内花键同轴度检验装置及其检验芯轴制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种内花键同轴度检验装置及其检验芯轴。检验芯轴包括呈长条形的轴本体及检验外花键。轴本体包括第一端及与第一端相对的第二端。检验外花键包括多个键齿。多个键齿沿轴本体的周向间隔设置于轴本体上。每个键齿的齿厚沿第一端指向第二端的方向逐渐增大。由于检验外花键中的每个键齿的齿厚沿第一端指向第二端的方向逐渐增大，所以在内花键同轴度检验时，一种规格的检验芯轴，可以同时针对不同齿厚的多种轴类内花键工件进行检验。因此，上述检验芯轴的适用性较高，进而使得内花键同轴度检验装置的适用性也较高。

Testing device and mandrel for coaxiality of internal spline

【技术实现步骤摘要】
内花键同轴度检验装置及其检验芯轴
本技术涉及零件检测
，特别是涉及一种内花键同轴度检验装置及其检验芯轴。
技术介绍
随着制造行业的不断发展，越来越来的产品上都会使用内花键工件，例如，兴能源减速箱内的一级输入轴，就是采用内花键与电机轴传动连接。在轴类内花键工件的内花键加工过程中，很有可能会出现由于内花键变形而发生齿向偏差的问题，故内花键与轴类内花键工件两端外圆的同轴度误差则是一项重要的适量控制指标。而对内花键同轴度的检验，通常都是将检验芯轴穿设于轴类内花键工件内进行检验的方式。目前，采用的同轴度检验方案，通常都是一种尺寸规格的轴类内花键工件对应一个检验芯轴。但是，这种一一对应的同轴度检验方案，在针对齿厚不同的内花键进行同轴度检验时需要更换不同的检验芯轴。因此，传统的内花键检验芯轴的适用性不高。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统的内花键芯轴适用性不高的问题，提供一种适用性较高的内花键同轴度检验装置及其检验芯轴。一种检验芯轴，包括：呈长条形的轴本体，包括第一端及与所述第一端相对的第二端；及检验外花键，包括多个键齿，且多个所述键齿沿所述轴本体的周向间隔设置于所述轴本体上，且每个所述键齿的齿厚沿所述第一端指向所述第二端的方向逐渐增大。在其中一个实施例中，所述轴本体为圆柱轴。在其中一个实施例中，所述第一端或所述第二端的表面开设有贯穿所述轴本体的挂物孔。在其中一个实施例中，所述检验外花键靠近所述第一端的一端沿所述轴本体的周向开设有第一标记槽，所述检验外花键靠近所述第二端的一端沿所述轴本体的周向开设有第二标记槽，且所述第一标记槽及所述第二标记槽在所述轴本体的轴向上间隔设置。在其中一个实施例中，所述第一端的外壁上设置有所述检验芯轴的参数标识。在其中一个实施例中，所述第一端的轴端面及所述第二端的轴端面均开设有顶持槽，两个所述顶持槽与所述轴本体均同轴设置。在其中一个实施例中，所述键齿的锥度比为500:1至2000:1。在其中一个实施例中，所述键齿的锥度比为1000:1。一种内花键同轴度检验装置，包括：起支撑作用的支架，包括具有测量工位的底座及安装于所述底座上的支撑架，所述支撑架与所述测量工位相对的位置设置有安装部；安装于所述测量工位的夹紧组件，包括第一顶尖及第二顶尖，且所述第一顶尖及所述第二顶尖相对且同轴设置，所述第一顶尖沿所述第一顶尖与所述第二顶尖的连线方向可滑动；检验芯轴，两端分别与所述第一顶尖及所述第二顶尖抵接；及测量件，设置于所述安装部上，且所述测量件包括在所述安装部及所述测量工位的连线方向上可伸缩的测头；其中，所述支撑架沿所述第一顶尖及所述第二顶尖的连线方向可滑动。在其中一个实施例中，所述测量件为百分表。上述内花键同轴度检验装置及其检验芯轴，在对轴类内花键工件中的内花键进行同轴度检验之前，需要先将检验芯轴穿设于轴类内花键工件内，以此来判断内花键是否满足设计要求。由于检验外花键中的每个键齿的齿厚沿第一端指向第二端的方向逐渐增大，所以在内花键同轴度检验时，一种规格的检验芯轴，可以同时针对不同齿厚的多种轴类内花键工件进行检验。因此，上述检验芯轴的适用性较高，进而使得内花键同轴度检验装置的适用性也较高。附图说明图1为本技术较佳实施例中内花键同轴度检验装置的结构示意图；图2为图1所示内花键同轴度检验装置中的检验芯轴的结构示意图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳的实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参阅图1，本技术提供了一种内花键同轴度检验装置10及其检验芯轴200。其中，内花键同轴度检验装置10主要用于针对轴类内花键工件20中的内花键同轴度的检验。内花键同轴度检验装置10包括支架(图未示)、夹紧组件100、检验芯轴200及测量件300。支架包括具有测量工位的底座及安装于底座上的支撑架。支撑架与测量工位相对的位置设置有安装部。其中，测量工位为底座上用于测量轴类内花键工件20中内花键同轴度的位置，是工作区域。支架主要起支撑作用，通常由不锈钢、合金钢、铸铁等强度较大的材料制成，以使支架具有较大的承载力。夹紧组件100安装于测量工位。夹紧组件100包括第一顶尖110及第二顶尖120。第一顶尖110及第二顶尖120相对且同轴设置。第一顶尖110沿第一顶尖110及第二顶尖120的连线方向可滑动。由此，通过调节第一顶尖110在测量工位上的位置，可实现第一顶尖110及第二顶尖120之间的距离。检验芯轴200的两端分别与第一顶尖110及第二顶尖120抵接。由此，第一顶尖110及第二顶尖120的连线方向为检验芯轴200的轴向。当需要进行内花键同轴度检验时，需要先将轴类内花键工件20套设于检验芯轴200上，并使第一顶尖110沿朝向第二顶尖120的方向移动，直至第一顶尖120余轴类内花键工件的端部地接，即可实现检验芯轴200及轴类内花键工件20在内花键同轴度检验装置10上的装夹工作。测量件300设置于安装部上。测量件300包括在安装部及测量工位的连线方向上可伸缩的测头310。由此，当内花键同轴度检验装置10位于水平面时，测头310沿竖直方向可伸缩。在实际使用过程中，测头310沿安装部指向测量工位的方向伸出至与轴类内花键工件20的外表面抵接，以测量轴类内花键工件20的圆周跳动值。测量件300可以为百分表、千分表等。在本实施例中，测量件300为百分表。百分表作为一种利用紧密齿条齿轮机构支撑的表式通用的长度测量工具，具有布局较为简单、外廓尺寸较小、重量轻、操作方便等特性，故将测量件300设置为百分表，使得测量件300也具有外廓尺寸较小、重量轻、操作方便等优点。支撑架沿第一顶尖110及第二顶尖120的连线方向可滑动。由此，安装于安装部上的测量件300也沿第一顶尖110及第二顶尖120的连线方向可滑动。而在实际使用过程中，通过移动测量件300，可以测量轴类内花键工件20上不同位置的圆周跳动值，并计算这些圆周跳动值之间的差值来得到轴类内花本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检验芯轴，其特征在于，包括：/n呈长条形的轴本体，包括第一端及与所述第一端相对的第二端；及/n检验外花键，包括多个键齿，且多个所述键齿沿所述轴本体的周向间隔设置于所述轴本体上，且每个所述键齿的齿厚沿所述第一端指向所述第二端的方向逐渐增大。/n

