液晶面板缺陷复判机构及方法技术

本发明专利技术提供了一种液晶面板缺陷复判机构及方法，该方法主要包括以下步骤：Z轴直线模组带动复判相机沿着Z方向移动，并采用测距传感器测量复判相机光学镜头与液晶面板上表面的垂直距离，当复判相机沿着Z方向移动到光学镜头与液晶面板上表面的距离等于光学镜头工作距离时，启动复判相机，复判相机根据测距传感器监控的实时距离，以△为步进单位进行拍照并依次计数A，以缺陷最清晰的图像的行进行程△*A为判断依据，与各层级进行对比，判断缺陷的所处的层级。本发明专利技术能够准确计算出缺陷所在深度位置，有利于判断缺陷从哪些工序产生的，进一步改进工序，提高良品率。

Mechanism and method of LCD panel defect re judgment

【技术实现步骤摘要】
液晶面板缺陷复判机构及方法
本专利技术涉及AOI复判设备
，具体而言，涉及一种液晶面板缺陷复判机构及方法。
技术介绍
AOI(AutomaticOpticalInspection，自动光学检测)是液晶行业广泛使用的测量手段，而其中AOI设备是液晶行业广泛使用的检测设备。AOI设备可用于检测液晶面板的表面的图型是否符合规定、是否存在由破坏性物质造成的缺陷以及判定破坏性物质等造成的缺陷的准确位置，如直接采用AOI设备对液晶面板拍照得到较为清晰的图像，并通过对该图像的分析来对基板是否存在缺陷进行检测，检测到液晶面板存在缺陷后需要进行复判，对缺陷类型以及缺陷存在的位置进行区别划分，从而判断出液晶面板在生产过程中，是哪些工序造成缺陷的产生。因此如何确定液晶面板内部缺陷位置是亟待解决的问题，需要专利技术一种能够区分缺陷所处位置的复判方法。
技术实现思路
为解决上述缺陷，本专利技术提供了一种液晶面板缺陷复判机构及方法，该方法能够全自动化且准确计算出缺陷所在深度位置，有利于判断缺陷从哪些工序产生的，进一步改进工序，提高良品率。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种液晶面板缺陷复判方法，其特征在于，其至少包括以下步骤：/nS3：Z轴直线模组带动复判相机匀速下降，并采用测距传感器测量复判相机光学镜头与液晶面板上表面的垂直距离，当光学镜头与液晶面板上表面的垂直距离等于光学镜头工作距离时，启动复判相机，复判相机根据测距传感器监控的实时距离，以△为步进单位进行拍照并依次计数A，以缺陷最清晰的图像的行进行程△*A为判断依据，与各层级进行对比，判断缺陷的所处的层级。/n

【技术特征摘要】
1.一种液晶面板缺陷复判方法，其特征在于，其至少包括以下步骤：
S3：Z轴直线模组带动复判相机匀速下降，并采用测距传感器测量复判相机光学镜头与液晶面板上表面的垂直距离，当光学镜头与液晶面板上表面的垂直距离等于光学镜头工作距离时，启动复判相机，复判相机根据测距传感器监控的实时距离，以△为步进单位进行拍照并依次计数A，以缺陷最清晰的图像的行进行程△*A为判断依据，与各层级进行对比，判断缺陷的所处的层级。


2.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷复判方法，其特征在于，在步骤S3中，缺陷最清晰的图像采用自Brenner梯度法、Tenegrad梯度法、laplace梯度法、方差法或能量梯度法对多张图像进行计算、对比获得。


3.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷复判方法，其特征在于，所述液晶面板缺陷复判方法在步骤S3之前包括以下步骤：
S1：启动上料机构，将已初次检测到缺陷的液晶面板移动到CCD相机正下方，拍照、定位获取缺陷的坐标原点、偏移量和物理坐标；
S2：根据步骤S1获取的缺陷的坐标原点、偏移量和物理坐标，上料机构带动液晶面板沿着X方向移动，同时Y轴滑台带动复判相机在Y方向移动，保证缺陷处于复判相机的视野范围内。


4.根据权利要求1所述的液晶面板缺陷复判方法，其特征在于，所述液晶面板缺陷复判方法在步骤S3之后还包括步骤S4：选取缺陷最清晰的图像进行缺陷特征提取，判断缺陷等级。


5.根据权利要求4所述的液晶面板缺陷复判方法，其特征在于，步骤S4包括以下过程：
1)滤波除去噪声；
2)对图像进行傅里叶变换，由图像空间转换到频域空间；
3)寻找频域空间高能量区域，并将高能量区域置零；
4)进行反傅里叶变换，提取缺陷结构图；
5)对缺陷结构图设定高、低阈值进行图像分割得到二值化图像；
6)对二值化图像通过形态学变换得到清晰的缺陷图；
7)对清晰的缺陷图进行缺陷精...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵斌，殷嘉鸿，杨洋，
申请(专利权)人：合肥市商巨智能装备有限公司，深圳商巨智能设备股份有限公司，深圳市商巨视觉技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34