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本实用新型为一种记忆体晶片超频测试装置，应用在两阶段的记忆体晶片测试制程中，筛检不同速度的记忆体晶片，包含第一测试盘、第二测试盘、第三测试盘、第四测试盘、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台以及机械手臂，机械手臂电性连接所述测试盘、定...
该专利属于全何科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过全何科技股份有限公司授权不得商用。

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