二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种二维闪烁测量装置，具备：二维成像元件，具有读取摄像区域的一部分的部分读取功能；设置部，将多个与包括至少两个测量区域的部分区域对应的一部分设置于摄像区域；控制部，进行通过将所设置的一部分的数量作为摄像次数，使二维成像元件使用部分读取功能，多次摄像测量对象物，获取与多个一部分分别对应的多个部分区域的测光量；以及计算部，针对多个部分区域中的每一个，执行基于所获取的部分区域的测光量，计算部分区域所包含的至少两个测量区域的闪烁量这一处理。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】二维闪烁测量装置、二维闪烁测量系统、二维闪烁测量方法以及二维闪烁测量程序
本专利技术例如涉及一种测量显示屏的闪烁量的技术。
技术介绍
为了评价显示屏的闪烁不均匀性，而测量设置在显示屏上的多个测量区域(测量点)各自的闪烁量。点型闪烁测量装置通过一次测量来测量一个测量区域的闪烁量。为了使用点型闪烁测量装置来测量设置在显示屏上的多个测量区域各自的闪烁量，考虑如下方法(1)或(2)：(1)测量者准备多台闪烁测量装置，通过一台闪烁测量装置来测量一个测量区域的闪烁量。(2)测量者准备一台闪烁测量装置，在变更测量区域的同时通过一台闪烁测量装置来反复测量闪烁量。根据采用二维成像元件的闪烁测量装置(例如专利文献1)，则无需使用这些方法。二维成像元件的帧率可被视为采样频率。因此，在二维成像元件的情况下，帧率和采样频率，仅单位不同，值相同。当帧率例如为128fps时，采样频率为128Hz。虽然为了高精度地测量闪烁量，需要增加采样频率，但是，通常的二维成像元件(即不是用于高速照相机的二维成像元件)的帧率(采样频率)较低(例如，60fps、128本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种二维闪烁测量装置，其测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量，具备：/n二维成像元件，具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能；/n设置部，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；/n控制部，通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，多次摄像所述测量对象物，获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量；以及/n计算部，针对多个所述部分区域中的每一个，执行基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量这一处理。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171005 JP 2017-195104;20171013 JP 2017-1989641.一种二维闪烁测量装置，其测量设置在测量对象物上的多个测量区域各自的闪烁量，具备：
二维成像元件，具有将摄像区域的一部分作为读取对象的部分读取功能；
设置部，将多个与包括至少两个所述测量区域的部分区域对应的所述一部分设置于所述摄像区域；
控制部，通过将所设置的所述一部分的数量作为摄像次数，使所述二维成像元件使用所述部分读取功能，多次摄像所述测量对象物，获取与多个所述一部分分别对应的多个所述部分区域的测光量；以及
计算部，针对多个所述部分区域中的每一个，执行基于所获取的所述部分区域的测光量，计算所述部分区域所包含的至少两个所述测量区域的闪烁量这一处理。


2.如权利要求1所述的二维闪烁测量装置，
所述设置部将能够再现具有所述计算部计算所述闪烁量所需的关注频率的信号的帧率设为所述部分读取的帧率，将所述摄像区域的尺寸除以通过所设置的所述部分读取的帧率确定的所述一部分的尺寸而得的值设为所述一部分的数量。


3.如权利要求2所述的二维闪烁测量装置，
所述计算部在对表示所获取的所述部分区域的测光量的信号进行快速傅立叶变换生成功率谱时，将能整除表示所获取的所述部分区域的测光量的信号中所包含的频率分量的各个频率中的所述关注频率的整数设为所述功率谱的频率间距。


4.如权利要求2或3所述的二维闪烁测量装置，
所述设置部将所述测量区域设置为与所设置的所述部分读取的帧率具有正相关关系的尺寸。


5.如权利要求2或3所述的二维闪烁测量装置，
所述设置部通过在所设置的所述部分读取的帧率下，所述二维成像元件摄像所述测量对象物，测量表示从所述二维成像元件输出的测光量的信号的强度，将所述测量区域设置为与所测量的强度具有负相关关系的尺寸。


6.如权利要求1～5中任意一项所述的二维闪烁测量装置，
所述二维成像元件具有全局快门功能，
所述控制部进行使所述二维成像元件使...

【专利技术属性】
技术研发人员：増田敏，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP