【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】二维闪烁测定装置及二维闪烁测定方法
本专利技术涉及例如测定显示器屏幕的闪烁量的技术。
技术介绍
以往，根据在显示器屏幕内设定的一个测定区域(测定点)测定出的闪烁量来评价显示器屏幕的闪烁量。但是，近年来，显示器屏幕逐渐大型化。在大型的显示器屏幕的情况下，仅根据一个测定区域的闪烁量无法评价显示器屏幕的闪烁量，需要设置多个测定区域。因此，提出了对于显示器屏幕内设定的多个测定区域的每一个测定区域测定闪烁量的技术。作为这样的技术，例如专利文献1中公开了一种闪烁测定方法，用于测定显示装置中显示的图像的闪烁，其中，实施图像拍摄控制工序和闪烁波形运算工序，在图像拍摄控制工序中，获取利用拍摄装置以比测定对象的闪烁的周期长规定的追加时间的时间间隔依次拍摄所述图像而生成的拍摄信号，在闪烁波形运算工序中，将在该图像拍摄控制工序中获得的拍摄信号中的光的强度作为每个所述追加时间的数据来运算所述闪烁的波形，并且，所述闪烁波形运算工序中分别运算将所述拍摄信号中的图像分割成多个区域后的每个分割区域的闪烁的波形。在使用低采样频率(例如128Hz...
【技术保护点】
1.一种二维闪烁测定装置，其特征在于，具备：/n测光部，其具有以第一采样频率对二维区域进行测光的第一功能、和以高于所述第一采样频率的第二采样频率对比所述二维区域小的区域进行测光的第二功能；/n第一计算部，其根据所述测光部以所述第一采样频率对测定对象物进行测光而得到的所述测定对象物的测光量，算出所述测定对象物中设定的多个测定区域各自的闪烁量；/n第二计算部，其根据所述测光部以所述第二采样频率对所述测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量，算出所述规定的测定区域的闪烁量；以及/n校正部，其使用校正系数对所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171005 JP 2017-1951031.一种二维闪烁测定装置，其特征在于，具备：
测光部，其具有以第一采样频率对二维区域进行测光的第一功能、和以高于所述第一采样频率的第二采样频率对比所述二维区域小的区域进行测光的第二功能；
第一计算部，其根据所述测光部以所述第一采样频率对测定对象物进行测光而得到的所述测定对象物的测光量，算出所述测定对象物中设定的多个测定区域各自的闪烁量；
第二计算部，其根据所述测光部以所述第二采样频率对所述测定对象物中设定的规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量，算出所述规定的测定区域的闪烁量；以及
校正部，其使用校正系数对所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量进行校正，所述校正系数由所述第二计算部算出的闪烁量、和根据所述测光部以所述第一采样频率对所述规定的测定区域进行测光而得到的所述规定的测定区域的测光量算出的所述规定的测定区域的闪烁量而规定。
2.根据权利要求1所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
还具备预先存储在测定所述多个测定区域各自的闪烁量之前算出的所述校正系数的存储部；
所述校正部使用所述存储部中存储的所述校正系数校正所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量。
3.根据权利要求2所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
所述存储部预先存储根据所述测定对象物的驱动频率的值算出的多个所述校正系数；
所述校正部使用所述存储部中存储的多个所述校正系数中的、与所述测定对象物的驱动频率的值对应的所述校正系数，校正所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量。
4.根据权利要求2所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
还具备第一输入部；
所述存储部预先存储根据所述第一采样频率的值算出的多个所述校正系数；
在使用所述第一输入部指定了所述第一采样频率的值时，所述校正部使用所述存储部中存储的多个所述校正系数中的、与使用所述第一输入部指定的值对应的所述校正系数，校正所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量。
5.根据权利要求2所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
还具备第二输入部；
所述存储部预先存储根据所述测定对象物的驱动频率的值和所述第一采样频率的值的组合算出的多个所述校正系数；
在使用所述第二输入部指定了所述第一采样频率的值时，所述校正部使用所述存储部中存储的多个所述校正系数中的、与使用所述第二输入部指定的值和所述测定对象物的驱动频率的值的组合对应的所述校正系数，校正所述第一计算部算出的所述多个测定区域各自的闪烁量。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的二维闪烁测定装置，其特征在于，
所述测光部包括具有所述第一功能和所述第二功能的二维摄像元件；
所述第二功能是部分读出功能...
【专利技术属性】
技术研发人员：西川宜弘，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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