【技术实现步骤摘要】
一种MCU用户程序代码的保护结构及其熔断测试方法
本专利技术电子通讯
,具体涉及一种MCU用户程序代码的保护结构及其熔断测试方法。
技术介绍
MCU(微控制器)的用户程序代码存储在MCU的片上闪存中,而常见的用户程序的读取方法是通过调试接口访问MCU的片上闪存,从而把用户程序复制出来,而用户程序往往是系统的核心价值所在,通常不希望被第三方读取,因此需要一种MCU用户程序代码的保护结构,防止用户程序被复制。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述不足问题,提供一种MCU用户程序代码的保护结构及其熔断测试方法。本专利技术为实现上述目的所采用的技术方案是:一种MCU用户程序代码的保护结构,MCU的调试模块通过中央处理单元与片上闪存连通,所述调试模块与调试接口连通,所述调试模块与调试接口之间连有电子熔丝,所述电子熔丝连有电子熔丝控制器。所述电子熔丝控制器设置有地址寄存器、使能熔断寄存器,所述地址寄存器用于写入需要熔断的电子熔丝的地址,所述使能熔断寄存器用于熔断电子熔丝。所述调试接口对应地址寄存器偏移地址比特1,当使能熔断寄存器写入比特1,电子熔丝熔断。一种MCU用户程序代码的保护结构的熔断测试方法,包括以下步骤:S1、MCU正常上电,通过MCU的程序配置并打开电子熔丝控制器;S2、将需要熔断的电子熔丝的地址写入电子熔丝控制器中的地址寄存器中,调试接口对应地址寄存器偏移地址比特1;S3、电子熔丝控制器的使能熔断寄存器写入比特1,从而将与调试接 ...
【技术保护点】
1.一种MCU用户程序代码的保护结构, MCU的调试模块通过中央处理单元与片上闪存连通,所述调试模块与调试接口连通,其特征在于:所述调试模块与调试接口之间连有电子熔丝,所述电子熔丝连有电子熔丝控制器。/n
【技术特征摘要】
1.一种MCU用户程序代码的保护结构,MCU的调试模块通过中央处理单元与片上闪存连通,所述调试模块与调试接口连通,其特征在于:所述调试模块与调试接口之间连有电子熔丝,所述电子熔丝连有电子熔丝控制器。
2.如权利要求1所述的一种MCU用户程序代码的保护结构,其特征在于:所述电子熔丝控制器设置有地址寄存器、使能熔断寄存器,所述地址寄存器用于写入需要熔断的电子熔丝的地址,所述使能熔断寄存器用于熔断电子熔丝。
3.如权利要求2所述的一种MCU用户程序代码的保护结构,其特征在于:所述调试接口对应地址寄存器偏移地址比特1,当使能熔断寄存器写入比特1,电子...
【专利技术属性】
技术研发人员:李京,汪成喜,胡乃全,朱建国,徐栋麟,
申请(专利权)人:上海亮牛半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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