记忆体晶片超频测试方法技术

本发明专利技术为一种记忆体晶片超频测试方法，应用在两阶段的记忆体晶片测试制程中，筛检不同速度的记忆体晶片，包含测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台、机械手臂以及监控装置，测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台与机械手臂视为一个测试装置，而监控装置无线或有线连接测是装置，透过预测试机台做第一阶段筛选，且将资讯上传更新到监控装置，提供终端装置随时读取。藉此达到远端监控、自动化、提高效率、准确度及减少误判。判。判。

【技术实现步骤摘要】
记忆体晶片超频测试方法


[0001]本专利技术有关于一种记忆体晶片超频测试方法，尤其是透过预测试机台对记忆体晶片做初步筛检，并利用通讯装置或手持装置做远端监控，达到多速度分类的工程。

技术介绍

[0002]目前随着科技日新月异，各种记忆体也以不同形式应用于日常生活中，以使各种电子设备具备更多功能和操作性。例如个人电脑(PC)内常用的随机存取记忆体(Random Access Memory，RAM)，具备随时读写及高速度的特性，故常被做为作业系统或其他正在执行中的程式的临时资料的储存媒介。又可细分为，动态随机存取记忆体(Dynamic Random Access Memory，DRAM)以及静态随机存取记忆体(Static Random Access Memory，SRAM)。
[0003]且在电竞产业近年来成长速度之快，其首要配备就是利用高阶电子设备，如：主机板、记忆体
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等，作为获胜的标准配备，再搭配选手的智力、技巧的展现，而电竞选手在硬体配备选择上首重记忆体速度，因此，为制造出高速度记忆体，其需要提高对制程上的需求，也就是从颗粒测试着手，因为颗粒即为制造记忆体的重要原物料之一。
[0004]在传统上，记忆体制程及测试的方法，采用大量的人力进行颗粒的速度分类，且必须由低速开始筛检，若要检测出超频的记忆体，为了避免机台故障而造成的后续维修成本，采用大量人力的同时也代表耗费大量时间以及管理成本，而且人员的眼力及体力所造成的疲劳及误判也随之提升，都是需要突破及改进的地方。
专利技术内容
[0005]由于上述的问题，对于检测出超频记忆体，本专利技术的主要目的在于提供一种记忆体晶片超频测试方法，应用于筛检不同速度的记忆体晶片，两阶段的记忆体晶片测试制程中，在进行第一次测试(第一次筛选)之前，测试装置连线监控装置，并且设定预测试机台的第一阶段测试(预测试)参数。
[0006]将记忆体晶片先移动到定位区，再移动到预测试机台，在此预测试机台仅是做简易的通电测试，第一阶段测试(预测试)结束后，通过测试的记忆体亦即速度高于参数的记忆体将移动到测试机台，未通过的记忆体则分为两类，其中属于等待二次测试(降阶再测试)的记忆体，或属于短路欲淘汰的记忆体，藉此分类及筛选出特定速度的记忆体。
[0007]记忆体晶片超频测试方法包含测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台、机械手臂以及监控装置，机械手臂电性连接测试盘区、定位暂存盘、预测试机台以及测试机台，其中，测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台及机械手臂视为一个测试装置。
[0008]较佳而言，定位暂存盘可以分为两个区域，一部分为定位区，另一部分为暂存区，定位区设置的目的在于确保每一个被抓取的待测试记忆体排列整齐，透过定位区的特殊设计，使机械手臂再次抓取记忆体时可以准确定位在记忆体中间，而暂存区则用以存放准备进行下一阶段测试的记忆体。
[0009]预测试机台设置在定位暂存盘及测试机台的中间，对记忆体做第一阶段的测试及筛选，预测试机台内包含一微处理器(CPU)，直接控制预测试机台对记忆体做直流参数测试和交流参数测试，经过第一阶段预测试机台筛选通过的记忆体，将在测试机台进行完整的记忆体晶片测试。
[0010]较佳而言，监控装置可以是一个云端系统，且包含资料库以及终端装置，资料库接收来自预测试机台和测试机台的关于记忆体晶片测试的资讯，并对资讯做整理，提供终端装置随时读取，在接收到预测试机台或测试机台故障的资讯时，会触发警示讯号传送到终端装置。
[0011]本专利技术藉由改善传统制程带来的高人力成本及时间成本，取而代之的是透过自动化设备提高效率及减少误判，同时创新加入预测试的两阶段筛检，达到一次性分类多种速度的功效，甚至有别于传统的进行反向测试。
[0012]本专利技术同时结合监控装置(云端系统)，使得人力可以再大幅缩减，更进一步达到自动化，以及远端监控的目的，节省更多人力成本和时间成本。
附图说明
[0013]图1为本专利技术记忆体晶片超频测试方法实施例示意图；
[0014]图2为本专利技术定位暂存盘的详细示意图；
[0015]图3为本专利技术记忆体晶片超频测试方法的另一实施例示意图；以及
[0016]图4为本专利技术记忆体晶片超频测试方法的流程示意图。
[0017]其中，附图标记说明如下：
