一种移载装置及晶片自动测试机制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种移载装置及晶片自动测试机，属于晶片测试技术领域。移载装置包括：吸嘴组件，其包括吸嘴本体，所述吸嘴本体用于吸取对象物；第一基体，其上设有沿第一方向延伸的第一滑轨；第二基体，其上设有沿第二方向延伸的第二滑轨；所述第一方向与所述第二方向相互垂直；第一驱动组件，设于所述第一基体上，并被配置为驱动所述吸嘴组件沿所述第一滑轨移动；第二驱动组件，设于所述第二基体上，并被配置为驱动所述吸嘴组件和所述第一基体沿所述第二滑轨移动。一种晶片自动测试机，包括上述移载装置。本实用新型专利技术通过分别在第一基体和第二基体上设置第一滑轨和第二滑轨，实现吸嘴组件在第一方向及第二方向上的精确导向。

A transfer device and wafer automatic testing machine

【技术实现步骤摘要】
一种移载装置及晶片自动测试机
本技术涉及晶片测试
，尤其涉及一种移载装置及晶片自动测试机。
技术介绍
在自动测试机领域，需要设置移载机构对待测物体进行不同工位之间的移载，以提高测试的智能化、自动化程度，采用移载机构相比于人工取料上料能够显著提高测试的效率。但是现有的晶片自动测试机中，传统移载机构的稳定性和精确性较差，无法保证移载过程的稳定进行、以及移载机构对晶片或料盘的准确取料和下料。因此，亟待提供一种移载装置及晶片自动测试机解决上述问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种移载装置及晶片自动测试机，能够提高移载过程的稳定性和精确性。为实现上述目的，提供以下技术方案：一种移载装置，包括：吸嘴组件，其包括吸嘴本体，所述吸嘴本体用于吸取对象物；第一基体，其上设有沿第一方向延伸的第一滑轨；第二基体，其上设有沿第二方向延伸的第二滑轨；所述第一方向与所述第二方向相互垂直；第一驱动组件，设于所述第一基体上，所述第一驱动组件能够驱动所述吸嘴组件沿所述第一滑轨移动；第二驱本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种移载装置，其特征在于，包括：/n吸嘴组件(37)，其包括吸嘴本体(373)，所述吸嘴本体(373)用于吸取对象物；/n第一基体(31)，其上设有沿第一方向延伸的第一滑轨(311)；/n第二基体(32)，其上设有沿第二方向延伸的第二滑轨(321)；所述第一方向与所述第二方向相互垂直；/n第一驱动组件(33)，设于所述第一基体(31)上，所述第一驱动组件(33)能够驱动所述吸嘴组件(37)沿所述第一滑轨(311)移动；/n第二驱动组件(34)，设于所述第二基体(32)上，所述第二驱动组件(34)能够驱动所述吸嘴组件(37)和所述第一基体(31)沿所述第二滑轨(321)移动。/n

【技术特征摘要】
1.一种移载装置，其特征在于，包括：
吸嘴组件(37)，其包括吸嘴本体(373)，所述吸嘴本体(373)用于吸取对象物；
第一基体(31)，其上设有沿第一方向延伸的第一滑轨(311)；
第二基体(32)，其上设有沿第二方向延伸的第二滑轨(321)；所述第一方向与所述第二方向相互垂直；
第一驱动组件(33)，设于所述第一基体(31)上，所述第一驱动组件(33)能够驱动所述吸嘴组件(37)沿所述第一滑轨(311)移动；
第二驱动组件(34)，设于所述第二基体(32)上，所述第二驱动组件(34)能够驱动所述吸嘴组件(37)和所述第一基体(31)沿所述第二滑轨(321)移动。


2.根据权利要求1所述的移载装置，其特征在于，所述第一驱动组件(33)包括第一驱动源(331)、第一主动轮(332)、第一从动轮(333)、绕设于所述第一主动轮(332)与所述第一从动轮(333)上的第一传送带(334)和固定于所述第一传送带(334)上的第一皮带连接件(335)，所述第一皮带连接件(335)上连接有所述吸嘴本体(373)，所述第一驱动源(331)驱动所述第一传送带(334)转动，进而带动所述第一皮带连接件(335)和所述吸嘴本体(373)移动。


3.根据权利要求2所述的移载装置，其特征在于，所述第一皮带连接件(335)靠近所述第一滑轨(311)的一侧设有第一滑块(35)，所述第一滑块(35)滑动设于所述第一滑轨(311)上。


4.根据权利要求3所述的移载装置，其特征在于，所述第一基体(31)上设置至少两个所述第一滑轨(311)，所述第一皮带连接件(335)设有至少两个第一滑块(35)，每个所述第一滑块(35)均对应滑动设置于一个所述第一滑轨(311)上。


5.根据权利要求1所述的移载装置，其特征在于，所述第二驱动组件(34)包括第二驱动源(341)、第二主动轮(342)、第二从动轮(343)、...

【专利技术属性】
技术研发人员：范群意，
申请(专利权)人：范群意，
类型：新型
国别省市：广东;44