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本实用新型提供一种缺陷检测装置及硅片分选设备，该缺陷检测装置包括：检测单元，设置在输送装置的机架上，且位于输送装置的指定检测位置上方，用于对经过指定检测位置的电池片或硅片的隐裂进行检测；及光源，设置在输送装置的机架上，用于向指定检测位置提供...
该专利属于无锡奥特维科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡奥特维科技股份有限公司授权不得商用。

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