用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置，包括测试底座和固定在测试底座上的测试支架，测试支架的上端安装有一用于放置待测芯片的测试夹具和一环绕于测试夹具设置的线圈基座；测试夹具与两排金手指电连接，线圈基座可旋转，其上设有一组彼此平行的双线圈，线圈基座和测试支架之间设有一个固定于线圈基座底部的齿轮，齿轮通过皮带与磁性开关连接。本发明专利技术的用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置采用一组可旋转线圈通过旋转的方式，以在2D平面霍尔芯片量产测试时，通过一次机械手的送料，可以同时完成X轴和Y轴两个轴向的磁通量测试，并避免芯片无法运送到测试夹具的问题，而不需要重新上分选机再测一次，提高了测试效率。

Magnetic flux testing device for 2D planar Hall chip

【技术实现步骤摘要】
用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置
本专利技术涉及磁通量测试装置，具体涉及一种用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置。
技术介绍
霍尔传感器是磁电效应的一种，当电流以垂直于外磁场的方向通过位于该磁场中的导体时，在导体的垂直于磁场和电流方向的两个端面之间会出现电势差，这种现象叫做霍尔效应。霍尔传感器即是利用霍尔元件基于霍尔效应原理而将被测量的物理量(如电流、磁场、位移、压力等)转换成电动势输出的一种传感器。其结构简单，体积小，无触点，可靠性高，易微型化，因此，在测量技术中得到了广泛的应用。在霍尔产品的生产过程中，需要对霍尔产品进行磁通量的测试。目前在2D平面的霍尔产品(如霍尔芯片)的磁通量测试中，通常通过对被测的霍尔芯片施加外磁场的方法实现对其磁通量的测试。由于需要测试X轴和Y轴方向的磁通量，一般采用一组双线圈加磁场测试X轴，另一组双线圈测试Y轴，双线圈加磁方法是将双线圈安装与测试夹具两边，将待测芯片平行放置于两线圈之间(如图4所示)，双线圈水平放置，线圈中间会产生一个均匀的平行于芯片表面的磁场，形成的磁力线为直线，两线圈产生的磁场平行穿本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置(10)，其安装于一封装测试分选机(100)上，所述封装测试分选机(100)包括工作台(101)和位于工作台(101)上方的转盘(102)，其特征在于，包括一测试底座(1)和固定在所述测试底座(1)上的测试支架(2)，所述测试支架(2)的上端安装有一用于放置待测芯片的测试夹具(3)和一环绕于所述测试夹具(3)设置的线圈基座(5)；测试夹具(3)与两排金手指(7)电连接，所述线圈基座(5)可旋转，其上设有一组彼此平行的双线圈(6)，所述线圈基座(5)和测试支架(2)之间设有一个固定于线圈基座(5)底部的齿轮(51)，齿轮(51)通过一皮带(52)与一磁...

【技术特征摘要】
1.一种用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置(10)，其安装于一封装测试分选机(100)上，所述封装测试分选机(100)包括工作台(101)和位于工作台(101)上方的转盘(102)，其特征在于，包括一测试底座(1)和固定在所述测试底座(1)上的测试支架(2)，所述测试支架(2)的上端安装有一用于放置待测芯片的测试夹具(3)和一环绕于所述测试夹具(3)设置的线圈基座(5)；测试夹具(3)与两排金手指(7)电连接，所述线圈基座(5)可旋转，其上设有一组彼此平行的双线圈(6)，所述线圈基座(5)和测试支架(2)之间设有一个固定于线圈基座(5)底部的齿轮(51)，齿轮(51)通过一皮带(52)与一磁性开关(53)连接。


2.根据权利要求1所述的用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置，其特征在于，所述测试夹具(3)位于双线圈(6)的中心线的中点上，且所述双线圈(6)的中心线在磁性开关(53)未开启时平行于所述待测芯片的表面。


3.根据权利要求1所述的用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置，其特征在于，所述测试底座(1)安装在所述工作台(101)上，且在测试时所述转盘(102)上的吸嘴(103)位于所述测试夹具(3)的正上方。


4.根据权利要求3所述的用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置，其特征在于，所述双线圈(6)包括两个大小相等、线圈匝数相等、且轴心共线的线圈，所述双线圈(6)的间距大于所述吸嘴(103)及其固定部件的尺寸...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：上海灿瑞科技股份有限公司，浙江恒拓电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31