硅片分选机制造技术

技术编号:24157061 阅读:49 留言:0更新日期:2020-05-15 23:13
本实用新型专利技术涉及一种硅片分选机,包括:硅片传送装置;脏污检测工位,具有用以扫描硅片的脏污模组;控制系统,用以接收所述脏污模组的扫描信息,并根据所述脏污模组的扫描信息判断硅片是否存在碎片异常;以及待复测硅片收集容器,与所述硅片传送装置对接,以收集被检测为存在碎片异常的硅片。上述硅片分选机,控制系统可以通过脏污模组扫描硅片获得的信息,判断硅片是否存在碎片异常。检测为存在碎片异常的硅片收集至待复测硅片收集容器内,以避免具有脏污的硅片因漏检而被误判为合格品,从而有效提高检测合格的硅片的良率。

【技术实现步骤摘要】
硅片分选机
本技术涉及硅片分选领域,特别是涉及一种硅片分选机。
技术介绍
硅片分选机用以在硅片制作完成后对硅片进行检测,其中包括对表面脏污的硅片进行筛选。一般的,通过脏污模组对硅片进行扫描。脏污模组将扫描信息传递给控制系统,控制系统根据脏污模组的扫描信息判断硅片表面是否存在脏污现象。然而,在硅片的生产、清洗或运输等过程中,难以避免的会导致硅片碎片现象。当破碎的硅片部分或全部落在脏污模组上时,必将遮挡光源,导致具有脏污现象的硅片难以被检测到,影响检测合格的硅片的良率。
技术实现思路
基于此,有必要提供一种可以有效提高检测合格的硅片的良率的硅片分选机。一种硅片分选机,包括:硅片传送装置;脏污检测工位,具有用以扫描硅片的脏污模组;以及控制系统,用以接收所述脏污模组的扫描信息,并根据所述脏污模组的扫描信息判断硅片是否存在碎片异常;以及待复测硅片收集容器,与所述硅片传送装置对接,以收集被检测为存在碎片异常的硅片。上述硅片分选机,控制系统可以通过脏污模组扫描硅片获得的信息,判断硅片是否本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种硅片分选机,其特征在于,包括:/n硅片传送装置;/n脏污检测工位,具有用以扫描硅片的脏污模组;/n控制系统,用以接收所述脏污模组的扫描信息,并根据所述脏污模组的扫描信息判断硅片是否存在碎片异常;以及/n待复测硅片收集容器,与所述硅片传送装置对接,以收集被检测为存在碎片异常的硅片。/n

【技术特征摘要】
1.一种硅片分选机,其特征在于,包括:
硅片传送装置;
脏污检测工位,具有用以扫描硅片的脏污模组;
控制系统,用以接收所述脏污模组的扫描信息,并根据所述脏污模组的扫描信息判断硅片是否存在碎片异常;以及
待复测硅片收集容器,与所述硅片传送装置对接,以收集被检测为存在碎片异常的硅片。


2.根据权利要求1所述的硅片分选机,其特征在于,当连续预设个硅片被判断为存在碎片异常时,所述控制系统控制所述硅片分选机停机。


3.根据权利要求1所述的硅片分选机,其特征在于,所述脏污模组为电荷耦合器件图像传感器。


4.根据权利要求1所述的硅片分选机,其特征在于,还包括警报装置;当连续预设个硅片被检测为存在碎片异常时,所述控制系统可发送信号给所述警报装置以发出警报。


5.根据权利要求4所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋旭
申请(专利权)人:阜宁协鑫光伏科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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