿,其中,所述温度补偿组件位于所述生长腔体上表面或下表面,所述温度补偿组件包括至少一个加热单元。

A crystal preparation device

【技术实现步骤摘要】
一种晶体制备装置
本申请涉及半导体设备
,特别涉及一种晶体制备装置。
技术介绍
半导体晶体(例如,碳化硅单晶)具有优异的物理化学性能,因此成为制造高频率和大功率器件的重要材料。物理气相传输法(PhysicalVaporTransport,PVT)是一种常用的用于制备半导体晶体的方法,具体地,将籽晶粘接在生长腔体顶部,将物料置于生长腔体底部,腔体外部缠绕加热元件(例如,感应线圈),用于加热生长腔体。物料在高温条件下分解升华为气相组分,气相组分在轴向温度梯度驱动下传输至低温区的籽晶处,并在籽晶表面沉积生成晶体。然而,在晶体的生长过程中,不仅存在轴向温度梯度,还存在径向温度梯度。在生长大尺寸的晶体时,较大的径向温度梯度会导致晶体生长缺陷,降低晶体的质量和产率;此外,由于物料覆盖区域的径向温度梯度较大,使得升华的各个气相组分的摩尔比沿径向分布不均匀,不利于晶体的稳定生长。因此,有必要提供一种改进的晶体制备装置,用于制备大尺寸、高质量的晶体。
技术实现思路
本申请的一个方面提供一种晶体制备装置。所述装置包括:生长腔体,用于放置籽本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶体制备装置,其特征在于,包括:/n生长腔体,用于放置籽晶和源材料;/n加热组件,用于加热所述生长腔体;以及/n温度补偿组件,用于在晶体生长过程中提供温度补偿,其中,/n所述温度补偿组件位于所述生长腔体上表面和/或下表面,以及/n所述温度补偿组件包括至少一个加热单元。/n

【技术特征摘要】
1.一种晶体制备装置,其特征在于,包括:
生长腔体,用于放置籽晶和源材料;
加热组件,用于加热所述生长腔体;以及
温度补偿组件,用于在晶体生长过程中提供温度补偿,其中,
所述温度补偿组件位于所述生长腔体上表面和/或下表面,以及
所述温度补偿组件包括至少一个加热单元。


2.根据权利要求1所述的晶体制备装置,其特征在于,所述至少一个加热单元包括至少一个高阻石墨单元。


3.根据权利要求1所述的晶体制备装置,其特征在于,所述温度补偿组件还包括固定框架,所述固定框架包括至少一个固定单元,所述至少一个固定单元用于放置所述至少一个加热单元。


4.根据权利要求3所述的晶体制备装置,其特征在于,所述固定框架为氧化锆陶瓷板。


5.根据权利要求1所述的晶体制备装置,其特征在于,所述温度补偿组件还包括至少一个第一电极、至少一个第二电极以及电极固定板,其中:
所述电极固定板包括至少一个第一孔洞以及至少一个第二孔洞;
所述至少一个第一电极穿过所述至少一个第一孔洞,固定在所述至少一个加热单元上;以及
所述至少一个第二电极穿过所述至少一个第二孔洞,固定在所述生长腔体上表面或下表面。

【专利技术属性】
技术研发人员:王宇杨田梁振兴
申请(专利权)人:眉山博雅新材料有限公司
类型:发明
国别省市:四川;51

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1