【技术实现步骤摘要】
同光轴对位系统用的组合式二次成像视觉光源
本技术涉及光源
，特别涉及同光轴对位系统用的组合式二次成像视觉光源。
技术介绍
高精度对位系统需要对需要对位的2物件进行坐标定位，精度要求相当高。上下标记点的拍摄希望在同一光轴下完成，需要高精度的光路系统。同时被对位物件的材质会各种各样，需要能够对应的光源系统，获取高质量的图像。参见图1，图中所示的一种同光轴对位系统用的二次成像视觉光源，包括上凹透镜1、上环形光源2、上直角棱镜3、下直角棱镜4、下环形光源5、下凹透镜6，其中上直角棱镜3的斜面与下直角棱镜4的斜面胶合在一起形成一双胶合直角棱镜9，在上直角棱镜3正对成像相机7的直面3a上贴有全反射镀膜8，上环形光源2位于双胶合直角棱镜9上方，上凹透镜1位于上环形光源2上方，下环形光源5位于双胶合直角棱镜9的下方，下凹透镜6位于下环形光源5的下方。拍摄时，上方物件10放置在上凹透镜1的上方，下方物件11放置在下凹透镜6的下方。这样，上方物件10的反射光线10a经过上凹透镜1、上直角棱镜3以及双胶合直角棱镜9的胶合面9a折射后...
【技术保护点】
1.同光轴对位系统用的组合式二次成像视觉光源，包括上凹透镜、下凹透镜、上环形光源、下环形光源，所述上凹透镜位于所述上环形光源的上方，所述下凹透镜位于所述下环形光源的下方，其特征在于，还包括位于所述上环形光源与所述下环形光源之间并由上而下依次叠加的上双胶合直角棱镜、四合棱镜、下双胶合直角棱镜；测量时，位于所述上凹透镜上方的上方物件的光路经过所述上凹透镜、上双胶合直角棱镜直射入所述四合棱镜中并经过所述四合棱镜中的上折射面直角折射后直射穿过所述四合棱镜后直射入成像相机内成像，位于所述下凹透镜下方的下方物件的光路经过所述下凹透镜、下双胶合直角棱镜直射入所述四合棱镜中并经过所述四合棱...
【技术特征摘要】
1.同光轴对位系统用的组合式二次成像视觉光源，包括上凹透镜、下凹透镜、上环形光源、下环形光源，所述上凹透镜位于所述上环形光源的上方，所述下凹透镜位于所述下环形光源的下方，其特征在于，还包括位于所述上环形光源与所述下环形光源之间并由上而下依次叠加的上双胶合直角棱镜、四合棱镜、下双胶合直角棱镜；测量时，位于所述上凹透镜上方的上方物件的光路经过所述上凹透镜、上双胶合直角棱镜直射入所述四合棱镜中并经过所述四合棱镜中的上折射面直角折射后直射穿过所述四合棱镜后直射入成像相机内成像，位于所述下凹透镜下方的下方物件的光路经过所述下凹透镜、下双胶合直角棱镜直射入所述四合棱镜中并经过所述四合棱镜中的下折射面直角折射后直射穿过所述四合棱镜后直射入成像相机内成像。
2.如权利要求1所述的同光轴对位系统用的组合式二次成像视觉光源，其特征在于，所述位于所述上凹透镜上方的上方物件的光路经过所述上凹透镜、上双胶合直角棱镜直射入所述四合棱镜中的光路与所述位于所述下凹透镜下方的下方物件的光路经过所述下凹透镜、下双胶合直角棱镜直射入所述四合棱镜中的光路同轴；所述经过所述四合棱镜中的上折射面直角折射后直射穿过所述四合棱镜后直射入成像相机内成像的光路与所述经过所述四合棱镜中的下折射面直角折射后直射穿过所述四合棱镜后直射入成像相机内成像的光路平行。
3.如权利要求1或2所述的同光轴对位系统用的组合式二次成像视觉光源，其特征在于，所述上双胶合直角棱镜和所述下双胶合直角棱镜均由一个上直角棱镜与一个下直角棱镜胶合而成，其中上直角棱镜和下直角棱镜的胶合面为上直角棱镜的斜面和下直角棱镜的斜面。
4.如权利要求3所述的同光轴对位系统用的组合式二次成像视觉光源，其特征在于，所述四合棱镜由四块形状和尺寸完全相同的直角三角棱镜胶合而成，四块直角三角形棱镜的直角互为补角；四块直角三角棱镜分为上直角三角棱镜、下直角三角棱镜、左直角三角棱镜和右直角三角棱镜，所述上折射面由所述上直角三角棱镜和右直角三角棱镜两者相贴的直面组合而成；所述下折射面由所述下直角三角棱镜和右直角三角棱镜两者相贴的直面组合而成。
5.如权利要求1或2所述的同光轴对位系统用的组合式二次成像视觉光源，其特征在于，还包...
【专利技术属性】
技术研发人员：邵幼平，童雷，
申请(专利权)人：上海创波光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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