一种磁片初定位方法技术

本发明专利技术公开了一种磁片初定位方法，包括如下步骤：步骤S1，将磁片图像输入到一分割神经网络进行图像特征提取，得到磁片图像对应的分割图；步骤S2，根据磁片区域在磁片图像上的真实所处区域，对磁片图像上的磁片区域中的各像素点赋予第一像素标签，对磁片图像上的非磁片区域中的各像素点赋予第二像素标签；步骤S3，根据步骤S2的标签赋予结果，计算步骤S1中的分割神经网络输出分割图的交叉熵损失；步骤S4，根据步骤S3计算的交叉熵损失，调整用于识别磁片图像的分割模型的训练参数；步骤S5，根据调整的训练参数对分割模型进行更新训练，得到经更新后的分割模型，本发明专利技术提高了对磁片区域的识别精度。

A method of initial positioning of magnetic disk

【技术实现步骤摘要】
一种磁片初定位方法
本专利技术涉及图像识别
，尤其涉及一种用于对磁片图像中的磁片区域进行定位检测的磁片初定位方法。
技术介绍
磁片缺陷检测应用场景中，需要首先将磁片的所处区域从磁片图像(磁片图像包含非磁片区域的其他图像，比如背景图像)中识别出来，然后将磁片区域从磁片图像中裁切出来后续再进行进一步的缺陷分析。现有出磁片区域检测主要有以下两种方法：1、基于传统的计算机图像识别技术判断出磁片在磁片图像中的区域位置。该方法存在识别速度慢的缺点。而且当识别场景更换后需要更改识别规则，识别过程繁琐、不方便，并且误检率也较高。2、基于深度学习的识别算法对磁片区域进行像素级的分割。该方法存在的缺点是，当磁片图像中存在多个磁片区域时，或者多个磁片区域间的间距较小时，难以对各磁片区域进行有效区分，而且当磁片区域不完整时无法检测出该磁片区域存在的异常情况。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种磁片初定位方法，以解决上述技术问题。为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：提供一种磁片初定位方法，用于对磁片图像中的磁片区域进行定位检测，该方法包括如下步骤：步骤S1，将磁片图像输入到一分割神经网络进行图像特征提取，得到所述磁片图像对应的分割图，所述分割图上显示有所述磁片区域在所述磁片图像中的疑似所处区域；步骤S2，根据所述磁片区域在所述磁片图像上的真实所处区域，对所述磁片图像上的所述磁片区域中的各像素点赋予第一像素标签，对所述磁片图像上的非所述磁片区域中的各像素点赋予第二像素标签；步骤S3，根据所述步骤S2的标签赋予结果，计算所述步骤S1中的所述分割神经网络输出所述分割图的交叉熵损失；步骤S4，根据步骤S3计算的交叉熵损失，调整用于识别所述磁片图像的分割模型的训练参数；步骤S5，根据调整的所述训练参数对所述分割模型进行更新训练，得到经更新后的所述分割模型，所述分割模型用于识别所述磁片图像上的所述磁片区域。作为本专利技术的一种优选方案，所述步骤S2中，所述第一像素标签为所述磁片图像上的所述磁片区域中的各所述像素点对应的第一像素值，对所述第一像素值赋值为1；所述第二像素标签为所述磁片图像上的非所述磁片区域中的各所述像素点对应的第二像素值，对所述第二像素值赋值为0。作为本专利技术的一种优选方案，所述步骤S2中，还包括对所述磁片图像上的所述磁片区域的区域边缘线上的各像素点进行标签标注，所述区域边缘线的线宽为5个像素，对所述区域边缘线上的各所述像素点对应的像素值赋值为1。作为本专利技术的一种优选方案，所述步骤S2中，还包括对所述磁片图像上的所述磁片区域的磁片角点上的各像素点进行标签标注，对所述磁片角点上的各所述像素点进行标签标注的方法具体包括如下步骤：步骤L1，在各所述磁片角点位置处建立一圆，对所述圆的圆心赋予第三像素标签，所述第三像素标签对应的像素值为M，所述圆的半径为磁片长度L的固定缩小倍数P；步骤L2，根据所述步骤L1确定的所述圆心对应的所述像素值M，和所述圆的圆周范围内的各像素点与所述圆心的位置距离，计算所述圆周范围内的各像素点对应的标签像素值。作为本专利技术的一种优选方案，所述步骤L1中，所述圆心对应的所述像素值M为10。作为本专利技术的一种优选方案，所述固定缩小倍数P为1％。作为本专利技术的一种优选方案，所述步骤L2中，通过以下公式计算得到所述圆周范围内的各所述像素点对应的所述标签像素值：Vxy＝10-r2；上式中，Vxy用于表示所述圆周范围内位于(x，y)坐标的像素点对应的所述标签像素值；r用于表示坐标上的各所述像素点与对应的所述圆的所述圆心之间的距离，r≤L*0.01。作为本专利技术的一种优选方案，所述磁片区域形状为方形，所述磁片角点为所述磁片区域的顶点。本专利技术充分考虑了磁片区域的区域边缘、磁片角点等具有显著性磁片特征的特点，通过为磁片区域的区域边缘、区域内各像素点以及磁片角点区域赋予相应的标签，然后根据所赋予的标签值计算对磁片图像检测的交叉熵损失，并根据交叉熵损失计算结果，调整用于识别磁片图像的分割模型的训练参数，这样训练而得的分割模型将具备更高地识别精度，能够检测出磁片区域可能存在的不完整等异常情况。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一实施例所述的磁片初定位方法的方法步骤图；图2是对磁片区域的磁片角点进行标签标注的方法步骤图。具体实施方式下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本专利技术的技术方案。其中，附图仅用于示例性说明，表示的仅是示意图，而非实物图，不能理解为对本专利的限制；为了更好地说明本专利技术的实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。本专利技术实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本专利技术的描述中，需要理解的是，若出现术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。在本专利技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，若出现术语“连接”等指示部件之间的连接关系，该术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个部件内部的连通或两个部件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。本专利技术实施例提供的一种磁片初定位方法，用于对磁片图像中的磁片区域进行定位检测，请参照图2，该方法包括如下步骤：步骤S1，将磁片图像输入到一分割神经网络进行图像特征提取，得到磁片图像对应的分割图，分割图上显示有磁片区域在磁片图像中的疑似所处区域；步骤S2，根据磁片区域在磁片图像上的真实所处区域，对磁片图像上的磁片区域中的各像素点赋予第一像素标签，对磁片图像上的非磁片区域中的各像素点赋予第二像素标签；步骤S3，根据步骤S2的标签赋予结果，计算步骤S1中的分割神经网络输出分割图的交叉熵损失；步骤S4，根据步骤S3计算的交叉熵损失，调整用于识别磁片图像的分割模型的训练参数；步骤S5，根据调整的训练参数对分割模型进行更新训练，得到经更新后的分割模型，分割模型用于识别磁片图像中的磁片区域。上述技术方案中，步骤S1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁片初定位方法，用于对磁片图像中的磁片区域进行定位检测，其特征在于，包括如下步骤：/n步骤S1，将磁片图像输入到一分割神经网络进行图像特征提取，得到所述磁片图像对应的分割图，所述分割图上显示有所述磁片区域在所述磁片图像中的疑似所处区域；/n步骤S2，根据所述磁片区域在所述磁片图像上的真实所处区域，对所述磁片图像上的所述磁片区域中的各像素点赋予第一像素标签，对所述磁片图像上的非所述磁片区域中的各像素点赋予第二像素标签；/n步骤S3，根据所述步骤S2的标签赋予结果，计算所述步骤S1中的所述分割神经网络输出所述分割图的交叉熵损失；/n步骤S4，根据步骤S3计算的交叉熵损失，调整用于识别所述磁片图像的分割模型的训练参数；/n步骤S5，根据调整的所述训练参数对所述分割模型进行更新训练，得到经更新后的所述分割模型，所述分割模型用于识别所述磁片图像上的所述磁片区域。/n

