一种电子元件测试用设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电子元件测试用设备，包括底座，所述底座的顶端边缘处固定有连接套筒，所述连接套筒的内侧插入有导柱，所述导柱的表面套设有调节块，所述调节块的内侧设置有调节板，所述调节块的内壁开设有与调节板相适配的弧形槽，所述调节板的内侧中点处固定有限位凸起，所述导柱的表面开设有与限位凸起相适配的边槽；通过设计的边槽和限位凸起，可以将调节板以及调节块的位置进行限位，从而保证后期调节的稳定性，避免在检测中，位置出现偏差的现象，保证加工的精度不受影响；通过设计的刮板，可以简单有效的将底座的表面进行清理，使用起来十分方便，相比较现有通过人工操作的方式工作效率更高。

A test equipment for electronic components

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件测试用设备
本技术属于电子元件测试
，具体涉及一种电子元件测试用设备。
技术介绍
电子元件，是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点，电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路，在对电子元件的生产上，需要通过特定的设备进行检测，以保证产品的合格率。现有的电子元件测试设备在使用时仍然存在一些不足之处：现有的测试设备在调节高度中，由于没有任何可以进行限位的结构，容易出现位置的偏差，导致在后期测量中，精度得不到有效的保证，因此实际使用中存在较大的局限性。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种电子元件测试用设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种电子元件测试用设备，包括底座，所述底座的顶端边缘处固定有连接套筒，所述连接套筒的内侧插入有导柱，所述导柱的表面套设有调节块，所述调节块的内侧设置有调节板，所述调节块的内壁开设有与调节板相适配的弧形槽，所述调节板的内侧中点处固定有限位凸起，所述导柱的表面开设有与限位凸起相适配的边槽，所述调节块的外部贯穿连接有旋紧螺母，所述旋紧螺母的端部嵌入调节板的表面内部。优选的，所述底座的表面开设有滑槽，所述底座的顶端面上放置有刮板，所述刮板的一端固定有贯穿至底座内部的连接块，所述连接块的端部固定有与其相垂直的拨动块，所述拨动块贯穿滑槽至底座的外部。优选的，所述底座的顶端面开设有与连接块相适配的条形槽。优选的，所述调节块的一侧安装有检测目镜，所述检测目镜为圆柱体结构。优选的，所述检测目镜的顶端固定有无线传输模块，所述无线传输模块与外部设备无线连接。优选的，所述底座的底端四角处固定有支脚，所述支脚为圆柱体结构。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1.通过设计的边槽和限位凸起，可以将调节板以及调节块的位置进行限位，从而保证后期调节的稳定性，避免在检测中，位置出现偏差的现象，保证加工的精度不受影响；2.通过设计的刮板，可以简单有效的将底座的表面进行清理，使用起来十分方便，相比较现有通过人工操作的方式工作效率更高。附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为本技术调节块与导柱的连接剖视图；图3为本技术图2中A区域的放大示意图；图4为本技术刮板的结构示意图。图中：1、无线传输模块；2、检测目镜；3、刮板；4、底座；5、连接套筒；6、滑槽；7、调节块；8、导柱；9、调节板；10、旋紧螺母；11、边槽；12、限位凸起；13、拨动块；14、连接块。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。实施例1请参阅图1至图3，本技术提供一种技术方案：一种电子元件测试用设备，包括底座4，底座4的顶端边缘处固定有连接套筒5，连接套筒5的内侧插入有导柱8，导柱8的表面套设有调节块7，调节块7的内侧设置有调节板9，调节块7的内壁开设有与调节板9相适配的弧形槽，调节板9的内侧中点处固定有限位凸起12，导柱8的表面开设有与限位凸起12相适配的边槽11，调节块7的外部贯穿连接有旋紧螺母10，旋紧螺母10的端部嵌入调节板9的表面内部，通过设计的边槽11和限位凸起12，可以将调节板9以及调节块7的位置进行限位，从而保证后期调节的稳定性，避免在检测中，位置出现偏差的现象，保证加工的精度不受影响。