记忆体晶片超频测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术为一种记忆体晶片超频测试装置，应用在两阶段的记忆体晶片测试制程中，筛检不同速度的记忆体晶片，包含第一测试盘、第二测试盘、第三测试盘、第四测试盘、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台以及机械手臂，机械手臂电性连接所述测试盘、定位暂存盘、预测试机台以及测试机台，预测试机台设置在定位暂存盘及测试机台的中间，对记忆体做第一阶段的测试及筛选，经过第一阶段预测试机台筛选通过的记忆体，将在测试机台进行完整的记忆体晶片测试。提高效率、准确度及减少误判。

Memory chip over frequency test device

【技术实现步骤摘要】
记忆体晶片超频测试装置
本技术有关于一种记忆体晶片超频测试装置，尤其是透过预测试机台对记忆体晶片做初步筛检，达到多速度分类的工程。
技术介绍
目前随着科技日新月异，各种记忆体也以不同形式应用于日常生活中，以使各种电子设备具备更多功能和操作性。例如个人电脑(PC)内常用的随机存取记忆体(RandomAccessMemory，RAM)，具备随时读写及高速度的特性，故常被做为作业系统或其他正在执行中的程式的临时资料之储存媒介。又可细分为，动态随机存取记忆体(DynamicRandomAccessMemory，DRAM)以及静态随机存取记忆体(StaticRandomAccessMemory，SRAM)。且在电竞产业近年来成长速度之快，其首要配备就是利用高阶电子设备，如：主机板、记忆体…等，作为获胜的标准配备，再搭配选手的智力、技巧的展现，而电竞选手在硬体配备选择上首重记忆体速度，因此，为制造出高速度记忆体，其需要提高对制程上的需求，也就是从颗粒测试着手，因为颗粒即为制造记忆体的重要原物料之一。在传统上，记忆体制程及测试的方法，采用大量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种记忆体晶片超频测试装置，其特征在于，应用在筛检不同速度的记忆体晶片，包含：/n至少一第一测试盘，放置待测试的记忆体晶片；/n至少一第二测试盘，放置等待降阶再测试的记忆体晶片；/n至少一第三测试盘，放置欲淘汰的记忆体晶片；/n至少一第四测试盘，放置测试完成分类的记忆体晶片；/n一定位暂存盘，该定位暂存盘分为一定位区以及一暂存区，该定位区用以调整记忆体晶片的排列；/n至少一预测试机台，且该预测试机台内设定有一预测试参数；/n多个测试机台；以及/n一机械手臂，该机械手臂用以抓取记忆体晶片，且该机械手臂电性连接该至少一第一测试盘、该至少一第二测试盘、该至少一第三测试盘、该至少一第四测试盘、该定...

【技术特征摘要】
1.一种记忆体晶片超频测试装置，其特征在于，应用在筛检不同速度的记忆体晶片，包含：
至少一第一测试盘，放置待测试的记忆体晶片；
至少一第二测试盘，放置等待降阶再测试的记忆体晶片；
至少一第三测试盘，放置欲淘汰的记忆体晶片；
至少一第四测试盘，放置测试完成分类的记忆体晶片；
一定位暂存盘，该定位暂存盘分为一定位区以及一暂存区，该定位区用以调整记忆体晶片的排列；
至少一预测试机台，且该预测试机台内设定有一预测试参数；
多个测试机台；以及
一机械手臂，该机械手臂用以抓取记忆体晶片，且该机械手臂电性连接该至少一第一测试盘、该至少一第二测试盘、该至少一第三测试盘、该至少一第四测试盘、该定位暂存盘、该至少一预测试机台以及所述测试机台；
其中该机械手臂从该第一测试盘抓取记忆体晶片至该定位暂存盘的该定位区，使记忆体晶片排列一致，再次抓取记忆体晶片移动至该至少一预测试机台，藉由该至少一预测试机台依据该预测试参数对记忆体晶片进行第一阶段筛检，通过第一阶段筛检的记忆体晶片由该机械手臂移动到该测试机台，对记忆体晶片进行完整晶片测试，该暂存区...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪康宁，
申请(专利权)人：全何科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71