[0018]10
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测试盘区
[0019]20
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定位暂存盘
[0020]21
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定位区
[0021]22
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暂存区
[0022]30
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预测试机台
[0023]40
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测试机台
[0024]50
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机械手臂
[0025]60
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监控装置
[0026]61
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资料库
[0027]62
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终端装置
[0028]C
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记忆体晶片
具体实施方式
[0029]以下配合图示及附图标记对本专利技术的实施方式做更详细的说明，使本领域技术人员在研读本说明书后能据以实施。
[0030]本专利技术为一种记忆体晶片超频测试方法，其中，记忆体晶片超频测试方法较佳实施例请参阅图1，图1为本专利技术记忆体晶片超频测试方法实施例示意图，应用在包含记忆体晶片C、测试盘区10、定位暂存盘20、至少一预测试机台30、多个测试机台40、机械手臂50以及监控装置60，主要是用于测试记忆体速度以进行筛选及分类，其中，记忆体晶片C、测试盘
区10、定位暂存盘20、至少一预测试机台30、多个测试机台40及机械手臂50视为测试装置，测试装置与监控装置60以有线或无线方式连接。
[0031]进一步而言，测试盘区10上放置多个记忆体晶片C，记忆体晶片C透过机械手臂50的抓取在测试盘区10、定位暂存盘20、预测试机台30以及测试机台40之间移动，本专利技术的测试盘区10可以细分为三种，分别放置不同记忆体，测试盘区10分为放置待测试记忆体晶片C的第一测试盘，放置等待二次测试记忆体晶片C的第二测试盘，以及放置欲淘汰记忆体晶片C的第三测试盘，以及放置完成分类的记忆体晶片C的第四测试盘。
[0032]定位暂存盘20可以分为两个区域，如图2所示，一部分为定位区21，另一部分为暂存区22，机械手臂50将记忆体从测试盘区10中的第一测试盘11抓取并放置在定位暂存盘20的定位区21，定位区21设置的目的在于确保每一个被抓取的待测试记忆体排列整齐，因为机械手臂50从测试盘区10抓取记忆体的位置并不一定每一个都是在记忆体中间，因此需透过定位区21的特殊设计，使放在定位区21上的记忆体可以整齐排列，使机械手臂50再次抓取时可以准确定位在记忆体中间，而暂存区22则用以存放准本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种记忆体晶片超频测试方法，其特征在于，应用在两阶段的记忆体晶片测试制程中，包含：连线一测试装置与一监控装置；设定一预测试参数且储存于一预测试机台中；将所有待进行第一次筛选的记忆体晶片放置在一测试盘区上；一机械手臂将该测试盘区上的其中一排记忆体晶片抓取且移动至一定位暂存盘中的一定位区，进行定位亦即调整记忆体晶片的排列；该机械手臂将记忆体晶片移动至该预测试机台，该预测试机台对记忆体晶片通电测试，此阶段的预测试视为第一阶段测试；完成第一阶段测试后，该机械手臂将视记忆体晶片预测试的结果，将记忆体晶片移往不同地方，若记忆体晶片通过该预测试机台的预测试，则将记忆体晶片抓取到一测试机台进行第二阶段测试，此第二阶段测试为完整的晶片测试，若记忆体晶片未通过该预测试机台的预测试，则该机械手臂将记忆体晶片抓取回该测试盘区，等待降阶再测试，当所有的该测试机台都正在执行第二阶段测试时，该机械手臂便会将通过预测试的记忆体晶片先移放至该定位暂存盘中的一暂存区；经过完整晶片测试的第二阶段测试的记忆体晶片，即确定记忆体晶片的速度，得以完成记忆体晶片的分类；未通过预测试的记忆体晶片，在等待所有记忆体晶片都完成第一次筛选后，重新对该预测试机台设定新的预测试参数，重复上述的步骤流程进行降阶再测试；以及直到所有记忆体晶片完成筛选及分类...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪康宁，
申请(专利权)人：全何科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：