【技术特征摘要】
1.一种磁片初定位方法，用于对磁片图像中的磁片区域进行定位检测，其特征在于，包括如下步骤：
步骤S1，将磁片图像输入到一分割神经网络进行图像特征提取，得到所述磁片图像对应的分割图，所述分割图上显示有所述磁片区域在所述磁片图像中的疑似所处区域；
步骤S2，根据所述磁片区域在所述磁片图像上的真实所处区域，对所述磁片图像上的所述磁片区域中的各像素点赋予第一像素标签，对所述磁片图像上的非所述磁片区域中的各像素点赋予第二像素标签；
步骤S3，根据所述步骤S2的标签赋予结果，计算所述步骤S1中的所述分割神经网络输出所述分割图的交叉熵损失；
步骤S4，根据步骤S3计算的交叉熵损失，调整用于识别所述磁片图像的分割模型的训练参数；
步骤S5，根据调整的所述训练参数对所述分割模型进行更新训练，得到经更新后的所述分割模型，所述分割模型用于识别所述磁片图像上的所述磁片区域。


2.如权利要求1所述的磁片初定位方法，其特征在于，所述步骤S2中，所述第一像素标签为所述磁片图像上的所述磁片区域中的各所述像素点对应的第一像素值，对所述第一像素值赋值为1；
所述第二像素标签为所述磁片图像上的非所述磁片区域中的各所述像素点对应的第二像素值，对所述第二像素值赋值为0。


3.如权利要求1所述的磁片初定位方法，其特征在于，所述步骤S2中，还包括对所述磁片图像上的所述磁片区域的区域边缘线上的各像素点进行标签标注，所述区域边缘线的线宽为5个像素，对所述区域边缘线上...

【专利技术属性】
技术研发人员：张发恩，刘旭，
申请(专利权)人：创新奇智青岛科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37