复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法技术

本发明专利技术公开了一种复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法，芯片逻辑在上电或外部管脚作用下产生内部延迟复位信号，在延迟窗口内，监测逻辑处于工作状态，其他逻辑处于复位状态，当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY相匹配，则测试模式被锁定，延迟复位撤离后继续保持测试模式，当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY不匹配，则监测逻辑失效，延迟复位撤离后全部逻辑进入正常逻辑模式。本发明专利技术的特点是：复用现有逻辑管脚，通过DEBUG管脚进入测试模式，减少芯片管脚封装，提高管脚利用率，没有使用敏感信号复位管脚作为时钟和数据输入，有效避免影响内部正常逻辑，而且通过检测时间窗口，大幅度降低误触发进入测试模式的概率，保证可靠性。

A method of reusing existing logic pins into test mode

【技术实现步骤摘要】
复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法
本专利技术涉及电子
，具体涉及一种复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法。
技术介绍
现有芯片进入测试模式主要三种模式：1、新增单独的管脚，仅用于测试模式，利用率低；2、多管脚组合使用进入测试模式，但用户场景被限制；3、采用Reset管脚，但其比较敏感，容易影响其他逻辑。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述不足问题，提供一种复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法。本专利技术为实现上述目的所采用的技术方案是：复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法，芯片逻辑在上电或外部管脚作用下产生内部延迟复位信号，在延迟窗口内，监测逻辑处于工作状态，其他逻辑处于复位状态，当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY相匹配，则测试模式被锁定，延迟复位撤离后继续保持测试模式，当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY不匹配，则监测逻辑失效，延迟复位撤离后全部逻辑进入正常逻辑模式。所述测试码流KEY为预先定义的32位常数。在测试模式下，当监测逻辑监测到退出测试模式码流时，退出监测模本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法，其特征在于：芯片逻辑在上电或外部管脚作用下产生内部延迟复位信号，在延迟窗口内，监测逻辑处于工作状态，其他逻辑处于复位状态，当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY相匹配，则测试模式被锁定，延迟复位撤离后继续保持测试模式，当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY不匹配，则监测逻辑失效，延迟复位撤离后全部逻辑进入正常逻辑模式。/n

【技术特征摘要】
1.复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法，其特征在于：芯片逻辑在上电或外部管脚作用下产生内部延迟复位信号，在延迟窗口内，监测逻辑处于工作状态，其他逻辑处于复位状态，当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY相匹配，则测试模式被锁定，延迟复位撤离后继续保持测试模式，当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY不匹配，则监测逻辑失效...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢志斌，汪成喜，周援朝，刁瑞强，徐栋麟，
申请(专利权)人：上海亮牛半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31