本实施例中，优选的，调节块7的一侧安装有检测目镜2，检测目镜2为圆柱体结构。本实施例中，优选的，检测目镜2的顶端固定有无线传输模块1，无线传输模块1与外部设备无线连接。本实施例中，优选的，底座4的底端四角处固定有支脚，支脚为圆柱体结构。实施例2请参阅图1至图4，本技术提供一种技术方案：一种电子元件测试用设备，包括底座4，底座4的顶端边缘处固定有连接套筒5，连接套筒5的内侧插入有导柱8，导柱8的表面套设有调节块7，调节块7的内侧设置有调节板9，调节块7的内壁开设有与调节板9相适配的弧形槽，调节板9的内侧中点处固定有限位凸起12，导柱8的表面开设有与限位凸起12相适配的边槽11，调节块7的外部贯穿连接有旋紧螺母10，旋紧螺母10的端部嵌入调节板9的表面内部，通过设计的边槽11和限位凸起12，可以将调节板9以及调节块7的位置进行限位，从而保证后期调节的稳定性，避免在检测中，位置出现偏差的现象，保证加工的精度不受影响。本实施例中，优选的，底座4的表面开设有滑槽6，底座4的顶端面上放置有刮板3，刮板3的一端固定有贯穿至底座4内部的连接块14，连接块14的端部固定有与其相垂直的拨动块13，拨动块13贯穿滑槽6至底座4的外部，通过设计的刮板3，可以简单有效的将底座4的表面进行清理，使用起来十分方便，相比较现有通过人工操作的方式工作效率更高。本实施例中，优选的，底座4的顶端面开设有与连接块14相适配的条形槽。本实施例中，优选的，调节块7的一侧安装有检测目镜2，检测目镜2为圆柱体结构。本实施例中，优选的，检测目镜2的顶端固定有无线传输模块1，无线传输模块1与外部设备无线连接。本实施例中，优选的，底座4的底端四角处固定有支脚，支脚为圆柱体结构。本技术的工作原理及使用流程：本技术在使用时，先将需要检测的电子元件放置在检测目镜2的正下方，随后通过检测目镜2对电子元件进行检测，在检测前，可以根据加工的需求对检测目镜2的高度进行调节，在调节中，先转动旋紧螺母10，随后旋紧螺母10带动调节板9向导柱8的表面贴合，在旋紧螺母10的持续转动中，调节板9紧贴在导柱8的内壁，以此将调节块7的位置固定，由于检测目镜2处于调节块7的一侧，此时检测目镜2的高度同样出现调节，在整个调节过程中，限位凸起12始终处于边槽11的内侧，从而对调节板9的位置固定，由于调节板9的位置固定，旋紧螺母10又贯穿调节块7与调节板9连接，从而保证调节块7的位置不会发生变化，在检测中，通过无线传输模块1将检测的信号传输至无线传输模块1内，通过无线传输模块1将信号传输至外部显示设备上，当加工完成后，拨动拨动块13，随后拨动块13在滑槽6的内侧滑动，而连接块14在底座4的内部滑动，通过连接块14带动刮板3在底座4的顶端面上移动，以此对底座4表面的灰尘进行清理。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件测试用设备，包括底座(4)，所述底座(4)的顶端边缘处固定有连接套筒(5)，所述连接套筒(5)的内侧插入有导柱(8)，所述导柱(8)的表面套设有调节块(7)，其特征在于：所述调节块(7)的内侧设置有调节板(9)，所述调节块(7)的内壁开设有与调节板(9)相适配的弧形槽，所述调节板(9)的内侧中点处固定有限位凸起(12)，所述导柱(8)的表面开设有与限位凸起(12)相适配的边槽(11)，所述调节块(7)的外部贯穿连接有旋紧螺母(10)，所述旋紧螺母(10)的端部嵌入调节板(9)的表面内部。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子元件测试用设备，包括底座(4)，所述底座(4)的顶端边缘处固定有连接套筒(5)，所述连接套筒(5)的内侧插入有导柱(8)，所述导柱(8)的表面套设有调节块(7)，其特征在于：所述调节块(7)的内侧设置有调节板(9)，所述调节块(7)的内壁开设有与调节板(9)相适配的弧形槽，所述调节板(9)的内侧中点处固定有限位凸起(12)，所述导柱(8)的表面开设有与限位凸起(12)相适配的边槽(11)，所述调节块(7)的外部贯穿连接有旋紧螺母(10)，所述旋紧螺母(10)的端部嵌入调节板(9)的表面内部。


2.根据权利要求1所述的一种电子元件测试用设备，其特征在于：所述底座(4)的表面开设有滑槽(6)，所述底座(4)的顶端面上放置有刮板(3)，所述刮板(3)的一端固定有贯穿至底座(4)内部的连接块(14)...

【专利技术属性】
技术研发人员：祝宇琳，孟庆川，呼大永，李志刚，树彬，鲁子元，
申请(专利权)人：黑龙江省网络空间研究中心，
类型：新型
国别省市：黑龙;23