缺陷检测装置及硅片分选设备制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种缺陷检测装置及硅片分选设备，该缺陷检测装置包括：检测单元，设置在输送装置的机架上，且位于输送装置的指定检测位置上方，用于对经过指定检测位置的电池片或硅片的隐裂进行检测；及光源，设置在输送装置的机架上，用于向指定检测位置提供光照。本实用新型专利技术提供的缺陷检测装置，其可以在电池片或硅片的传输过程中自动检测电池片或硅片的缺陷，而且检测精度和可靠性较高。

Defect detection device and wafer sorting equipment

【技术实现步骤摘要】
缺陷检测装置及硅片分选设备
本技术涉及光伏
，特别涉及一种缺陷检测装置及硅片分选设备。
技术介绍
石油、天然气、煤炭等不再生能源随着人类的使用变得越来越少。同时全球能源需求快速增长，寻找新能源改善现有能源结构变得非常紧迫。太阳能是解决全球能源问题最有前途的替代能源，是最具开发和应用前景的可再生能源之一。目前，晶硅太阳电池在制造过程中通常采用丝网印刷、高温烧结、互联、层压封装等生产工艺，工艺流程较长，且在工艺过程中晶硅电池片或硅片往往会因机械应力、热应力等的因素引入一些缺陷，例如隐裂。隐裂直接影响光伏组件的性能，也是硅片分选检测中需要重点检测的缺陷之一。但是，目前普遍是将电池片或硅片放置至独立的检测设备上逐一检测，这种检测方式效率低，并且在放置过程中可能会导致二次损伤，导致检测精度和可靠性的降低。
技术实现思路
本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种缺陷检测装置及硅片分选设备，其可以在电池片或硅片的传输过程中自动检测电池片或硅片的缺陷，而且检测精度和可靠性较高。为实现上述目的，本技本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置包括：/n检测单元，设置在输送装置的机架上，且位于所述输送装置的指定检测位置上方，用于对经过所述指定检测位置的电池片或硅片的隐裂进行检测；及/n光源，设置在所述输送装置的机架上，用于向所述指定检测位置提供光照。/n

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置包括：
检测单元，设置在输送装置的机架上，且位于所述输送装置的指定检测位置上方，用于对经过所述指定检测位置的电池片或硅片的隐裂进行检测；及
光源，设置在所述输送装置的机架上，用于向所述指定检测位置提供光照。


2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述指定检测位置为所述输送装置的相邻两段传送带之间的间隔位置；
所述缺陷检测装置还包括用于将来自所述光源的光线反射至所述电池片或硅片的反光板，所述反光板设置在所述间隔位置处，且低于所述输送装置的输送平面。


3.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括挡光板，所述挡光板用于阻挡外界光线照射至所述指定检测位置，所述挡光板竖直设置在所述光源与所述输送装置的输送平面之间。


4.根据权利要求3所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括水平调节机构，用于调节所述挡光板的水平位置。


5.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括角度调节机构，用于调节所述光源的光照角度，所述角度调节机构包括：
第一支架，与所述输送装置的机架连接；
转轴，水平设置，且可旋转的设置在所述第一支架上，所述光源与所述转轴连接；
调节板，设置在所述转轴的外周壁一侧，且包括相对于所述转轴的外周壁凸出的凸出部分；
调节螺钉，在所述第一支架上设置有螺纹孔，所述调节螺钉与所述螺纹孔相配合，且所述调节螺钉的一端抵触在所述调节板的凸...

【专利技术属性】
技术研发人员：李文，李昶，徐飞，
申请(专利权)人：无锡奥特维科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32