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本发明公开了一种MCU用户程序代码的保护结构及其熔断测试方法，MCU的调试模块通过中央处理单元与片上闪存连通，所述调试模块与调试接口连通，所述调试模块与调试接口之间连有电子熔丝，所述电子熔丝连有电子熔丝控制器。本发明的特点是：通过熔断电子熔...
该专利属于上海亮牛半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海亮牛半导体科技有限公司授权不得商用。

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