【技术特征摘要】
1.一种检验芯轴，其特征在于，包括：
呈长条形的轴本体，包括第一端及与所述第一端相对的第二端；及
检验外花键，包括多个键齿，且多个所述键齿沿所述轴本体的周向间隔设置于所述轴本体上，且每个所述键齿的齿厚沿所述第一端指向所述第二端的方向逐渐增大。


2.根据权利要求1所述的检验芯轴，其特征在于，所述轴本体为圆柱轴。


3.根据权利要求1所述的检验芯轴，其特征在于，所述第一端或所述第二端的表面开设有贯穿所述轴本体的挂物孔。


4.根据权利要求1所述的检验芯轴，其特征在于，所述检验外花键靠近所述第一端的一端沿所述轴本体的周向开设有第一标记槽，所述检验外花键靠近所述第二端的一端沿所述轴本体的周向开设有第二标记槽，且所述第一标记槽及所述第二标记槽在所述轴本体的轴向上间隔设置。


5.根据权利要求4所述的检验芯轴，其特征在于，所述第一端的外壁上设置有所述检验芯轴的参数标识。


6.根据权利要求1所述的检验芯轴，其特征在于，所述第一端的轴端面及所述第二端的轴端面均开设有顶持槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴健洪，易苏军，
申请(专利权)人：株洲齿轮有限责任公司，
类型：新型
国别省市：湖南;43