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本发明提供一种用于2D平面霍尔芯片的磁通量测试装置，包括测试底座和固定在测试底座上的测试支架，测试支架的上端安装有一用于放置待测芯片的测试夹具和一环绕于测试夹具设置的线圈基座；测试夹具与两排金手指电连接，线圈基座可旋转，其上设有一组彼此平行...该专利属于上海灿瑞科技股份有限公司;浙江恒拓电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海灿瑞科技股份有限公司;浙江恒拓电子科技有限公司授权不得商用。