一种芯片的老化测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电子技术领域，提供了一种芯片的老化测试装置，该芯片的老化测试装置包括第一电源模块、第二电源模块、信号激励模块及测试板；第一电源模块包括第一预设数目个第一电源单元，测试板上设置有晶振模块、第一预设数目个第一指示模块及第一预设数目个用于放置待测芯片的测试夹具，每个第一电源单元为与其连接的测试夹具中的待测芯片进行供电，每个第一指示模块基于与其连接的测试夹具的测试端输出的测试信号，输出用于标识待测芯片工作状态的工作状态指示信号。上述芯片的老化测试装置为每个待测芯片分别配置了独立的电源，即每个待测芯片由与其连接的第一电源单元独立供电，从而能够使得多个待测芯片之间的老化测试过程互不影响。

An aging test device for chips

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的老化测试装置
本技术属于电子
，尤其涉及一种芯片的老化测试装置。
技术介绍
为了确保芯片的可靠性，在芯片被制造出来之后，往往需要对其进行老化测试，老化测试是为了检测芯片在高温下的使用寿命。现有的芯片老化测试装置是通过同一电源对多个待测芯片进行供电，这样，当其中一颗待测芯片异常时会影响电源对其他待测芯片的正常供电，进而导致其他芯片无法正常测试。
技术实现思路
有鉴于此，本技术实施例提供了一种芯片的老化测试装置，旨在解决现有的芯片老化测试装置由于采用同一电源对多个待测芯片进行供电，进而导致其中一颗待测芯片异常时其他待测芯片无法正常测试的问题。本技术实施例的提供了一种芯片的老化测试装置，包括：第一电源模块、第二电源模块、信号激励模块及测试板；所述第一电源模块包括第一预设数目个第一电源单元，所述测试板上设置有晶振模块、第一预设数目个第一指示模块及第一预设数目个用于放置待测芯片的测试夹具；每个所述第一电源单元的输出端分别与一个所述测试夹具的电源输入端连接，每个所述测试夹具的测试端分别与一个所述第一指示模块的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片的老化测试装置，其特征在于，包括：第一电源模块、第二电源模块、信号激励模块及测试板；所述第一电源模块包括第一预设数目个第一电源单元，所述测试板上设置有晶振模块、第一预设数目个第一指示模块及第一预设数目个用于放置待测芯片的测试夹具；/n每个所述第一电源单元的输出端分别与一个所述测试夹具的电源输入端连接，每个所述测试夹具的测试端分别与一个所述第一指示模块的输入端连接，每个所述测试夹具的时钟输入端分别与所述晶振模块的一个输出端连接，所述晶振模块的电源端与所述第二电源模块的第一输出端连接，所述晶振模块的输入端与所述信号激励模块的输出端连接，所述信号激励模块的电源端与所述第二电源模块的第二输...

【技术特征摘要】
1.一种芯片的老化测试装置，其特征在于，包括：第一电源模块、第二电源模块、信号激励模块及测试板；所述第一电源模块包括第一预设数目个第一电源单元，所述测试板上设置有晶振模块、第一预设数目个第一指示模块及第一预设数目个用于放置待测芯片的测试夹具；
每个所述第一电源单元的输出端分别与一个所述测试夹具的电源输入端连接，每个所述测试夹具的测试端分别与一个所述第一指示模块的输入端连接，每个所述测试夹具的时钟输入端分别与所述晶振模块的一个输出端连接，所述晶振模块的电源端与所述第二电源模块的第一输出端连接，所述晶振模块的输入端与所述信号激励模块的输出端连接，所述信号激励模块的电源端与所述第二电源模块的第二输出端连接；
每个所述第一电源单元为与其连接的所述测试夹具中的待测芯片进行供电，所述第二电源模块为所述信号激励模块及所述晶振模块供电，所述信号激励模块为所述晶振模块提供时钟激励信号，所述晶振模块为每个所述测试夹具中的待测芯片提供时钟信号，每个所述第一指示模块基于与其连接的所述测试夹具的测试端输出的测试信号，输出用于标识所述待测芯片工作状态的工作状态指示信号；所述工作状态指示信号用于确定所述待测芯片的正常工作时长。


2.根据权利要求1所述的芯片的老化测试装置，其特征在于，所述晶振模块包括第二预设数目个晶振单元；其中，所述第一预设数目为所述第二预设数目的整数倍；
所有所述晶振单元的输出端构成所述晶振模块的输出端，所有所述晶振单元的输入端构成所述晶振模块的输入端，所有所述晶振单元的电源端构成所述晶振模块的电源端。


3.根据权利要求1或2所述的芯片的老化测试装置，其特征在于，所述第一电源单元包括：电池、低压差线性稳压器、第一电容、第二电容、第一发光二极管及第一电阻；
所述低压差线性稳压器的输入脚与所述第一电容的第一端共接于所述电池的正极...

【专利技术属性】
技术研发人员：林先海，高峰，许祥滨，
申请(专利权)人：泰斗微电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44