一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备及检测方法技术

技术编号:24102006 阅读:62 留言:0更新日期:2020-05-09 13:28
一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备及检测方法,在其检测设备中设置上料装置、供料盘组件、侧壁检测装置、主面检测装置、分类收纳盒和机械手;所述上料装置逐个将待检测工件输送至供料盘组件的供料转盘上;在供料盘组件中还设有供料电机,通过供料电机驱动供料转盘旋转;所述侧壁检测装置的旋转架由旋转架电机驱动运转,并通过升降机构驱动激光检测器上下移动;所述主面检测装置中分检盘由分检盘电机驱动运转,旋转吸嘴由旋转吸嘴电机驱动运转,主面照相机置于分检盘上方。采用本发明专利技术所述检测设备及检测方法对SMD型谐振器石英晶片进行外观检测,达到了提高检测结果可靠性、保证石英晶片符合设计要求、实现检测工序与生产线节拍一致性的目的。

An SMD resonator quartz wafer appearance inspection equipment and method

【技术实现步骤摘要】
一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备及检测方法
本专利技术涉及一种检测设备及检测方法,尤其是一种匹配SMD型谐振器的石英晶片外观检测设备及检测方法。
技术介绍
谐振器主要起频率控制的作用,所有涉及频率的发射和接收的电子产品都需要配置谐振器,谐振器按照装配方式可以分为直插(带有引线)和贴片式(无引线的SMD型谐振器)两种。目前随着电子产品不断向小型化方向快速发展,为之配套的元器件也呈现小型化发展态势,因此SMD型谐振器在中高端电子产品领域备受青睐。石英晶体不仅具有压电效应,而且还具有优良的机械特性、电学特性和温度特性,用它设计制作的谐振器在稳频和选频方面都有突出的优点。石英晶片是石英晶体中的核心部件,不同切型的石英晶片电学特性和温度特性各异,其中AT切石英晶片存在较大的频率热过冲现象,幅频效应较大,不能满足部分频点或特殊要求,而FC、SC切石英晶片与AT切石英晶片比较虽然优点很多,但现有技术中FC、SC切石英晶片均为圆形晶片,采用直插上架方式,难以匹配SMD型谐振器的安装结构。为解决上述问题,SC、FC切型矩形石英晶片应运而生,而为了满本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,沿工件行进方向依次设置上料装置(1)、供料盘组件(2)、侧壁检测装置、主面检测装置和分类收纳盒(11),在供料盘组件(2)、侧壁检测装置和主面检测装置上方设置机械手(4);所述上料装置(1)逐个将待检测工件输送至供料盘组件(2)的供料转盘(2-2)上;在所述供料盘组件(2)中还设有供料电机(2-1),通过供料电机(2-1)驱动供料转盘(2-2)旋转;所述侧壁检测装置包括旋转组件(5)和检测器组件(6),在所述旋转组件(5)中,旋转架(5-2)由旋转架电机(5-1)驱动运转,在检测器组件(6)中设置激光检测器(6-1)、升降机构和支撑架(6-...

【技术特征摘要】
1.一种SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,沿工件行进方向依次设置上料装置(1)、供料盘组件(2)、侧壁检测装置、主面检测装置和分类收纳盒(11),在供料盘组件(2)、侧壁检测装置和主面检测装置上方设置机械手(4);所述上料装置(1)逐个将待检测工件输送至供料盘组件(2)的供料转盘(2-2)上;在所述供料盘组件(2)中还设有供料电机(2-1),通过供料电机(2-1)驱动供料转盘(2-2)旋转;所述侧壁检测装置包括旋转组件(5)和检测器组件(6),在所述旋转组件(5)中,旋转架(5-2)由旋转架电机(5-1)驱动运转,在检测器组件(6)中设置激光检测器(6-1)、升降机构和支撑架(6-6),所述激光检测器(6-1)与旋转架(5-2)相对布置,通过安装在支撑架(6-6)上的升降机构驱动激光检测器(6-1)上下移动;所述主面检测装置包括主面照相机(9)、分检盘组件(8)和旋转吸嘴组件(10),所述分检盘组件(8)设有分检盘(8-2)和分检盘电机(8-1),所述分检盘(8-2)由分检盘电机(8-1)驱动运转,所述旋转吸嘴组件(10)设有旋转吸嘴(10-1)和旋转吸嘴电机(10-2),所述旋转吸嘴(10-1)由旋转吸嘴电机(10-2)驱动运转,所述主面照相机(9)置于分检盘(8-2)上方。


2.根据权利要求1所述的SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,所述侧壁检测装置中升降机构包括升降电机(6-5)、减速器(6-3)、丝杠(6-4)和螺母升降块(6-2);所述升降电机(6-5)固定在支撑架(6-6)上,其动力输出端与减速器(6-3)连接;所述减速器(6-3)的输出轴与丝杠(6-4)固定装配;所述丝杠(6-4)与螺母升降块(6-2)配合组成丝杠螺母传动单元;所述螺母升降块(6-2)与激光检测器(6-1)固定装配。


3.根据权利要求1或2所述的SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,所述上料装置(1)包括上料架(1-5)、振动电机(1-1)、凸轮(1-2)、储料盘(1-3)和复位弹簧(1-4);所述储料盘(1-3)的出料口处设有导料槽,储料盘(1-3)的出料口与供料盘组件(2)的供料转盘(2-2)对接,储料盘(1-3)底面中部通过销轴(1-6)与上料架(1-5)铰接装配,在储料盘(1-3)底面另一端与上料架(1-5)之间安装复位弹簧(1-4);所述振动电机(1-1)固定在上料架(1-5)上,在其输出轴上安装凸轮(1-2)。


4.根据权利要求3所述的SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,所述储料盘(1-3)底面为便于工件向出料口滑动的倾斜面。


5.根据权利要求4所述的SMD型谐振器石英晶片外观检测设备,其特征是,所述机械手(4)包括左右移动组件、前后移动组件、升降组件和吸头(4-7);所述左右移动组件设有左右移动导轨(4-1)和左右移动滑块(4-2),所述左右移动导轨(4-1)固定安装在外观检测设备机架上,在左右移动导轨(4-1)上配装左右移动滑块(4-2);所述前后移动组件包括前后移动导轨(4-3)和前后移动滑块(4-4),所述前后移动导轨(4-3)与左右移动滑块(4-2)固定装配,在前后移动导轨(4-3)上配装前后移动滑块(4-4);所述升降组件包括升降导轨(4-5)和升降滑块(4-6),所述升降导轨(4-5)固定在前后移动滑块(4-4)底部,在升降导轨(4-5)上配装升降滑块(4-6);所述吸头(4-7)固定在升降滑块(4-6)的底部,吸头(4-7)与生产线的真空系统管路连接。


6.根据权利要求1所述的SMD型谐...

【专利技术属性】
技术研发人员:张淼郑玉南狄建兴周志勇周荣伟
申请(专利权)人:唐山国芯晶源电子有限公司
类型:发明
国别省市:河北;13

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