激光相位估计及校正制造技术

技术编号:23849029 阅读:33 留言:0更新日期:2020-04-18 07:45
本申请涉及激光相位估计及校正。在一个一般方面中,一种非暂时性计算机可读存储媒体可经配置以存储在被执行时造成处理器执行过程的指令。所述过程可包含:产生激光信号的区段,其中所述激光信号的所述区段具有持续时间;及基于所述激光信号而产生第一参考信号。所述过程可包含:基于所述第一参考信号而计算与所述持续时间的第一部分对应的第一相位偏差;及基于所述激光信号而产生第二参考信号。所述过程可包含:基于所述第二参考信号而计算与所述持续时间的第二部分对应的第二相位偏差;及基于所述第一相位偏差及所述第二相位偏差的组合而计算所述激光信号的所述区段的相位偏差。

Laser phase estimation and correction

【技术实现步骤摘要】
激光相位估计及校正分案申请的相关信息本案是分案申请。该分案的母案是申请日为2015年07月24日、申请号为201580045019.0、专利技术名称为“激光相位估计及校正”的专利技术专利申请案。相关申请案本申请案主张2015年7月23日申请的且标题为“激光相位估计及校正(LASERPHASEESTIMATIONANDCORRECTION)”的第14/807,508号美国申请案的优先权并是其接续申请案,其主张2014年7月25日申请的且标题为“激光相位估计及校正(LASERPHASEESTIMATIONANDCORRECTION)”的第62/028,911号美国临时申请案的优先权及权益,所述两个申请案的全文以引用的方式并入本文中。本申请案还主张2014年7月25日申请且标题为“激光相位估计及校正(LASERPHASEESTIMATIONANDCORRECTION)”的第62/028,911号美国临时申请案的优先权及权益,所述申请案的全文以引用的方式并入本文中。
本专利技术涉及一种多参考激光检测及测距(LIDAR)系统。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种设备,其包括:/n激光源,其经配置以产生激光信号;/n接收器,其经配置以基于取样时段而分析来自所述激光信号的反射信号;/n第一参考模块,其包含第一延时且经配置以基于所述激光信号而产生第一参考信号,所述第一延时是所述取样时段的第一整数倍;/n第二参考模块,其包含第二延时且经配置以基于所述激光信号而产生第二参考信号,所述第二延时是所述取样时段的第二整数倍,所述第二整数倍和所述第一整数倍互质;及/n相位检测器,其经配置以检测与由合成参考信号的延时产生的持续时间相关联的相位偏差,由所述延迟产生的所述持续时间是所述第一延迟和所述第二延迟的组合。/n

【技术特征摘要】
20140725 US 62/028,911;20150723 US 14/807,5081.一种设备,其包括:
激光源,其经配置以产生激光信号;
接收器,其经配置以基于取样时段而分析来自所述激光信号的反射信号;
第一参考模块,其包含第一延时且经配置以基于所述激光信号而产生第一参考信号,所述第一延时是所述取样时段的第一整数倍;
第二参考模块,其包含第二延时且经配置以基于所述激光信号而产生第二参考信号,所述第二延时是所述取样时段的第二整数倍,所述第二整数倍和所述第一整数倍互质;及
相位检测器,其经配置以检测与由合成参考信号的延时产生的持续时间相关联的相位偏差,由所述延迟产生的所述持续时间是所述第一延迟和所述第二延迟的组合。


2.根据权利要求1所述的设备,其中所述第一延迟和所述第二延迟的所述组合是基于第一整数因子和所述第一整数倍的乘积与第二整数因子和所述第二整数倍的乘积之和。


3.根据权利要求2所述的设备,其中所述第一整数因子和所述第二整数因子的和小于所述合成参考信号的取样时段的总数。


4.根据权利要求2所述的设备,其中所述第一整数因子和所述第二整数因子的和小于所述第一整数倍的绝对值和所述第二整数倍的绝对值之和。


5.根据权利要求1所述的设备,其中所述第一延迟和所述第二延迟的所述组合是基于所述第一整数倍和所述第二整数倍中的一者的近似值,以产生近似延迟。


6.根据权利要求5所述的设备,其中所述第一延迟和所述第二延迟的所述组合进一步基于第一整数因子和所述第一整数倍的所述近似值的乘积与第二整数因子和所述第二整数倍的乘积之和。


7.根据权利要求5所述的设备,其中所述第一延...

【专利技术属性】
技术研发人员:理查德·赛巴斯汀肯德尔·贝尔西
申请(专利权)人:DSCG史罗轩公司
类型:发明
国别省市:美国;US

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