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本实用新型涉及电子技术领域，提供了一种芯片的老化测试装置，该芯片的老化测试装置包括第一电源模块、第二电源模块、信号激励模块及测试板；第一电源模块包括第一预设数目个第一电源单元，测试板上设置有晶振模块、第一预设数目个第一指示模块及第一预设数目...
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