【技术实现步骤摘要】
一种线束测试装置
本技术涉及线束测试领域,特别涉及一种线束测试装置。
技术介绍
目前,随着技术的不断发展,线束的应用越来越多,而线束也越来越复杂,一般针对线束需要进行测试,具体的用以测试线束两端对应的引脚是否匹配,引脚之间的线路是否连接正常等,目前大部分的线束测试是采用万用表来进行的,但这种方式效率低下,需要一个一个的针对引脚的来进行测量,但目前线束需要测量的数量多,而且可能一个线束的引脚触点本来也很多,例如有10对,20对等,这种方式效率过于低下;另一种方式则是采用专门的仪器来进行检测,但这种方式需要的仪器很昂贵,过高的成本也限制了其使用的范围。由此,目前需要一种可以提升效率,且成本不高的测试方案。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷,本技术提出了一种线束测试装置,通过将待测线束中的各连接线首尾串联为一条线进行检测的方式,提升了测试的效率,且操作方便简单,成本很低,利于各种不同线束的测试需要。具体的,本技术提出了以下具体的实施例:本技术实施例提出了一种线束测试装置,包括:两端 ...
【技术保护点】
1.一种线束测试装置,其特征在于,包括:两端分别设置有多路连接口的连接接口,两端多路所述连接口之间通过级联电阻实现连接;所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束,以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起;还包括多路开关,所述多路开关用于连接所述连接接口,可以通过控制,选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路;还包括:串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。/n
【技术特征摘要】
1.一种线束测试装置,其特征在于,包括:两端分别设置有多路连接口的连接接口,两端多路所述连接口之间通过级联电阻实现连接;所述连接接口用于通过两端的连接口连接待测线束,以通过各所述级联电阻将所述待测线束中的所有连接线首尾串联在一起;还包括多路开关,所述多路开关用于连接所述连接接口,可以通过控制,选择任意连接口开关闭合以使所连接的连接口接入后续电路;还包括:串联状态下的所述待测线束的通路中设置有AD采样点。
2.如权利要求1所述的一种线束测试装置,其特征在于,所述多路开关包括一个多路模拟开关或包括多个多路模拟开关。
3.如权利要求1所述的一种线束测试装置,其特征在于,所述多路开关为电控开关。
4.如权利要求1或3所述的一种线束测试装置,其特征在于,还包括:MCU;其中,所述MCU连接所述AD采样点,以获取所述AD采样点的数值,所述MCU还连接所...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱琨,吕丁勇,
申请(专利权)人:展鹏科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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