一种线束测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提出了一种线束测试装置，包括：两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。本方案提升了测试的效率，操作方便简单，成本低，利于各种不同线束的测试需要。通过多路开关控制，可以方便选择当前的测试线束路数，以及出现异常时通过依次导通多路开关，方便自动检测异常的线束通道。

A harness test device

【技术实现步骤摘要】
一种线束测试装置
本技术涉及线束测试领域，特别涉及一种线束测试装置。
技术介绍
目前，随着技术的不断发展，线束的应用越来越多，而线束也越来越复杂，一般针对线束需要进行测试，具体的用以测试线束两端对应的引脚是否匹配，引脚之间的线路是否连接正常等，目前大部分的线束测试是采用万用表来进行的，但这种方式效率低下，需要一个一个的针对引脚的来进行测量，但目前线束需要测量的数量多，而且可能一个线束的引脚触点本来也很多，例如有10对，20对等，这种方式效率过于低下；另一种方式则是采用专门的仪器来进行检测，但这种方式需要的仪器很昂贵，过高的成本也限制了其使用的范围。由此，目前需要一种可以提升效率，且成本不高的测试方案。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本技术提出了一种线束测试装置，通过将待测线束中的各连接线首尾串联为一条线进行检测的方式，提升了测试的效率，且操作方便简单，成本很低，利于各种不同线束的测试需要。具体的，本技术提出了以下具体的实施例：本技术实施例提出了一种线束测试装置，包括：两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路所述连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。在一个具体的实施例中，所述多路开关包括一个多路模拟开关或包括多个多路模拟开关。在一个具体的实施例中，所述多路开关为电控开关。在一个具体的实施例中，还包括：MCU；其中，所述MCU连接所述AD采样点，以获取所述AD采样点的数值，所述MCU还连接所述多路开关，以对所述多路开关连接的连接口进行控制。在一个具体的实施例中，AD采样点通过采样电阻串联在测试通路中。在一个具体的实施例中，还包括：接地电阻；所述多路开关的一端连接所述连接接口的连接口，另一端通过所述接地电阻实现接地。在一个具体的实施例中，还包括：连接所述AD采样点的电压计。在一个具体的实施例中，各所述级联电阻的电阻值一致。在一个具体的实施例中，所述采样电阻与各所述级联电阻的电阻值一致。在一个具体的实施例中，所述AD采样点设置在串联状态下的所述待测线束的通路中的首端或尾端。以此，本技术实施例提出了一种线束测试装置，包括：两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路所述连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。本方案通过将待测线束中的各连接线首尾串联为一条线进行检测的方式，提升了测试的效率，且操作方便简单，成本很低，利于各种不同线束的测试需要。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本技术实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图；图2为本技术实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图；图3为本技术实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图；图4为本技术实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图；图5为本技术实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图；图6为本技术实施例提出的一种线束测试装置的结构示意图。图例说明：1-连接接口；11-级联电阻；12-连接口；2-多路开关；3-AD采样点；4-采样电阻。具体实施方式在下文中，将更全面地描述本公开的各种实施例。本公开可具有各种实施例，并且可在其中做出调整和改变。然而，应理解：不存在将本公开的各种实施例限于在此公开的特定实施例的意图，而是应将本公开理解为涵盖落入本公开的各种实施例的精神和范围内的所有调整、等同物和/或可选方案。在本公开的各种实施例中使用的术语仅用于描述特定实施例的目的并且并非意在限制本公开的各种实施例。如在此所使用，单数形式意在也包括复数形式，除非上下文清楚地另有指示。除非另有限定，否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关
中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义，除非在本公开的各种实施例中被清楚地限定。实施例本技术实施例公开了一种线束测试装置，如图1-图6所示，包括：两端分别设置有多路连接口12的连接接口1，两端多路所述连接口12之间通过级联电阻11实现连接；所述连接接口1用于通过两端的连接口12连接待测线束，以通过各所述级联电阻11将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关2，所述多路开关2用于连接所述连接接口12，可以通过控制，选择任意连接口12开关闭合以使所连接的连接口12接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点3。如图1所示，以线束有5根连接线为例来进行说明,分别为L1、L2、L3、L4、L5为例来进行说明，连接件1与该线束的连接线对应的连接口12可以为1A、1B、2A、2B、3A、3B、4A、4B、5A、5B(其他例如有更多或更少连接口12的连接接口1的连接口12设置与此类似，在此不再进行赘述)，对待测线束的各连接线，分别是1A、1B连接连接线L1；2A、2B连接连接线L2；3A、3B连接连接线L3；4A、4B连接连接线L4；5A、5B连接连接线L5。具体的后续电路包括：多路开关所对应的电路，还可以是其他根据需要附加的电路。而相邻两端的连接口12之间还连接有级联电阻11，具体的，仍以图1为例来进行说明，1A与2B之间通过电阻R1实现连接；2A与3B之间通过电阻R2实现连接；3A与4B之间通过电阻R3实现连接；4A与5B之间通过电阻R4实现连接；以此，将5条连接线(L1、L2、L3、L4、L5)通过多个级联电阻串联为一条总的连接线。此外，在一个具体的实施例中，如图1所示，串联状态下的所述待测线束的首端引脚触点所连接的连接口12上设置的AD采样点3，以及一端连接所述AD采样点3的采样电阻4，所述采样电阻4的另一端连接外接电源，具体的如图1所示，在连接口12(1B)上设置AD采样点3，以及连接采样电阻4(如图1中的R0)4本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种线束测试装置，其特征在于，包括：两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路所述连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。/n

【技术特征摘要】
1.一种线束测试装置，其特征在于，包括：两端分别设置有多路连接口的连接接口，两端多路所述连接口之间通过级联电阻实现连接；所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束，以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起；还包括多路开关，所述多路开关用于连接所述连接接口，可以通过控制，选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路；还包括：串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。


2.如权利要求1所述的一种线束测试装置，其特征在于，所述多路开关包括一个多路模拟开关或包括多个多路模拟开关。


3.如权利要求1所述的一种线束测试装置，其特征在于，所述多路开关为电控开关。


4.如权利要求1或3所述的一种线束测试装置，其特征在于，还包括：MCU；其中，所述MCU连接所述AD采样点，以获取所述AD采样点的数值，所述MCU还连接所...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱琨，吕丁勇，
申请(专利权)人：展鹏科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32