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本发明公开了一种复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法,芯片逻辑在上电或外部管脚作用下产生内部延迟复位信号,在延迟窗口内,监测逻辑处于工作状态,其他逻辑处于复位状态,当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY相匹配,则测试模式被锁定,延迟复...该专利属于上海亮牛半导体科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海亮牛半导体科技有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种复用现有逻辑管脚进入测试模式的方法,芯片逻辑在上电或外部管脚作用下产生内部延迟复位信号,在延迟窗口内,监测逻辑处于工作状态,其他逻辑处于复位状态,当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY相匹配,则测试模式被锁定,延迟复...