【技术实现步骤摘要】
一种真圆度检测用治具
本技术涉及真圆度检测工具
,尤其涉及一种真圆度检测用治具。
技术介绍
半导体设备中有一种氮化钽的物理沉积机台,机台中的部件下部防护罩(LOWERSHILED)因厚度较薄,且上部有一个开口,在清洗喷砂过程中存在变形的情况,因此,需要对清洗喷砂后的部件LOWERSHILED上部进行真圆度检测。但是,常规的检测采用游标卡尺对同一部件进行多次随机多点检测,检测费时费力,检测效率低,同时存在较大的检测误差,无法满足检测部件的使用需求。
技术实现思路
本技术旨在解决现有技术的不足,而提供一种真圆度检测用治具。本技术为实现上述目的,采用以下技术方案:一种真圆度检测用治具,包括检测工作台,其特征在于,所述检测工作台呈正方形板结构,所述检测工作台的四周对应设有若干安装孔,所述安装孔内同轴设有螺栓,所述检测工作台的底部四周设有若干与所述安装孔一一对应的立柱,所述检测工作台通过所述螺栓与所述立柱固接,所述检测工作台的中心设有圆形开口结构,所述圆形开口结构内同轴设有环形检测台,所述环形 ...
【技术保护点】
1.一种真圆度检测用治具,包括检测工作台(1),其特征在于,所述检测工作台(1)呈正方形板结构,所述检测工作台(1)的四周对应设有若干安装孔,所述安装孔内同轴设有螺栓(3),所述检测工作台(1)的底部四周设有若干与所述安装孔一一对应的立柱(4),所述检测工作台(1)通过所述螺栓(3)与所述立柱(4)固接,所述检测工作台(1)的中心设有圆形开口结构,所述圆形开口结构内同轴设有环形检测台(2),所述环形检测台(2)的外壁与所述圆形开口结构的内壁固接,所述环形检测台(2)低于所述检测工作台(1)的上表面。/n
【技术特征摘要】
1.一种真圆度检测用治具,包括检测工作台(1),其特征在于,所述检测工作台(1)呈正方形板结构,所述检测工作台(1)的四周对应设有若干安装孔,所述安装孔内同轴设有螺栓(3),所述检测工作台(1)的底部四周设有若干与所述安装孔一一对应的立柱(4),所述检测工作台(1)通过所述螺栓(3)与所述立柱(4)固接,所述检测工作台(1)的中心设有圆形开口结构,所述圆形开口结构内同轴设有环形检测台(2),所述环形检测台(2)的外壁与所述圆形开口结构...
【专利技术属性】
技术研发人员:穆帅帅,张代龙,
申请(专利权)人:富乐德科技发展天津有限公司,
类型:新型
国别省市:天津;12
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