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本发明为一种记忆体晶片超频测试方法，应用在两阶段的记忆体晶片测试制程中，筛检不同速度的记忆体晶片，包含测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台、机械手臂以及监控装置，测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台与机械手臂...
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